[發(fā)明專利]一種手持測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011605237.4
• 申請(qǐng)日: 2020-12-30
• 公開（公告）號(hào): CN112666928B
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 魏哲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海磊躍自動(dòng)化設(shè)備有限公司
• 主分類號(hào): G05B23/02
• 分類號(hào): G05B23/02
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 32102
• 代理人: 蔣慧妮

本發(fā)明揭示了一種手持測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)方法，該方法包括以下步驟：S1：對(duì)手持測(cè)試儀內(nèi)的芯片進(jìn)行復(fù)位，得到系統(tǒng)運(yùn)行的確定狀態(tài)；S2：對(duì)S1步驟得到的系統(tǒng)運(yùn)行確定狀態(tài)后的手持測(cè)試儀進(jìn)行初始化后，然后對(duì)初始化后的手持測(cè)試儀進(jìn)行自檢，通過(guò)軟件檢測(cè)復(fù)位有無(wú)完成；S3：對(duì)手持測(cè)試儀界面進(jìn)行顯示，處于等待前臺(tái)任務(wù)狀態(tài)，后臺(tái)處理其他事務(wù)；S4：對(duì)S3步驟得到的手持測(cè)試儀進(jìn)行檢查，看是否有按鍵輸入信號(hào)值。本技術(shù)方案能夠摒棄傳統(tǒng)測(cè)試臺(tái)的大體積，單獨(dú)抽離出電壓信號(hào)，可以對(duì)控制器脫扣時(shí)間進(jìn)行精確的測(cè)量。相對(duì)于傳統(tǒng)的模擬信號(hào)臺(tái)的輸入信號(hào)操作，直接精確到1mV的方式進(jìn)行輸入信號(hào)，精準(zhǔn)快捷效率高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種手持測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)方法，可用于智能控制器測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

框架斷路器ACB的互感器產(chǎn)生信號(hào)，一般為小電壓信號(hào)，為了測(cè)試控制器，通常要模擬互感器產(chǎn)生的信號(hào)對(duì)控制器進(jìn)行測(cè)試。現(xiàn)有技術(shù)通常是通過(guò)大電流測(cè)試臺(tái)或信號(hào)發(fā)生器測(cè)試臺(tái)等設(shè)備模擬對(duì)控制器進(jìn)行測(cè)試，1.通過(guò)時(shí)間繼電器等無(wú)法精確的測(cè)試時(shí)間；2.體積大不方便；3.不能對(duì)控制器進(jìn)行供電。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的就是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問(wèn)題，提出一種手持測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)方法。

本發(fā)明的目的將通過(guò)以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)：一種手持測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)方法，該方法包括以下步驟：

S1：對(duì)手持測(cè)試儀內(nèi)的芯片進(jìn)行復(fù)位，得到系統(tǒng)運(yùn)行的確定狀態(tài)；

S2：對(duì)S1步驟得到的系統(tǒng)運(yùn)行確定狀態(tài)后的手持測(cè)試儀進(jìn)行初始化后，然后對(duì)初始化后的手持測(cè)試儀進(jìn)行自檢，通過(guò)軟件檢測(cè)復(fù)位有無(wú)完成；

S3：對(duì)手持測(cè)試儀界面進(jìn)行顯示，處于等待前臺(tái)任務(wù)狀態(tài)，后臺(tái)處理其他事務(wù)；

S4：對(duì)S3步驟得到的手持測(cè)試儀進(jìn)行檢查，看是否有按鍵輸入信號(hào)值；

S5：如有按鍵輸入信號(hào)值，則調(diào)整手持測(cè)試儀內(nèi)的數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片輸出，如無(wú)按鍵輸入信號(hào)值，則進(jìn)入循環(huán)等待；

S6：對(duì)S5步驟中的手持測(cè)試儀進(jìn)行取點(diǎn)執(zhí)行時(shí)間判斷，如果取樣間隔時(shí)間到，則進(jìn)行取點(diǎn)，如取點(diǎn)數(shù)目等于設(shè)定數(shù)目，則N點(diǎn)取點(diǎn)完成，將取點(diǎn)狀態(tài)恢復(fù)，準(zhǔn)備下一次，如取點(diǎn)數(shù)目和設(shè)定數(shù)目不一致，則返回S6步驟，

S7：波形準(zhǔn)備，相別選定，

如波形與已選相別相匹配則輸出到對(duì)應(yīng)相，手持測(cè)試儀開始計(jì)時(shí)，檢測(cè)手持測(cè)試儀內(nèi)的引腳是否已接收到狀態(tài)改變；

如手持測(cè)試儀內(nèi)的引腳已接收到狀態(tài)改變，則計(jì)時(shí)停止，彈出顯示，然后檢查按鍵，恢復(fù)S3步驟，

如檢測(cè)手持測(cè)試儀內(nèi)的引腳沒(méi)有接收到狀態(tài)改變，則時(shí)間溢出，彈出超時(shí)界面，提醒檢查接線，然后檢查按鍵，恢復(fù)S3步驟。

優(yōu)選地，在所述S5步驟中，按鍵輸入信號(hào)值范圍為0~300mv。

優(yōu)選地，在所述S6步驟中，取點(diǎn)數(shù)目為64或128，設(shè)定數(shù)目為64。

優(yōu)選地，在所述S6步驟中，取樣間隔為312.5us。

優(yōu)選地，在所述S7步驟中，控制器有四個(gè)相別，分別為A相、B相、C相、N相，每個(gè)相別分別對(duì)應(yīng)同一個(gè)波形，

優(yōu)選地，控制器選擇不同的相別后，波形會(huì)進(jìn)入不同的通道，A通道，B通道，C通道或N通道其中的一個(gè)通道。

本發(fā)明技術(shù)方案的優(yōu)點(diǎn)主要體現(xiàn)在：1.本技術(shù)方案能夠摒棄傳統(tǒng)測(cè)試臺(tái)的大體積，單獨(dú)抽離出電壓信號(hào)，可以對(duì)控制器脫扣時(shí)間進(jìn)行精確的測(cè)量。2.相對(duì)于傳統(tǒng)的模擬信號(hào)臺(tái)的輸入信號(hào)操作，直接精確到1mV的方式進(jìn)行輸入信號(hào)，精準(zhǔn)快捷效率高，且因?yàn)槭菙?shù)字化產(chǎn)生的模擬信號(hào)，精度高，不產(chǎn)生畸變。