[發明專利]一種基于功率檢測的多通道信號同步方法及系統

在審

• 申請號: 202011596436.3
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112737591A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 滕明坤
• 申請（專利權）人: 蘇州匾福光電科技有限責任公司
• 主分類號: H03M1/34
• 分類號: H03M1/34;H03M1/50
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 李斯

一種基于功率檢測的多通道信號同步方法及系統，涉及多通道信號同步技術領域，包括于所有通道上分別順序設置可調數字延遲模塊、數模轉換器以及可調模擬延遲模塊。可調數字延遲模塊，用于對所在調整通道進行樣點延遲值掃描實現樣點同步。可調模擬延遲模塊，用于樣點同步后，對所在調整通道進行相位延遲值掃描實現相位同步。樣點同步和相位同步的標準為：所在調整通道和參考通道合路后的輸出功率最大。本發明不依賴于DAC芯片提供同步功能，并采用閉環測量控制措施，從樣點同步和相位同步兩方面出發，解決多通道DAC輸出信號的同步問題。

技術領域

本發明涉及多通道信號同步技術領域，具體涉及一種基于功率檢測的多通道信號同步方法及系統。

背景技術

隨著現代無線電技術的發展，DAC(Digital to analog converter，數模轉換器)的時鐘頻率隨著信號帶寬的提高不斷增加。在很多應用場景下，多路模擬信號需要較為嚴格的相位同步關系，因此需要對多通道DAC的輸出信號進行同步。對于高采樣率DAC，信號轉換和傳輸路徑中的元器件特性差異以及傳輸線的路徑差異會嚴重影響到多通道信號相互之間的相位關系。因此，多通道DAC同步問題也隨之產生，找到一種能在高采樣率的情況下精確實現多通道DAC輸出信號同步的方案成為當前的當務之急。

目前現有的多通道同步技術依賴于DAC芯片在設計之初預留的芯片間同步功能，而且大多只能達到樣點級同步，在需要相位級同步的場景下，其同步精度不足。當DAC芯片自身不提供芯片間同步功能時，需要采取外部同步措施來保證多通道DAC的同步，并且，當外部同步措施未能做到閉環測量控制，則單靠傳輸線等長等措施不足以保證輸出信號達到同步。

因此，需要在外部同步措施中加入閉環測量控制。在閉環測量控制過程中，需要測量多通道DAC信號是否同步，一般容易想到的是使用2個或多個具有同等或更高采樣率的ADC(Analog to digital converter，模數轉換器)進行采樣測量，并且這些ADC需要先進行精確同步。但是，由于高速ADC成本較高，ADC同步過程本身也是一個比較復雜的問題，而且，ADC采樣測量也只是能夠實現樣點同步，所以此方案成本較高且效果不佳。

綜上所述，目前亟需一種不同于傳統方案的多通道DAC信號同步方法，解決多通道DAC輸出信號的同步問題。

發明內容

針對現有技術中存在的問題，本發明的目的在于提供一種基于功率檢測的多通道信號同步方法及系統，以解決現有技術中同步精度不夠、同步成本較高的問題。

為達到以上目的，一方面，采取的技術方案是：

一種基于功率檢測的多通道信號同步方法，所述方法包括：

于所有通道上分別順序設置可調數字延遲模塊、數模轉換器以及可調模擬延遲模塊；

將任意一條通道設為參考通道，除參考通道外的其他通道設為調整通道，對每個調整通道均依次進行與參考通道的樣點同步和相位同步直至所有通道實現信號同步；

進行樣點同步時，對調整通道上的可調數字延遲模塊進行樣點延遲值掃描并記錄該調整通道和參考通道合路后的輸出功率，輸出功率最大時該調整通道與參考通道實現樣點同步；

進行相位同步時，對調整通道上的可調模擬延遲模塊進行相位延遲值掃描并記錄該調整通道和參考通道合路后的輸出功率，輸出功率最大時該調整通道與參考通道實現相位同步。

優選的，利用可調數字延遲模塊對調整通道進行樣點同步時，將所有通道的可調模擬延遲模塊的相位延遲值以及參考通道上的可調數字延遲模塊的樣點延遲值設為固定值；