[發明專利]電子元器件外殼缺陷檢測方法及系統

在審

• 申請號: 202011594022.7
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112730440A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 呂宏峰;王小強;羅軍;劉磊
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 郭鳳杰

本發明涉及電子元器件檢測技術領域，公開了一種電子元器件外殼缺陷檢測方法及系統。所述方法包括將待測電子元器件移動至檢測區域，獲取所述電子元器件的第一表面圖像信息；使所述電子元器件旋轉預設角度，獲取所述電子元器件的第二表面圖像信息；根據所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷。分別對電子元器件外殼上下表面是否存在表面缺陷進行判斷。通過獲取電子元器件的表面圖像信息，同時在多重算法的協助下，對電子元器件表面是否存在缺陷進行判斷，減少人為的參與程度和主觀性，使檢測更加客觀，極大的提高了檢測效率和精度，可以長時間連續工作，從而滿足高強度任務需求。

技術領域

本發明涉及電子元器件檢測技術領域，特別是涉及一種電子元器件外殼缺陷檢測方法及系統。

背景技術

電子元器件是航空航天、交通運輸、消費電子等各類系統中大量使用的基礎元件，而電子元器件的外殼在大批量的生產過程中，可能會由于各種因素的影響，導致外觀出現不同的缺陷。如劃痕、污漬等缺陷可能會破壞外殼標記，造成裝配不便或使用錯誤；而外殼上的氣泡、凹陷、裂縫以及引出端裂縫等缺陷則容易造成產品的使用故障，給使用設備帶來嚴重的安全隱患。此前大多數生產單位和檢測機構采用人工或半自動的方法對多類型外殼外觀進行檢測，其效率低、精度不高。

發明內容

基于此，有必要針對人工或半自動的方法對多類型外殼外觀進行檢測的檢測效率低、精度低的問題，提供一種電子元器件外殼缺陷檢測方法及系統。

一種電子元器件外殼缺陷檢測方法，包括將待測電子元器件移動至檢測區域，獲取所述電子元器件的第一表面圖像信息；使所述電子元器件旋轉預設角度，獲取所述電子元器件的第二表面圖像信息；根據所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷。

上述電子元器件外殼缺陷檢測方法，將待測的電子元器件移動至檢測區域，從而獲取該電子元器件的第一表面圖像信息。然后，再使該電子元器件旋轉預設角度，獲取第二表面圖像信息，從而能夠完成對電子元器件外殼不同角度的表面進行圖像獲取。對所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息進行圖像處理及分類，分別對電子元器件外殼上下表面是否存在表面缺陷進行判斷。利用圖像處理技術在多重算法的協助下，自動根據圖像信息對電子元器件表面是否存在缺陷進行判斷，減輕人工觀察的工作，減少人為的參與程度和主觀性，使檢測更加客觀，極大的提高了檢測效率和精度，特別適用于對大批量電子元器件的自動檢測，可以長時間連續工作，從而滿足高強度任務需求。

在其中一個實施例中，所述根據所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷，包括對所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息進行圖像處理；根據所述圖像處理的結果，結合圖形數據庫對所述電子元器件的外殼形貌進行分類識別，以判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷。

在其中一個實施例中，所述外殼形貌的分類類別包括多種表面缺陷類型。

在其中一個實施例中，在所述根據所述圖像處理的結果，結合圖形數據庫對所述電子元器件的外殼形貌進行分類識別后，所述方法還包括根據所述外殼形貌的類別，將所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像存儲至相應的圖像數據庫。

在其中一個實施例中，在根據所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷后，所述方法還包括若所述電子元器件存在表面缺陷，則將所述電子元器件移動至第一樣品區域；若所述電子元器件不存在表面缺陷，則將所述電子元器件移動至第二樣品區域。

在其中一個實施例中，使用圖像拼接算法和快速圖像濾波算法對所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息進行圖像處理，使用神經網絡識別算法和GAN分類算法結合圖形數據庫對所述電子元器件的外殼缺陷進行分類識別。

在其中一個實施例中，在完成對所述電子元器件的外殼缺陷檢測后，發出提示信息對檢測結果進行提示。