[發明專利]電子元器件外殼缺陷檢測方法及系統

在審

• 申請號: 202011594022.7
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112730440A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 呂宏峰;王小強;羅軍;劉磊
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 郭鳳杰

1.一種電子元器件外殼缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

將待測電子元器件移動至檢測區域，獲取所述電子元器件的第一表面圖像信息；

使所述電子元器件旋轉預設角度，獲取所述電子元器件的第二表面圖像信息；

根據所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷。

2.根據權利要求1所述的電子元器件外殼缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷，包括：

對所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息進行圖像處理；

根據所述圖像處理的結果，結合圖形數據庫對所述電子元器件的外殼形貌進行分類識別，以判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷。

3.根據權利要求2所述的電子元器件外殼缺陷檢測方法，其特征在于，所述外殼形貌的分類類別包括多種表面缺陷類型。

4.根據權利要求2所述的電子元器件外殼缺陷檢測方法，其特征在于，在所述根據所述圖像處理的結果，結合圖形數據庫對所述電子元器件的外殼形貌進行分類識別后，所述方法還包括：

根據所述外殼形貌的類別，將所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像存儲至相應的圖像數據庫。

5.根據權利要求1或2所述的電子元器件外殼缺陷檢測方法，其特征在于，在根據所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷后，所述方法還包括：

若所述電子元器件存在表面缺陷，則將所述電子元器件移動至第一樣品區域；

若所述電子元器件不存在表面缺陷，則將所述電子元器件移動至第二樣品區域。

6.根據權利要求2所述的電子元器件外殼缺陷檢測方法，其特征在于，使用圖像拼接算法和快速圖像濾波算法對所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息進行圖像處理，使用神經網絡識別算法和GAN分類算法結合圖形數據庫對所述電子元器件的外殼缺陷進行分類識別。

7.根據權利要求1所述的電子元器件外殼缺陷檢測方法，其特征在于，在完成對所述電子元器件的外殼缺陷檢測后，發出提示信息對檢測結果進行提示。

8.一種電子元器件外殼缺陷檢測系統，其特征在于，包括：

移動裝置，用于將待測電子元器件移動至檢測區域，使所述電子元器件旋轉預設角度；

視覺檢測裝置，用于獲取所述電子元器件的第一表面圖像信息，并在所述電子元器件旋轉預設角度后，獲取所述電子元器件的第二表面圖像信息；

分析裝置，分別與所述移動裝置和所述視覺檢測裝置相連接，用于根據所述第一表面圖像信息和所述第二表面圖像信息判斷所述電子元器件是否存在表面缺陷；所述分析裝置還用于輸出控制指令，所述移動裝置根據所述控制指令進行移動。

9.根據權利要求8所述的電子元器件外殼缺陷檢測系統，其特征在于，所述視覺檢測裝置包括：

照明裝置，用于提供穩定光照；

工業相機，用于經設定光路獲取所述電子元器件的表面圖像信息；所述照明裝置發出的光照入射到所述電子元器件的表面，經反射被所述工業相機收集并成像，形成所述電子元器件的表面圖像信息。

10.根據權利要求8所述的電子元器件外殼缺陷檢測系統，其特征在于，所述電子元器件外殼缺陷檢測系統還包括：

提示裝置，與所述分析裝置相連接，用于在完成對所述電子元器件的外殼缺陷檢測后，發出提示信息對檢測結果進行提示。