[發(fā)明專利]一種可觀測型微納米力學(xué)測試裝置及測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011586567.3 | 申請日: | 2020-12-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112611662A | 公開(公告)日: | 2021-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬增勝;孫坤;周益春 | 申請(專利權(quán))人: | 湘潭大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N3/42 | 分類號(hào): | G01N3/42;G01N3/06;G01N3/04;G01N3/02 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務(wù)所 11569 | 代理人: | 史云聰 |
| 地址: | 411105 *** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 觀測 納米 力學(xué) 測試 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開一種可觀測型微納米力學(xué)測試裝置及測試方法,涉及精密科學(xué)儀器技術(shù)領(lǐng)域;該裝置包括支撐組件、驅(qū)動(dòng)組件、載物組件和成像組件;所述驅(qū)動(dòng)組件和成像組件分別豎直設(shè)置于所述支撐組件上,所述載物組件水平設(shè)置于所述支撐組件上,且所述載物組件位于所述驅(qū)動(dòng)組件和成像組件下方;所述載物組件用于承載試樣和實(shí)現(xiàn)試樣的移動(dòng);所述驅(qū)動(dòng)組件用于驅(qū)動(dòng)壓頭在試樣上施加載荷,并使試樣產(chǎn)生壓痕;所述成像組件用于觀測并分析試樣上的壓痕?;诒景l(fā)明上述測試裝置所進(jìn)行的測試方法,能夠有效測量材料的力學(xué)性能參數(shù),結(jié)構(gòu)簡單,測量結(jié)果精度高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及精密科學(xué)儀器技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種可觀測型微納米力學(xué)測試裝置及測試方法。
背景技術(shù)
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,材料微觀尺度下的壓入實(shí)驗(yàn)已經(jīng)逐漸成為研究其力學(xué)性能的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn),并廣泛應(yīng)用于材料表面工程、微電子器件、金屬陶瓷測試、半導(dǎo)體研發(fā)、生物工程和醫(yī)學(xué)材料等領(lǐng)域。對比傳統(tǒng)力學(xué)性能測試手段,微壓入實(shí)驗(yàn)具有操作簡單、制樣簡單、測試內(nèi)容豐富、微損傷等顯著特點(diǎn),已被廣泛用于測試材料的硬度、模量、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、斷裂韌性以及蠕變松弛等特性。因此,著手研究可觀測性微納米力學(xué)測試設(shè)備,為測試材料的力學(xué)性能參數(shù)提供有效的方法及儀器,是我們亟待解決的方向。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種可觀測型微納米力學(xué)測試裝置及測試方法,以解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,能夠有效測量材料的力學(xué)性能參數(shù)。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了如下方案:
本發(fā)明提供一種可觀測型微納米力學(xué)測試裝置,包括支撐組件、驅(qū)動(dòng)組件、載物組件和成像組件;所述驅(qū)動(dòng)組件和成像組件分別豎直設(shè)置于所述支撐組件上,所述載物組件水平設(shè)置于所述支撐組件上,且所述載物組件位于所述驅(qū)動(dòng)組件和成像組件下方;所述載物組件用于承載試樣和實(shí)現(xiàn)試樣的移動(dòng);所述驅(qū)動(dòng)組件用于驅(qū)動(dòng)壓頭在試樣上施加載荷,并使試樣產(chǎn)生壓痕;所述成像組件用于觀測并分析試樣上的壓痕。
可選的,所述支撐組件包括支撐底板和支撐背板,所述支撐底板水平設(shè)置,所述支撐背板固定豎直設(shè)置于所述支撐底板頂部一側(cè);所述驅(qū)動(dòng)組件和成像組件設(shè)置于所述支撐背板上,所述載物組件設(shè)置于所述支撐底板上。
可選的,所述載物組件包括X軸精密滑臺(tái),所述X軸精密滑臺(tái)上水平滑動(dòng)設(shè)置有滑塊,所述滑塊頂部固定安裝有轉(zhuǎn)接板,所述轉(zhuǎn)接板頂部固定連接有夾臺(tái),所述夾臺(tái)用于夾持試樣;所述X軸精密滑臺(tái)底部固定設(shè)置于所述支撐底板上。
可選的,所述驅(qū)動(dòng)組件包括包括支撐模塊、精密下壓裝置、載荷檢測模塊和位移檢測模塊;所述支撐模塊包括懸臂梁和光柵固定架,所述光柵固定架固定安裝在水平設(shè)置的所述懸臂梁下部,所述精密下壓裝置固定連接在所述懸臂梁上,且所述精密下壓裝置的輸出軸豎直朝下設(shè)置,所述載荷檢測模塊螺紋固定連接在所述精密下壓裝置的輸出軸下端,所述位移檢測模塊固定連接在所述光柵固定架上,所述載荷檢測模塊下端固定連接有壓頭固定器,所述壓頭固定器用于固定安裝壓頭;所述懸臂梁一端與所述支撐背板固定連接。
可選的,所述成像組件包括顯微鏡、顯微鏡支架和Z軸滑臺(tái);所述顯微鏡采用頂絲固定在所述顯微鏡支架頂部,所述顯微鏡支架底部一側(cè)通過螺栓固定在所述Z軸滑臺(tái)上,所述Z軸滑臺(tái)通過螺栓固定在所述支撐背板上。
可選的,所述精密下壓裝置為直線步進(jìn)電機(jī),所述精密下壓裝置通過螺栓固定連接在所述懸臂梁上;所述載荷檢測模塊為力傳感器,所述力傳感器頂部通過轉(zhuǎn)接頭與所述精密下壓裝置連接,所述力傳感器底部與所述壓頭固定器連接;所述位移檢測模塊包括光柵尺和光柵讀數(shù)頭,所述光柵固定架上設(shè)有長圓孔,所述光柵讀數(shù)頭通過螺栓固定連接在所述光柵固定架的長圓孔上,所述光柵尺粘貼在所述壓頭固定器上,所述光柵尺與所述光柵讀數(shù)頭相對設(shè)置且所述光柵尺平行于所述光柵讀數(shù)頭。
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