[發(fā)明專利]倒裝芯片結(jié)構(gòu)及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011578844.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112687647A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳浩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 頎中科技(蘇州)有限公司;合肥奕斯偉封測(cè)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/488 | 分類號(hào): | H01L23/488;H01L21/60;G03F7/16 |
| 代理公司: | 蘇州威世朋知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 胡彭年 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 倒裝 芯片 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
1.一種倒裝芯片結(jié)構(gòu),包括基板、設(shè)置在基板上的金屬襯墊及與所述金屬襯墊相接觸的金屬種子層,其特征在于:所述倒裝芯片結(jié)構(gòu)還包括設(shè)置在所述金屬種子層上的凸塊,所述凸塊沿背離所述金屬種子層的方向呈逐漸增大設(shè)置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的倒裝芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:所述凸塊具有垂直于所述基板表面的倒梯形截面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的倒裝芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:所述凸塊的側(cè)壁面相對(duì)所述基板所在平面的夾角設(shè)置為60-80度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的倒裝芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:所述凸塊包括依次層疊設(shè)置在所述金屬種子層上的至少兩個(gè)金屬層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的倒裝芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:所述凸塊包括依次層疊設(shè)置在所述金屬種子層上的銅質(zhì)金屬層、金質(zhì)金屬層及鎳質(zhì)金屬層。
6.一種倒裝芯片結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:
提供基板,所述基板上設(shè)置有金屬襯墊及鈍化層,所述鈍化層開(kāi)設(shè)有窗口,以使所述金屬襯墊的部分表面暴露于窗口內(nèi);
在所述基板表面制備金屬種子層;
在金屬種子層表面制備光阻層;
對(duì)所述光阻層開(kāi)設(shè)凹槽,以使金屬種子層的既定區(qū)域向外暴露,且所述凹槽沿背離所述金屬種子層的方向呈逐漸增大設(shè)置;
在所述凹槽內(nèi)電鍍制得凸塊。
7.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于:所述凹槽設(shè)置呈喇叭口狀。
8.如權(quán)利要求6或7所述的制備方法,其特征在于:所述凹槽具有傾斜的內(nèi)側(cè)面,該內(nèi)側(cè)面相對(duì)基板表面的夾角設(shè)置為60-80度。
9.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于:所述凸塊的制備過(guò)程具體包括對(duì)所述凹槽內(nèi)部進(jìn)行清洗;再于所述凹槽內(nèi)依次制備銅質(zhì)金屬層、金質(zhì)金屬層及鎳質(zhì)金屬層,形成凸塊。
10.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于:在完成所述凸塊的制備后,依次去除所述光阻層以及所述既定區(qū)域周圍的金屬種子層。
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