[發明專利]一種光纖端面幾何測試纖芯注入光源控制方法

在審

• 申請號: 202011557785.4
• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號: CN112697393A
• 公開（公告）日: 2021-04-23
• 發明（設計）人: 于競雄;茅昕;胡遠鵬;張智恒;劉懋恂;熊壯
• 申請（專利權）人: 長飛光纖光纜股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01M11/02
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 胡建平;孫方旭

本發明公開了一種光纖端面幾何測試纖芯注入光源控制方法，通過調整單色儀對白光光源進行光譜篩選，選擇特定波長的輸出光作為光纖端面幾何芯層測試的注入光源；在特定波長附近精細調節注入光源波長，不同波長頻率的光在光纖中衰減不同，通過頻率調節控制光纖注入光強，直至光纖端面幾何測試設備能夠獲取清晰圖像并完成光纖芯層幾何測試。本發明方法用于在光纖生產測試環節，相比于現有光纖端面幾何測試設備的控制流程及方法，本發明能夠明顯提高光纖端面幾何測試設備測試效率，減少設備損耗器件，減少測試設備動作部件，降低設備故障率。

技術領域

本發明屬于光纖光纜生產測試技術領域，尤其涉及一種光纖端面幾何測試纖芯注入光源控制方法。

背景技術

在光纖生產環節，需要對光纖多個技術參數進行生產測試，以保證生產質量的穩定，比如端面幾何、截止波長、模場直徑、光纖衰耗、微彎宏彎等。其中，光纖端面幾何測試是一項非常重要且必須進行的測試項目，考慮到生產測試效率與設備利用率，端面幾何測試通常與截止波長、模場直徑等公用一套測試設備，通過不同光學組件和控制流程，分步完成各項技術參數的測試。

光纖端面幾何測試主要包括包層直徑、芯層直徑、包層不圓度、芯層不圓度、同心度等技術參數，這就需要在測試過程中將一定波長、一定強度的光源注入待測光纖一端，然后在光纖另外一端就可以獲得芯層照亮的圖像，通過圖像處理技術區分并測量光纖包層、芯層的各項技術參數，完成端面幾何測試。

當前設備在內部設置多個光源，比如作為光纖端面幾何測試注入光源的特定波長光源、截止波長測試用的白光光源和單色儀組件、光纖端面背光照明光源等，然后通過設備內部光路組件的運動控制，切換設備內部不同光源作為設備輸出，并耦合注入到光纖端面內，完成不同光纖參數的測試。比如在光纖端面幾何測試過程中，就需要啟動特定波長光源，通過控制反射鏡切換光學傳輸路徑，代替白光源和單色儀組成的光源，輸出設備并耦合注入到光纖端面中，完成待測光纖另一端的光纖芯層照明，調整特定波長光源強度直至完成光纖端面幾何圖像采集。

現有設備及方法存在的技術缺點為：光纖端面幾何測試需要設備內置專用光源，需要設備內置專用運動組件完成光源之間的切換，需要設計專用光學傳輸路徑配合設備內部光源傳輸，額外增加了設備測試不同光纖參數之間的運動控制邏輯，增加了設備運動部件，引入測試測量不確定度，增加設備器件損耗。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是，提供一種光纖端面幾何測試纖芯注入光源控制方法，能夠減少測試設備內部光源數量，減少設備內部光學傳輸路徑，減少測試部件運動控制，降低設備故障率并提高測試效率。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：提供一種光纖端面幾何測試纖芯注入光源控制方法，該方法包括以下步驟，

步驟一，待測光纖A端和B端，分別耦合進光纖測試設備輸出端和輸入端；

步驟二，測試設備通過控制內部白光源、單色儀、光學透鏡組，通過控制光學組件運動完成光學路徑切換，完成不涉及光纖芯層幾何圖像相關的參數測試流程；

步驟三，保持設備輸出端內部光學路徑及光學組件不動，僅將單色儀工作波長調整到預設波長；

步驟四，將設備輸入端內部光學路徑及光學組件切換到光纖端面幾何測試狀態，準備進行光纖B端端面圖像采集；

步驟五，調整單色儀輸出光源波長，直至單色儀輸出注入A端光纖纖芯內的光源使得光纖芯層實現滿注入狀態；

步驟五，采集光纖B端端面幾何圖像；

步驟六，運算光纖端面幾何參數，測試完成。

按上述技術方案，通過調節單色儀輸出光波長，將輸出光作為光纖注入光，點亮光纖芯層，進行光纖端面幾何測試，并根據不同波長注入光在光纖中衰耗不同，在工作波長附件調節中心波長，通過波長變動控制待測光纖端面芯層亮度(即注入光經過損耗之后的輸出光強度)。