[發(fā)明專利]一種無(wú)頻率損耗的集成電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011554491.6
• 申請(qǐng)日: 2020-12-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112671378B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-04-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 宋睿強(qiáng);邵津津;劉必慰;吳振宇;梁斌;池雅慶;陳建軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)人民解放軍國(guó)防科技大學(xué)
• 主分類號(hào): H03K5/13
• 分類號(hào): H03K5/13;H03K17/28;H03K19/094
• 代理公司: 湖南兆弘專利事務(wù)所(普通合伙) 43008
• 代理人: 胡君

1.一種無(wú)頻率損耗的集成電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固方法，其特征在于，步驟包括：

S1.觸發(fā)器獲取：獲取目標(biāo)集成電路中所有的觸發(fā)器；

S2.觸發(fā)器篩選：遍歷獲取的所有觸發(fā)器進(jìn)行判斷，每次判斷時(shí)對(duì)當(dāng)前觸發(fā)器所在的數(shù)據(jù)通路進(jìn)行靜態(tài)時(shí)序分析，計(jì)算出所述數(shù)據(jù)通路的時(shí)序余量，并計(jì)算將當(dāng)前觸發(fā)器替換為所需的加固觸發(fā)器后建立時(shí)間參數(shù)以及CLK-Q延時(shí)參數(shù)的增量值，所述CLK-Q延時(shí)參數(shù)為觸發(fā)器的時(shí)鐘端CLK到輸出端Q的延時(shí)，根據(jù)當(dāng)前觸發(fā)器對(duì)應(yīng)的時(shí)序余量與所述增量值之間的差值判斷當(dāng)前觸發(fā)器是否為所需篩選出的目的觸發(fā)器；

S3.觸發(fā)器加固：將步驟S2篩選出的所有目的觸發(fā)器替換為所述加固觸發(fā)器，得到加固后的集成電路；

所述步驟S2中，使用數(shù)據(jù)到達(dá)觸發(fā)器輸入端、輸出端所需要的最大到達(dá)時(shí)間，以及觸發(fā)器輸入端、輸出端必須要滿足的到達(dá)時(shí)間，分別計(jì)算數(shù)據(jù)到達(dá)當(dāng)前觸發(fā)器輸入端的第一時(shí)序余量以及數(shù)據(jù)到達(dá)當(dāng)前觸發(fā)器輸出端的第二時(shí)序余量；

所述步驟S2中，判斷當(dāng)前觸發(fā)器是否為所需篩選出的目的觸發(fā)器具體為：如果對(duì)應(yīng)建立延時(shí)參數(shù)的所述增量值小于當(dāng)前觸發(fā)器的第一時(shí)序余量T_D，slack，且所述CLK-Q延時(shí)參數(shù)的增量值小于第二時(shí)序余量T_Q，slack，則判定當(dāng)前觸發(fā)器為所需篩選出的目的觸發(fā)器，所述第一時(shí)序余量T_D，slack為數(shù)據(jù)到達(dá)當(dāng)前觸發(fā)器的輸入端D的時(shí)序余量，所述第二時(shí)序余量T_Q，slack為數(shù)據(jù)到達(dá)該觸發(fā)器輸出端Q的時(shí)序余量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)頻率損耗的集成電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固方法，其特征在于，所述計(jì)算數(shù)據(jù)到達(dá)當(dāng)前觸發(fā)器輸入端的第一時(shí)序余量的步驟包括：通過(guò)靜態(tài)時(shí)序分析，計(jì)算數(shù)據(jù)到達(dá)當(dāng)前觸發(fā)器的輸入端D所需要的第一最大到達(dá)時(shí)間T_D，arrive，以及計(jì)算當(dāng)前觸發(fā)器的輸入端D必須要滿足的第一到達(dá)時(shí)間T_D，require，根據(jù)所述第一最大到達(dá)時(shí)間T_D，arrive、第一到達(dá)時(shí)間T_D，require得到數(shù)據(jù)到達(dá)當(dāng)前觸發(fā)器的輸入端D的第一時(shí)序余量T_D，slack。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)頻率損耗的集成電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固方法，其特征在于，所述計(jì)算數(shù)據(jù)到達(dá)當(dāng)前觸發(fā)器輸出端的第二時(shí)序余量的步驟包括：通過(guò)靜態(tài)時(shí)序分析，計(jì)算數(shù)據(jù)從當(dāng)前觸發(fā)器的輸出端Q出發(fā)，到達(dá)下一級(jí)觸發(fā)器的輸入端D所需要的第二最大到達(dá)時(shí)間T_Q，arrive，以及計(jì)算數(shù)據(jù)從當(dāng)前觸發(fā)器的輸出端Q出發(fā)，到達(dá)下一級(jí)觸發(fā)器輸入端D必須要滿足的第二到達(dá)時(shí)間T_Q，require，根據(jù)所述第二最大到達(dá)時(shí)間T_Q，arrive、第二到達(dá)時(shí)間T_Q，require得到數(shù)據(jù)到達(dá)該觸發(fā)器輸出端Q的第二時(shí)序余量T_Q，slack。

4.根據(jù)權(quán)利要求1～3中任意一項(xiàng)所述的無(wú)頻率損耗的集成電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固方法，其特征在于，所述步驟S2中，所述增量值的具體計(jì)算步驟為：分別獲取當(dāng)前觸發(fā)器與所述加固觸發(fā)器的所述建立時(shí)間參數(shù)以及所述CLK-Q延時(shí)參數(shù)，將所述當(dāng)前觸發(fā)器與所述加固觸發(fā)器之間的所述建立時(shí)間參數(shù)相減，得到替換為所需的加固觸發(fā)器后建立時(shí)間參數(shù)的增量值ΔT_setup，以及將當(dāng)前觸發(fā)器與所述加固觸發(fā)器之間的所述CLK-Q延時(shí)參數(shù)相減，得到替換為所需的加固觸發(fā)器后CLK-Q延時(shí)參數(shù)的增量值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1～3中任意一項(xiàng)所述的無(wú)頻率損耗的集成電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固方法，其特征在于，所述加固觸發(fā)器具體選取與目標(biāo)集成電路中觸發(fā)器驅(qū)動(dòng)能力相同、具有抗單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)功能的觸發(fā)器。