[發(fā)明專利]射頻管殼的制備方法及射頻管殼有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011551749.7 | 申請日: | 2020-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN112687616B | 公開(公告)日: | 2022-07-01 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李仕俊;趙瑞華;唐曉赫;閆妍;徐達;楊彥鋒;張延青;張軍瑩;姜永娜;魏莉媛;董松松;苗潤清;尤兆寧;崔曉娜;曹曉寧 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第十三研究所 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L23/528 |
| 代理公司: | 石家莊國為知識產(chǎn)權事務所 13120 | 代理人: | 付曉娣 |
| 地址: | 050051 *** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射頻 管殼 制備 方法 | ||
本發(fā)明適用于微波組件技術領域,提供了一種射頻管殼的制備方法及射頻管殼,包括:在基板上濺射多層金屬得到第一種子層,在第一種子層上第一區(qū)域和第二區(qū)域上電鍍金分別制備金導體層;去除金導體層區(qū)域外的第一種子層,在第一區(qū)域與第二區(qū)域之間制備薄膜電阻,得到第一樣品;對第一樣品采用第一預設溫度烘烤并空氣退火,得到第二樣品;在第二樣品的表面濺射多層金屬得到第二種子層,在第二種子層上電鍍銅制備銅導體層;在第三區(qū)域中的第四區(qū)域上再次電鍍銅,加高銅導體層;去除銅導體層區(qū)域外的第二種子層。本發(fā)明完成高精度金導體層制備,從而實現(xiàn)高密度布線,通過制備銅導體層疊加金導體層的疊加結構,防止電遷移,保證器件長期穩(wěn)定性。
技術領域
本發(fā)明屬于微波組件技術領域,尤其涉及一種射頻管殼的制備方法及射頻管殼。
背景技術
隨著射頻芯片單片在功率、效率和尺寸方面的持續(xù)優(yōu)化,功率放大、濾波、開關等模擬電路功能模塊可以通過單個裸片或堆疊幾個芯片實現(xiàn)。為最終在單個封裝內(nèi)集成完整功能的微波組件,進一步提升集成度,實現(xiàn)微波組件器件化,需要將AD/DA、電源控制和數(shù)字處理等數(shù)字電路芯片集成到射頻管殼內(nèi),因此射頻管殼需要在滿足高可靠性、氣密和低損耗特性的前提下,既要集成窄線寬、高密度的互聯(lián)線路,又要集成高密度組裝射頻芯片所需的散熱、隔離用厚金屬線路,實現(xiàn)難度極大。
目前,在TR多通道收發(fā)組件中,天線、射頻部分和數(shù)字部分相互獨立,通過母板互聯(lián),因此集成度較低,然而集成度提高后會帶來多芯片互聯(lián)布線和射頻單元密集排布需散熱以及隔離等問題。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明實施例提供了一種射頻管殼的制備方法及射頻管殼,旨在解決現(xiàn)有技術中集成度較低,且集成度提高后會帶來多芯片互聯(lián)布線和射頻單元密集排布需散熱以及隔離等問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實施例的第一方面提供了一種射頻管殼的制備方法,包括:
在基板上濺射多層金屬得到第一種子層,在所述第一種子層上第一區(qū)域和第二區(qū)域上電鍍金分別制備金導體層,所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域不連接;
去除所述金導體層區(qū)域外的第一種子層,在所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域之間制備薄膜電阻,得到第一樣品;
對所述第一樣品采用第一預設溫度烘烤并空氣退火,得到第二樣品;
在所述第二樣品的表面濺射多層金屬得到第二種子層,在所述第二種子層上電鍍銅制備銅導體層,所述銅導體層覆蓋所述第二區(qū)域的金導體層對應區(qū)域中遠離所述第一區(qū)域的部分區(qū)域,以及所述第二種子層上的第三區(qū)域,所述第三區(qū)域與所述第一區(qū)域、第二區(qū)域不同,且與所述部分區(qū)域連接;
在所述第三區(qū)域中的第四區(qū)域上再次電鍍銅,加高銅導體層;
去除所述銅導體層區(qū)域外的第二種子層。
作為本申請另一實施例,所述基板為藍寶石基板或玻璃基板。
作為本申請另一實施例,所述第一種子層從下至上均依次包括TaN、TiW、Au;
所述第二種子層從下至上均依次包括Ti、TiW、Cu;
所述第一種子層和所述第二種子層的厚度均為50nm至5000nm。
作為本申請另一實施例,所述在所述第一種子層上第一區(qū)域和第二區(qū)域上電鍍金分別制備金導體層,包括:
通過旋涂或覆膜熱壓方式在所述第一種子層上涂覆第一光阻層,曝光顯影后在裸露的第一區(qū)域和第二區(qū)域電鍍金,得到金導體層;
去除所述第一光阻層;
所述第一光阻層厚度大于5μm;
所述金導體層厚度為2μm至5μm。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





