[發明專利]一種光軸偏差測量方法、智能終端及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202011547034.4
• 申請日: 2020-12-24
• 公開（公告）號: CN114677285A
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 胡錦麗;劉陽興
• 申請（專利權）人: 武漢TCL集團工業研究院有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00;G06T7/80
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268
• 代理人: 謝松

本發明公開了一種光軸偏差測量方法、智能終端及計算機可讀存儲介質，所述方法包括：獲取針對同一場景拍攝的第一圖像和第二圖像；根據所述第一圖像和所述第二圖像，計算與所述第一圖像和所述第二圖像對應的目標本征矩陣；根據所述目標本征矩陣，計算對應的光軸偏差值。本發明能夠提高計算光軸偏差值的速率和便捷性。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤其涉及一種光軸偏差測量方法、智能終端及計算機可讀存儲介質。

背景技術

為更好地呈現圖像，以手機為代表的智能終端多采用多攝像頭。但更好地呈現圖像的前提是多個攝像頭之間光軸平行，且光心間距與攝像頭之間的物理距離相等。

但是由于攝像頭本身由于鏡片和采光特性，存在一定的畸變，同時在安裝過程中，容易出現一些誤差。因此，在出廠之前，需要對這些攝像頭進行光軸偏差測量，從而得到他們之間的光軸偏差角度，以進行攝像頭矯正。常規的光軸偏差測量方法主要是基于標定圖實現的。先打印特定的標定圖，然后控制攝像頭對該標定圖進行拍攝，然后根據拍攝后的照片，通過精密儀器計算他們之間的偏差角。然而這一操作較為繁瑣和復雜。因此，對多攝像頭之間的光軸偏差測量亟需改進。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種光軸偏差測量方法、智能終端及計算機可讀存儲介質，旨在解決現有技術中光軸偏差測量較為繁瑣的問題。

為實現上述目的，本發明提供一種光軸偏差測量方法，所述光軸偏差測量方法包括如下步驟：

獲取針對同一場景拍攝的第一圖像和第二圖像；

根據所述第一圖像和所述第二圖像，計算對應的目標本征矩陣；

根據所述目標本征矩陣，計算與所述第一圖像和所述第二圖像對應的光軸偏差值。

可選地，所述的光軸偏差測量方法，其中，所述根據所述第一圖像和所述第二圖像，計算對應的目標本征矩陣，具體包括：

提取所述第一圖像中的特征點，生成第一特征點集；以及提取所述第二圖像中的特征點，生成第二特征點集；

將所述第一特征點集和所述第二特征點集進行匹配，生成若干對特征點對；

根據所述特征點對，計算所述第一圖像和所述第二圖像之間的目標本征矩陣。

可選地，所述的光軸偏差測量方法，其中，所述第一圖像為第一攝像頭拍攝的圖像，所述第二圖像為第二攝像頭拍攝的圖像；所述提取所述第一圖像和所述第二圖像中的特征點，生成第一特征點集和第二特征點集，具體包括：

將所述第一圖像和所述第二圖像進行灰度化處理，生成第一灰度圖像和第二灰度圖像；

根據預設的第一畸變系數，對所述第一灰度圖像進行矯正，生成第一矯正圖像，以及根據預設的第二畸變系數，對所述第二灰度圖像進行矯正，生成第二矯正圖像，其中，所述第一畸變系數為所述第一攝像頭的畸變系數，所述第二畸變系數為所述第二攝像頭的畸變系數；

對所述第一矯正圖像進行特征點提取，生成對應的第一特征點集；以及對所述第二矯正圖像進行特征點進行提取，生成對應的第二特征點集。

可選地，所述的光軸偏差測量方法，其中，所述根據所述特征點對，計算所述第一圖像和所述第二圖像之間的目標本征矩陣，具體包括：

根據預設的擬合規則，對所述特征點對進行擬合計算，生成對應的第N本征矩陣和第N內點數值，其中，N為正整數且當初次進行擬合計算時，N等于1；

當所述第N內點數值大于預設的內點數閾值時，將所述第N內點數值作為內點數閾值，并將預設的迭代次數加一，其中，當初次進行擬合計算時，迭代次數為零；

迭代計算第N本征矩陣并根據第N內點數值更新所述迭代次數，直至所述迭代次數大于預設的迭代次數閾值；