[發(fā)明專利]輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011541867.X
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN112598784B
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳海波;李宗劍
• 申請（專利權(quán)）人: 深蘭智能科技（上海）有限公司
• 主分類號: G06T17/00
• 分類號: G06T17/00
• 代理公司: 蘇州領(lǐng)躍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32370
• 代理人: 王寧

1.一種輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取產(chǎn)品的三維數(shù)字模型的至少一個截線；

分別對每個所述截線進行擬合處理，得到每個所述截線的參數(shù)化結(jié)果；

獲取所述產(chǎn)品的輪廓掃描數(shù)據(jù)，所述輪廓掃描數(shù)據(jù)包括至少一個輪廓線的掃描數(shù)據(jù)，每個所述輪廓線與其中一個所述截線相對應(yīng)，所述輪廓線的掃描數(shù)據(jù)包括所述輪廓線上至少一個點的坐標數(shù)據(jù)；

針對每個所述輪廓線執(zhí)行以下處理：

將所述輪廓線的掃描數(shù)據(jù)代入對應(yīng)所述截線的參數(shù)化結(jié)果中，計算得到所述輪廓線的累積殘差，所述累積殘差用于指示所述輪廓線與對應(yīng)所述截線的偏差；

確定所述輪廓線的累積殘差大于預(yù)定累積殘差，則根據(jù)對應(yīng)所述截線的參數(shù)化結(jié)果，對所述輪廓線進行調(diào)整。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述獲取產(chǎn)品的三維數(shù)字模型的至少一個截線，包括：

獲取所述產(chǎn)品對應(yīng)的三維數(shù)字模型；

對所述三維數(shù)字模型進行等值面截線處理，得到至少一個所述截線。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述獲取所述產(chǎn)品對應(yīng)的三維數(shù)字模型，包括：

獲取所述產(chǎn)品對應(yīng)的參考產(chǎn)品的輪廓掃描數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述參考產(chǎn)品的輪廓掃描數(shù)據(jù)，獲取所述產(chǎn)品對應(yīng)的三維數(shù)字模型。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述獲取所述產(chǎn)品對應(yīng)的參考產(chǎn)品的輪廓掃描數(shù)據(jù)，包括：

生成控制指令并發(fā)送至輪廓檢測設(shè)備，以使所述輪廓檢測設(shè)備根據(jù)所述控制指令對所述參考產(chǎn)品進行輪廓掃描，得到所述參考產(chǎn)品的輪廓掃描數(shù)據(jù)；

接收所述輪廓檢測設(shè)備發(fā)送的所述參考產(chǎn)品的輪廓掃描數(shù)據(jù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述對每個所述截線進行擬合處理，包括：

采用高次多項式逼近擬合的方式，對每個所述截線進行擬合處理。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，擬合處理后的所述截線的類型包括以下至少一種：Bezier曲線、B樣條曲線和NURBS曲線。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述截線的參數(shù)化結(jié)果是所述截線的參數(shù)化方程。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述將所述輪廓線的掃描數(shù)據(jù)代入對應(yīng)所述截線的參數(shù)化結(jié)果中，計算得到所述輪廓線的累積殘差，包括：

針對所述輪廓線上每個所述點，將所述點的坐標數(shù)據(jù)代入對應(yīng)所述截線的參數(shù)化結(jié)果中，計算得到所述點在對應(yīng)所述截線上的對應(yīng)點的坐標數(shù)據(jù)，根據(jù)所述點的坐標數(shù)據(jù)和所述點的對應(yīng)點的坐標數(shù)據(jù)，計算所述點與所述點的對應(yīng)點之間的距離作為所述點的偏差；

根據(jù)所述輪廓線上所有所述點的偏差，計算得到所述輪廓線的累積殘差。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述根據(jù)所述輪廓線上所有所述點的偏差，計算得到所述輪廓線的累積殘差，包括：

計算所述輪廓線上所有所述點的偏差之和，作為所述輪廓線的累積殘差。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的輪廓掃描結(jié)果的調(diào)整方法，其特征在于，所述根據(jù)對應(yīng)所述截線的參數(shù)化結(jié)果，對所述輪廓線進行調(diào)整，包括：

針對所述輪廓線上每個所述點執(zhí)行以下處理：

根據(jù)對應(yīng)所述截線的參數(shù)化結(jié)果，檢測所述點的偏差是否大于預(yù)定偏差；

若大于所述預(yù)定偏差，則根據(jù)所述點的對應(yīng)點的坐標數(shù)據(jù)調(diào)整所述點的坐標數(shù)據(jù)。