[發(fā)明專利]一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測方法及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011536436.4 | 申請日: | 2020-12-22 |
| 公開(公告)號: | CN112782179A | 公開(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉磊;岳峰;李彬 | 申請(專利權(quán))人: | 北京市新技術(shù)應(yīng)用研究所 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京真致博文知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11720 | 代理人: | 蘇暢 |
| 地址: | 100035 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 產(chǎn)品 反光 表面 缺陷 檢測 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測方法,包括:獲取待檢測產(chǎn)品反光表面條紋圖像及白色反光圖像;獲取待檢測產(chǎn)品的感興趣區(qū)域;獲取感興趣區(qū)域的基準(zhǔn)點;條紋圖像形態(tài)學(xué)濾波處理;圖像二值化處理;基于模板圖像的圖像邊緣形態(tài)學(xué)處理;缺陷檢測。本發(fā)明還提供一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測系統(tǒng),包括:顯示器、工業(yè)相機(jī)、圖像處理設(shè)備、機(jī)械傳動設(shè)備、產(chǎn)品固定夾具。本發(fā)明充分考慮產(chǎn)品表面圖像檢測面積和檢測點數(shù)量各異、待檢測區(qū)域反光且?guī)в谢《鹊惹闆r,利用白色反光圖像信息分別獲得待檢測圖像ROI的輪廓及輪廓內(nèi)圖像以及ROI的基準(zhǔn)點,獲取去除條紋干擾且缺陷能夠很好保留的圖像,實現(xiàn)待檢測產(chǎn)品反光面中每個ROI缺陷的快速、精確、穩(wěn)定的檢測。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于產(chǎn)品反光表面檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在工業(yè)產(chǎn)品中,為了產(chǎn)品美觀經(jīng)常將其表面制作成反光樣式。在其制作過程或表面燙印過程中,受制作工藝、燙印設(shè)備、外部環(huán)境等因素影響,制作完成后的反光表面有時會有氣泡、凹凸不平、印痕、劃傷、發(fā)絲、漏底等缺陷問題,這些缺陷將直接影響產(chǎn)品的整體美觀和品質(zhì)。
鑒于目前消費者對于產(chǎn)品的細(xì)節(jié)要求越來越高的情況下,生產(chǎn)廠商在生產(chǎn)過程中對于產(chǎn)品的質(zhì)量及缺陷檢測與篩選顯得尤為重要。目前,在產(chǎn)品生產(chǎn)過程中產(chǎn)品的質(zhì)量檢測大多依賴于人的肉眼觀察,其受主觀因素的影響,存在著精度有限、效果不穩(wěn)定和工作強度大等問題。為解決上述問題,本領(lǐng)域技術(shù)人員提供一些產(chǎn)品表面自動檢測設(shè)備,但是目前的自動檢測設(shè)備無法兼顧到圖像檢測面積大小不一、檢測點數(shù)量各異、待檢測區(qū)域反光且?guī)в谢《鹊惹闆r。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測方法及系統(tǒng)。為了對披露的實施例的一些方面有一個基本的理解,下面給出了簡單的概括。該概括部分不是泛泛評述,也不是要確定關(guān)鍵/重要組成元素或描繪這些實施例的保護(hù)范圍。其唯一目的是用簡單的形式呈現(xiàn)一些概念,以此作為后面的詳細(xì)說明的序言。
本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
第一方面,提供一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測方法,包括:獲取待檢測產(chǎn)品反光表面條紋圖像及白色反光圖像;獲取待檢測產(chǎn)品的感興趣區(qū)域以及感興趣區(qū)域的基準(zhǔn)點;條紋圖像形態(tài)學(xué)濾波處理;對條紋圖像形態(tài)學(xué)濾波處理后的圖像進(jìn)行二值化處理;基于所述感興趣區(qū)域的基準(zhǔn)點,將模板圖像依據(jù)下式對其進(jìn)行透射變換,通過計算變換后模板圖像ROI的輪廓信息,去除二值化處理后生成的待檢測圖像邊緣,處理后的圖像只保留缺陷信息:
其中,為透射變換矩陣,為源目標(biāo)點,為目標(biāo)坐標(biāo)點。
進(jìn)一步的,所述獲取待檢測產(chǎn)品反光表面條紋圖像及白色反光圖像的過程包括:顯示器顯示N步相移正弦條紋I(x,y)并投影到待檢測產(chǎn)品上,工業(yè)相機(jī)采集待檢測產(chǎn)品反光表面的條紋圖像,其中,N≥4,式中a與b為常數(shù),p為光柵條紋周期,Φ(x,y)為初始相位;所述顯示器產(chǎn)生覆蓋待檢測產(chǎn)品的白色光,所述工業(yè)相機(jī)采集待檢測產(chǎn)品的白色反光圖像。
進(jìn)一步的,所述獲取待檢測產(chǎn)品的感興趣區(qū)域的過程之前還包括:利用濾波器對獲取的所述條紋圖像及白色反光圖像進(jìn)行濾波處理。
進(jìn)一步的,所述獲取待檢測產(chǎn)品的感興趣區(qū)域的過程包括:對所述白色反光圖像進(jìn)行二值化處理;基于白色反光圖像邊緣位置先驗信息,對二值化處理后的圖像中的每個ROI進(jìn)行掩膜處理,獲得待處理圖像中每個ROI的輪廓及輪廓內(nèi)圖像。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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