[發明專利]一種磁路測試裝置

在審

• 申請號: 202011523603.1
• 申請日: 2020-12-22
• 公開（公告）號: CN112763950A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: 任書策;石堅
• 申請（專利權）人: 揚州京柏自動化科技有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 蘇州佳捷天誠知識產權代理事務所(普通合伙) 32516
• 代理人: 李陽

1.一種磁路測試裝置，包括支架(2)，其特征在于，所述支架(2)上設有載具調節機構(101)、載具監測機構(102)和連桿測試機構(103)；

所述載具調節機構(101)包括升降組件，所述升降組件上可升降的設有二維調節組件(5)，所述二維調節組件(5)上設有用于放置待測試產品的載具平臺(6)，所述載具平臺(6)能夠在所述升降組件的控制下升至或離開待測試位置，并能夠在所述二維調節組件(5)的控制下調整平面位置；

所述載具監測機構(102)設置于所述升降組件一側，用于檢測待測試位置是否放置待測試產品；

所述連桿測試機構(103)包括動力馬達(8)和與所述動力馬達(8)傳動連接的測試連桿(9)，所述測試連桿(9)位于所述升降組件上方且能夠在所述動力馬達(8)的驅動下前后運動。

2.根據權利要求1所述的磁路測試裝置，其特征在于，所述升降組件包括分別固定設置于所述支架(2)上的豎向導軌(3)和氣缸(4)，所述氣缸(4)與所述二維調節組件(5)傳動連接，所述二維調節組件(5)通過滑動底座(7)可滑動的設置于所述豎向導軌(3)上。

3.根據權利要求1所述的磁路測試裝置，其特征在于，所述動力馬達(8)上設有同步輪(10)，所述同步輪(10)通過同步帶(11)與傳動輪(12)連接，所述傳動輪(12)通過傳動桿(13)與所述測試連桿(9)傳動連接。

4.根據權利要求2所述的磁路測試裝置，其特征在于，所述二維調節組件(5)包括上下依次設置的第一調節平臺和第二調節平臺；

所述第二調節平臺包括固定設置于所述滑動底座(7)上的第二底座(19)，所述第二底座(19)上設有第二導槽(21)，所述導槽上可滑動的設有第二調節塊(20)；

所述第一調節平臺包括固定設置于所述第二調節塊(20)頂部上的第一底座(14)，所述第一底座(14)上設有與所述第二導槽(21)方向相垂直的第一導槽(16)，所述第一導槽(16)上可滑動的設有第一調節塊(15)。

5.根據權利要求4所述的磁路測試裝置，其特征在于，所述第一調節塊(15)上還設有第一推拉桿(17)，所述第一推拉桿(17)穿過所述第一底座(14)上的第一支撐座(18)沿所述第一導槽(16)方向設置；

所述第二調節塊(20)上還設有第二推拉桿(22)，所述第二推拉桿(22)穿過所述第二底座(19)上的第二支撐座(23)沿所述第二導槽(21)方向設置。

6.根據權利要求1所述的磁路測試裝置，其特征在于，還包括底板(1)，所述支架(2)固定設置于所述底板(1)上。

7.根據權利要求6所述的磁路測試裝置，其特征在于，所述底板(1)上還設有用于供電的配電機箱(24)。

8.根據權利要求7所述的磁路測試裝置，其特征在于，所述底板(1)上還設有用于控制裝置啟停的雙啟動按鈕(25)。

9.根據權利要求1所述的磁路測試裝置，其特征在于，所述載具監測機構(102)為光電探測器。

10.根據權利要求6所述的磁路測試裝置，其特征在于，所述底板(1)和支架(2)為一體成型結構。