[發(fā)明專利]一種多功能測試工裝結(jié)構(gòu)和方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011522256.0
• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112669898A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳超;李雙全;朱程鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州海興電力科技股份有限公司;寧波恒力達科技有限公司;南京海興電網(wǎng)技術(shù)有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 杭州裕陽聯(lián)合專利代理有限公司 33289
• 代理人: 田金霞

本發(fā)明公開了一種多功能測試工裝結(jié)構(gòu)和方法，所述結(jié)構(gòu)包括：單片機；電源電路；多個測試電路；通訊電路；存儲電路；驅(qū)動電路；其中所述電源電路、測試電路、通訊電路、存儲電路和驅(qū)動電路分別連接所述單片機，電源電路連接變壓器電源和DCDC電源，用于對測試工裝結(jié)構(gòu)供電，所述驅(qū)動電路連接多個指示器，指示器路用于發(fā)出指示信息，存儲電路存儲測試參數(shù)，通訊電路連接上位機，用于向上位機發(fā)送測試信息。所述結(jié)構(gòu)和方法采用集成化的電路設(shè)計，使得多個元器件的多個參數(shù)都可以在一個電路結(jié)構(gòu)上實現(xiàn)，無需增加測試元件，可提高元件測試的效率，減少測試的成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種電路領(lǐng)域，特別涉及一種多功能測試工裝結(jié)構(gòu)和方法。

背景技術(shù)

目前現(xiàn)有的元器件測試設(shè)備中，一般只能通過廠家配套設(shè)備，配合原廠的上位機軟件或者代碼，進行測試。通過程序的編寫或者設(shè)置，出一套方案后將待測物料放置于設(shè)備上進行測試。且現(xiàn)有的設(shè)備不能測試不同廠家的元器件，局限性大。現(xiàn)有技術(shù)上的不通用導(dǎo)致使用者需購入不同的設(shè)備進行調(diào)試。也就是說，現(xiàn)有技術(shù)方案中，用戶測試工裝的效率交底，并且測試的成本較大。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明其中一個發(fā)明目的在于提供一種多功能測試工裝結(jié)構(gòu)和方法，所述結(jié)構(gòu)和方法采用集成化的電路設(shè)計，使得多個元器件的多個參數(shù)都可以在一個電路結(jié)構(gòu)上實現(xiàn)，無需增加測試元件，可提高元件測試的效率，減少測試的成本。

本發(fā)明另一個發(fā)明目的在于提供一種多功能測試工裝結(jié)構(gòu)和方法，所述結(jié)構(gòu)和方法多個測試電路通過耦接的方式集成于一個單片機的電路上，因此可減少檢測電路的面積。

本發(fā)明另一個發(fā)明目的在于提供一種多功能測試工裝結(jié)構(gòu)和方法，所述結(jié)構(gòu)和方法具有一個撥碼開關(guān)，通過打開不同撥碼開關(guān)上的碼位可連接不同的測試電路，從而可以測試不同的參數(shù)，操作簡便。

本發(fā)明另一個發(fā)明目的在于提供一種多功能測試工裝結(jié)構(gòu)和方法，所述結(jié)構(gòu)和方法采用多種指示方式，通過對指示方式進行簡單的識別可知道測試的基本數(shù)據(jù)，在集成化的電路結(jié)構(gòu)中可提高檢測效率。

為了實現(xiàn)至少一個上述發(fā)明目的，本發(fā)明進一步提供一種多功能測試工裝結(jié)構(gòu)，包括：

單片機；

電源電路；

多個測試電路；

通訊電路；

存儲電路；

驅(qū)動電路；

其中所述電源電路、測試電路、通訊電路、存儲電路和驅(qū)動電路分別連接所述單片機，電源電路連接變壓器電源和DCDC電源，用于對測試工裝結(jié)構(gòu)供電，所述驅(qū)動電路連接多個指示器，指示器路用于發(fā)出指示信息，存儲電路存儲測試參數(shù)，通訊電路連接上位機，用于向上位機發(fā)送測試信息。

根據(jù)發(fā)明另一個較佳實施例，所述多功能測試工裝結(jié)構(gòu)具有一撥碼開關(guān)，所述撥碼開關(guān)具有4個碼位，所述撥碼開關(guān)連接多個測試電路，用于調(diào)節(jié)測試模式。

根據(jù)發(fā)明其中一個較佳實施例，所述測試電路包括Flash測試電路，所述 Flash測試電路連接所述撥碼開關(guān)，所述Flash測試電路用于測試電子元件的 Flash波形，并向所述單片機發(fā)送待測試的Flash波形。

根據(jù)發(fā)明另一個較佳實施例，所述測試電路包括EEPROM測試電路，所述 EEPROM測試電路連接所述撥碼開關(guān)，所述EEPROM測試電路用于測試 EEPROM通訊波形，并通過所述撥碼開關(guān)設(shè)置EEPROM擦寫次數(shù)操作模式。

根據(jù)發(fā)明另一個較佳實施例，所述測試電路包括紅外光電管測試電路，該紅外光電管測試電路連接所述撥碼開關(guān)，通過撥碼開關(guān)用于設(shè)置測試脈沖電流光電管壽命。