[發明專利]一種多功能測試工裝結構和方法在審
| 申請號: | 202011522256.0 | 申請日: | 2020-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN112669898A | 公開(公告)日: | 2021-04-16 |
| 發明(設計)人: | 陳超;李雙全;朱程鵬 | 申請(專利權)人: | 杭州海興電力科技股份有限公司;寧波恒力達科技有限公司;南京海興電網技術有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 杭州裕陽聯合專利代理有限公司 33289 | 代理人: | 田金霞 |
| 地址: | 310011 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多功能 測試 工裝 結構 方法 | ||
1.一種多功能測試工裝結構,其特征在于,包括:
單片機;
電源電路;
多個測試電路;
通訊電路;
存儲電路;
驅動電路;
其中所述電源電路、測試電路、通訊電路、存儲電路和驅動電路分別連接所述單片機,電源電路連接變壓器電源和DCDC電源,用于對測試工裝結構供電,所述驅動電路連接多個指示器,指示器路用于發出指示信息,存儲電路存儲測試參數,通訊電路連接上位機,用于向上位機發送測試信息。
2.根據權利要求1所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,所述多功能測試工裝結構具有一撥碼開關,所述撥碼開關具有4個碼位,所述撥碼開關連接多個測試電路,用于調節測試模式。
3.根據權利要求2所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,所述測試電路包括Flash測試電路,所述Flash測試電路連接所述撥碼開關,所述Flash測試電路用于測試電子元件的Flash波形,并向所述單片機發送待測試的Flash波形。
4.根據權利要求2所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,所述測試電路包括EEPROM測試電路,所述EEPROM測試電路連接所述撥碼開關,所述EEPROM測試電路用于測試EEPROM通訊波形,并通過所述撥碼開關設置EEPROM擦寫次數操作模式。
5.根據權利要求2所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,所述測試電路包括紅外光電管測試電路,該紅外光電管測試電路連接所述撥碼開關,通過撥碼開關用于設置測試脈沖電流光電管壽命。
6.根據權利要求2所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,所述測試電路包括繼電器拉合閘測試電路,所述繼電器拉合閘測試電路連接所述撥碼開關,通過撥碼開關可設置繼電器驅動脈寬測試。
7.一種多功能測試工裝測試方法,所述方法基于上述權利要求3所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,包括如下步驟:
撥動撥碼開關至Flash波形測試模式;
通過上位機設置單片機最大通訊速率;
單片機通過連讀的方式讀取Flash波形;
驅動電路連接指示燈,當Flash波形正常讀取時指示燈常亮。
8.一種多功能測試工裝測試方法,所述方法基于上述權利要求4所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,包括如下步驟:
撥動撥碼開關至EEPROM波形測試模式;
單片機通過連讀的方式讀取EEPROM,獲取EEPROM通訊波形;
設置時鐘信號通訊速率為400kHz
驅動電路連接蜂鳴器,判斷是否讀取EEPROM成功,若成功則指示燈常亮,若失敗則蜂鳴器鳴叫,指示燈閃爍。
9.一種多功能測試工裝測試方法,所述方法基于上述權利要求4所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,包括如下步驟:
撥動撥碼開關至EEPROM擦寫次數操作模式;
單片機選取每個EEPROM中的四頁進行測試,其中兩頁進行頁寫,另兩頁進行字節讀寫,四頁讀寫完時,擦寫次數加1;
設置上傳次數閾值,EEPROM擦寫次數每隔所述上傳次數閾值則上傳擦寫結果;
將所述擦寫結果保存于鐵電電路中。
10.一種多功能測試工裝測試方法,所述方法基于上述權利要求3所述的一種多功能測試工裝結構,其特征在于,包括如下步驟:
撥動撥碼開關至至Flash擦寫次數操作模式;
單片機選取每個Flash存儲器中的四頁進行測試,其中兩頁進行頁寫,另兩頁進行字節讀寫,四頁讀寫完時,擦寫次數加1;
設置上傳次數閾值,Flash擦寫次數每隔所述上傳次數閾值則上傳擦寫結果;
將所述擦寫結果保存于鐵電電路中。
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