[發(fā)明專利]集成電路多情景時序收斂分析方法、裝置、介質(zhì)及設備

在審

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• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112597725A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設計）人: 葛穎峰;李孫華;徐祎喆;朱勇
• 申請（專利權(quán)）人: 北京百瑞互聯(lián)技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06F30/3315
• 分類號: G06F30/3315;G06F119/12
• 代理公司: 北京國科程知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11862
• 代理人: 曹曉斐

本發(fā)明公開了一種集成電路多情景時序收斂分析方法、裝置、存儲介質(zhì)及設備，屬于集成電路設計技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：利用集成電路的至少一種工作情景的提綱報告以及細節(jié)報告，并根據(jù)至少一種工作情景的提綱報告對集成電路設計的收斂情況進行分析判斷；根據(jù)收斂情況的分析判斷結(jié)果對至少一種工作情景的細節(jié)報告進行分析得到集成電路的修復意見；根據(jù)修復意見對集成電路進行修復；其中提綱報告包括產(chǎn)生時序違例的時序路徑的相關(guān)信息。本發(fā)明的應用根據(jù)提綱報告以及細節(jié)報告對至少一種工作情景下的集成電路進行分析，根據(jù)分析結(jié)果給出修復意見，并對集成電路進行修復，在不依賴EDA工具的摘要報告的前提下，快速發(fā)現(xiàn)時序問題并解決時序問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及集成電路設計技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種集成電路多情景時序收斂分析方法、裝置、存儲介質(zhì)及設備。

背景技術(shù)

由于芯片生產(chǎn)出來以后經(jīng)常需要工作在不同的環(huán)境中，比如在沙漠或者冰雪中都需要讓集成電路能夠工作。那么就導致集成電路需要適應不同的溫度環(huán)境。比如應用于普通辦公環(huán)境，或者玩游戲就要求集成電路工作在不同的速度上，或者叫做不同的工作模式上。而且更麻煩的是每一個工作情景都需要能夠在沙漠或者冰雪中工作，那么工作情景的數(shù)量就是所有工作模式和所有工程環(huán)境的乘積，所以需要分析的工作情景就會很多。對于深亞微米以下的復雜集成電路SOC設計來說，至少需要有幾十上百種工作情景需要被分析，每一個情景的分析都會生成大量的報告。人工閱讀這些報告并且分析的工作量很大。

在芯片設計的簽核階段主要負責檢查整個芯片的設計是否真的能夠符合我們的設計初衷，簽核之后，輸出GDS文件到晶圓廠去加工。所以這是芯片整個設計過程的最后一道關(guān)卡和保險。眾所周知，芯片設計是一個長周期高風險的技術(shù)領(lǐng)域，一旦出錯不僅要面臨巨大的流片失敗代價，而且整個產(chǎn)品動則延遲半年才能上市。那么這個最后的檢查階段就顯得尤其重要。簽核中有一個很重要，而且也往往是工作量最大的工作就是時序收斂。時序的收斂不是一次完成的，需要經(jīng)過檢查、修正、再檢查、再修正的循環(huán)。雖然EDA工具也會為每一個情景生成相應的摘要性質(zhì)的報告，但是如果只是看EDA工具提供的摘要實際上不足以獲得很多關(guān)鍵信息，直接看詳細報告又非常多。

雖然EDA工具可以幫助我們分析各種工作場景下整個SOC芯片的時序情況。但是分析這些結(jié)果依然是一個很耗時耗力的過程。如何快速分析并且統(tǒng)計出這么多模式和場景下的集成電路的狀態(tài)，并且非常方便的發(fā)現(xiàn)問題和解決時序問題是我們需要解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種集成電路多情景時序收斂分析方法、裝置、存儲介質(zhì)及設備，根據(jù)提綱報告以及細節(jié)報告對至少一種工作情景下的集成電路進行分析，根據(jù)分析結(jié)果給出修復意見，并對集成電路進行修復，在不依賴EDA工具的摘要報告的前提下，快速發(fā)現(xiàn)時序問題并解決時序問題。

為了解決上述問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是：提供一種集成電路多情景時序收斂分析方法，包括：利用集成電路的至少一種工作情景的提綱報告以及細節(jié)報告，并根據(jù)至少一種工作情景的提綱報告對集成電路設計的收斂情況進行分析判斷；根據(jù)收斂情況的分析判斷結(jié)果對至少一種工作情景的細節(jié)報告進行分析得到集成電路的修復意見；以及根據(jù)修復意見利用EDA工具對集成電路進行修復；其中提綱報告包括產(chǎn)生時序違例的時序路徑的相關(guān)信息。

本發(fā)明采用的另一個技術(shù)方案是：提供一種集成電路多情景時序收斂分析裝置，其包括：用于利用集成電路的至少一種工作情景的提綱報告以及細節(jié)報告，并根據(jù)至少一種工作情景的提綱報告對集成電路設計的收斂情況進行分析判斷的模塊；用于根據(jù)收斂情況的分析判斷結(jié)果對至少一種工作情景的細節(jié)報告進行分析得到集成電路的修復意見的模塊；以及用于根據(jù)修復意見利用EDA工具對集成電路進行修復的模塊；其中提綱報告包括產(chǎn)生時序違例的時序路徑的相關(guān)信息。

在本申請的另一個技術(shù)方案中，提供一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其存儲有計算機指令，其中計算機指令被操作以執(zhí)行方案中的集成電路多情景時序收斂分析方法。