[發明專利]集成電路多情景時序收斂分析方法、裝置、介質及設備

在審

• 申請號: 202011517813.X
• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112597725A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 葛穎峰;李孫華;徐祎喆;朱勇
• 申請（專利權）人: 北京百瑞互聯技術有限公司
• 主分類號: G06F30/3315
• 分類號: G06F30/3315;G06F119/12
• 代理公司: 北京國科程知識產權代理事務所(普通合伙) 11862
• 代理人: 曹曉斐

1.一種集成電路多情景時序收斂分析方法，其特征在于，包括：

利用所述集成電路的至少一種工作情景的提綱報告以及細節報告，并根據所述至少一種工作情景的所述提綱報告對所述集成電路設計的收斂情況進行分析判斷；

根據所述收斂情況的分析判斷結果對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行分析得到所述集成電路的修復意見；以及，

根據所述修復意見利用所述EDA工具對所述集成電路進行修復；

其中所述提綱報告包括產生時序違例的時序路徑的相關信息。

2.如權利要求1所述的集成電路多情景時序收斂分析方法，其特征在于，所述根據所述收斂情況的分析判斷結果對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行分析得到所述集成電路的修復意見的過程包括，

當所述收斂情況的分析判斷結果為不收斂時，對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行分析得到所述集成電路的修復意見。

3.如權利要求2所述的集成電路多情景時序收斂分析方法，其特征在于，所述當所述收斂情況的分析判斷結果為不收斂時，對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行分析得到所述集成電路的修復意見的過程包括，

利用所述EDA工具對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行分析得到所述集成電路的自動修復意見，

和/或對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行人工分析得到所述集成電路的人工修復意見。

4.如權利要求3所述的集成電路多情景時序收斂分析方法，其特征在于，所述對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行人工分析得到所述集成電路的人工修復意見的過程包括，

當所述EDA工具不能通過增減或者調整器件對所述集成電路進行修復時，對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行人工分析得到所述人工修復意見。

5.如權利要求3所述的集成電路多情景時序收斂分析方法，其特征在于，所述當所述收斂情況的分析判斷結果為不收斂時，對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行分析得到所述集成電路的修復意見的過程包括，

將所述自動修復意見以及所述人工修復意見進行合并得到所述集成電路的所述修復意見。

6.如權利要求1所述的集成電路多情景時序收斂分析方法，其特征在于，所述根據所述修復意見利用所述EDA工具對所述集成電路進行修復的過程包括，

根據所述修復意見利用所述EDA工具對所述集成電路進行模擬修復得到模擬修復集成電路；

對所述模擬修復電路的修復效果進行評估；

當所述模擬修復電路的修復效果的評估結果為有效時，根據所述修復意見利用所述EDA工具對所述集成電路進行實際修復。

7.如權利要求6所述的集成電路多情景時序收斂分析方法，其特征在于，所述對所述模擬修復電路的修復效果進行評估的過程包括，

對所述模擬集成電路設計收斂情況進行分析判斷；

當所述模擬集成電路設計收斂情況的分析判斷結果為收斂時，所述模擬修復電路的所述修復效果的所述評估結果為有效。

8.一種集成電路多情景時序收斂分析裝置，其特征在于，包括：

用于利用所述集成電路的至少一種工作情景的提綱報告以及細節報告，并根據所述至少一種工作情景的所述提綱報告對所述集成電路設計的收斂情況進行分析判斷的模塊；

用于根據所述收斂情況的分析判斷結果對所述至少一種工作情景的所述細節報告進行分析得到所述集成電路的修復意見的模塊；以及，

用于根據所述修復意見利用所述EDA工具對所述集成電路進行修復的模塊；

其中所述提綱報告包括產生時序違例的時序路徑的相關信息。

9.一種計算機可讀存儲介質，其存儲有計算機指令，其特征在于，所述計算機指令被操作以執行權利要求1-7中任一項所述的集成電路多情景時序收斂分析方法。

10.一種計算機設備，其包括處理器和存儲器，所述存儲器存儲有計算機指令，其中，所述處理器操作所述計算機指令以執行權利要求1-7任一項所述的集成電路多情景時序收斂分析方法。