[發(fā)明專利]產(chǎn)品檢測工具在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011517167.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112462242A | 公開(公告)日: | 2021-03-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳奕基;戴安泰;陸燕;顧超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 環(huán)維電子(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 上海碩力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 林曉青 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 產(chǎn)品 檢測工具 | ||
本發(fā)明公開了產(chǎn)品檢測工具,包括:基座;升降機(jī)構(gòu),安裝于所述基座;安裝架,安裝于所述升降機(jī)構(gòu);多個(gè)探筆組件,所述探筆組件包括探筆和角度調(diào)整件,所述角度調(diào)整件分別連接于所述探筆和所述安裝架;其中,通過所述角度調(diào)整件能夠調(diào)整所述探筆的角度,通過所述升降機(jī)構(gòu)能夠調(diào)整所述探筆的高度。所述產(chǎn)品檢測工具能夠?qū)⒍鄠€(gè)探筆調(diào)整并固定至多個(gè)位置,并且能夠?qū)Χ鄠€(gè)探筆同時(shí)進(jìn)行升降操作,能夠降低操作者的操作難度和工作強(qiáng)度,同時(shí)能夠提高檢測效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明設(shè)計(jì)工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域,進(jìn)一步地涉及產(chǎn)品檢測工具。
背景技術(shù)
SIP封裝(system in a package系統(tǒng)級(jí)封裝)是將多種功能晶圓,包括處理器、存儲(chǔ)器等功能晶圓根據(jù)應(yīng)用場景、封裝基板層數(shù)等因素,集成在一個(gè)封裝內(nèi),從而實(shí)現(xiàn)一個(gè)基本完整功能的封裝方案,是工業(yè)生產(chǎn)中一種常見的封裝方式。
Sip封裝完成后,通常需要對(duì)其指定性能進(jìn)行測試,在測試過程中,通常存在需要同時(shí)對(duì)多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測試的情況。目前,遇到需要同時(shí)對(duì)多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測試的情況時(shí),操作人員需要同時(shí)握持多支測試探筆進(jìn)行測試。
需要指出的是,當(dāng)需要測試的點(diǎn)數(shù)超過五個(gè)的時(shí)候,操作人員需要同時(shí)把五支以上的探筆固定在具有較小尺寸的sip封裝上,具有較大的操作難度;并且如果操作員的手輕微抖動(dòng)就會(huì)造成測試探筆的滑落,從而導(dǎo)致無法準(zhǔn)確測試。另外,當(dāng)sip封裝上需要測試的針點(diǎn)是相鄰針點(diǎn)時(shí),距離最小時(shí)僅有0.55mm,操作人員人工操作時(shí)相鄰的探筆很容易碰在一起而導(dǎo)致無法穩(wěn)定地進(jìn)行測試。重要的是,在現(xiàn)有的測試模式中,操作人員需要長時(shí)間把探筆的筆點(diǎn)在微小的測試點(diǎn)上,容易造成作業(yè)人員的視覺疲憊,工作效率降低。
綜上所述,需要對(duì)傳統(tǒng)的測試裝置及測試方法進(jìn)行改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述技術(shù)問題,本發(fā)明的目的在于提供產(chǎn)品檢測工具,所述產(chǎn)品檢測工具能夠?qū)⒍鄠€(gè)探筆調(diào)整并固定至多個(gè)位置,并且能夠?qū)Χ鄠€(gè)探筆同時(shí)進(jìn)行升降操作,能夠降低操作者的操作難度和工作強(qiáng)度,同時(shí)能夠提高檢測效率。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的目的在于提供產(chǎn)品檢測工具,包括:
基座;
升降機(jī)構(gòu),安裝于所述基座;
安裝架,安裝于所述升降機(jī)構(gòu);
多個(gè)探筆組件,所述探筆組件包括探筆和角度調(diào)整件,所述角度調(diào)整件分別連接于所述探筆和所述安裝架;
其中,通過所述角度調(diào)整件能夠調(diào)整所述探筆的角度,通過所述升降機(jī)構(gòu)能夠調(diào)整所述探筆的高度。
優(yōu)選地,所述升降機(jī)構(gòu)包括螺桿和滑動(dòng)桿,所述螺桿和所述滑動(dòng)桿分別安裝于所述基座,所述安裝架具有螺紋孔和滑動(dòng)孔,所述螺桿穿過所述螺紋孔,所述滑動(dòng)桿穿過所述滑動(dòng)孔,通過轉(zhuǎn)動(dòng)所述螺桿能夠帶動(dòng)所述安裝架沿著所述滑動(dòng)桿相對(duì)于所述基座上下滑動(dòng)。
優(yōu)選地,所述升降機(jī)構(gòu)還包括轉(zhuǎn)動(dòng)手輪,所述轉(zhuǎn)動(dòng)手輪安裝于所述螺桿,通過操作所述轉(zhuǎn)動(dòng)手輪能夠帶動(dòng)所述螺桿轉(zhuǎn)動(dòng)。
優(yōu)選地,所述安裝架包括滑動(dòng)塊和延伸件,所述延伸件安裝于所述滑動(dòng)塊,所述螺紋孔和所述滑動(dòng)孔分別形成于所述滑動(dòng)塊,多個(gè)所述探筆組件的多個(gè)所述角度調(diào)整件分別安裝于所述延伸件。
優(yōu)選地,所述延伸件是環(huán)形。
優(yōu)選地,所述延伸件上具有多個(gè)調(diào)節(jié)孔,通過改變所述角度調(diào)整件在所述調(diào)節(jié)孔內(nèi)的安裝位置,能夠改變所述角度調(diào)整件之間的距離。
優(yōu)選地,所述角度調(diào)整件包括固定塊、第一轉(zhuǎn)動(dòng)塊以及探筆安裝塊,所述固定塊安裝于所述延伸件,所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)塊可轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝于所述固定塊,并且所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)塊和所述固定塊的連接處阻尼配合,所述探筆安裝塊可轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝于所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)塊,并且所述探筆安裝塊與所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)塊之間的連接處阻尼配合,所述探筆安裝于所述探筆安裝塊。
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- 專利分類
G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試





