[發明專利]縱波反射系數確定方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011513807.7
• 申請日: 2020-12-18
• 公開（公告）號: CN112649871B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 王康;彭蘇萍;盧勇旭;崔曉芹
• 申請（專利權）人: 中國礦業大學（北京）
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30;G06F17/11
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 張萌

本申請提供一種縱波反射系數確定方法、裝置、電子設備及存儲介質，包括：獲取表征巖石模型對地震波傳播影響的模量表達式方程組；巖石模型中的孔隙之間，以及裂縫與孔隙之間存在液體流動；模量表達式方程組中包括初始縱波模量表達式；基于預先確定的巖石模型的地質參數的值和模量表達式方程組，得到地震波的頻率趨近于0時的多個第一模量值；基于地質參數的值和模量表達式方程組，得到地震波的頻率趨近于無窮大時的多個第二模量值；基于地震波的真實頻率、地質參數的值和初始縱波模量表達式，得到第三模量值；基于多個第一模量值、多個第二模量值、第三模量值、地震波的入射角度和預先確定的縱波反射系數的表達式，準確地得到縱波反射系數的值。

技術領域

本申請涉及地質勘探領域，具體而言，涉及一種縱波反射系數確定方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

在地質勘探領域，研究巖石模型中的裂縫和孔隙對地震波傳播的影響具有重要的意義，現有技術考慮了地震波考慮裂縫和孔隙之間的液體流動對地震波傳播的影響，并提出了確定表征地震波在巖石模型中的衰減程度的縱波反射系數的值的方法，然而該技術無法準確地確定地出表征地震波在巖石模型中的衰減程度的縱波反射系數的值。

發明內容

鑒于此，本申請實施例的目的在于提供一種縱波反射系數確定方法、裝置、電子設備及存儲介質，以準確地確定出表征地震波在巖石模型中的衰減程度的縱波反射系數的值。

第一方面，本申請實施例提供一種縱波反射系數確定方法，所述方法包括：獲取表征巖石模型對地震波傳播影響的模量表達式方程組；其中，所述巖石模型中的孔隙之間，以及裂縫與孔隙之間存在液體流動；所述模量表達式方程組中包括初始縱波模量表達式；基于預先確定的所述巖石模型的地質參數的值和所述模量表達式方程組，得到所述地震波的頻率趨近于0時的多個第一模量值；其中，所述地質參數包括：所述巖石模型的體積模量、所述巖石模型中的巖石顆粒的體積模量、所述巖石模型中的孔隙的孔隙率、孔隙的滲透率、孔隙內的第一流體的體積模量、所述第一流體中的第一液體的粘度、所述第一流體中的氣體的粘度、所述第一流體的飽和度、所述第一流體中的氣泡的平均直徑，縫隙內的第二流體的體積模量、所述第二流體的粘度、裂縫弱度、過量法向柔度、過量切向柔度和巖石模型的拉梅系數；所述第一流體包括：液體；所述第二流體為液體或氣體；基于所述地質參數的值和所述模量表達式方程組，得到所述地震波的頻率趨近于無窮大時的多個第二模量值；基于所述地震波的真實頻率、所述地質參數的值和所述初始縱波模量表達式，得到第三模量值；基于所述多個第一模量值、所述多個第二模量值、所述第三模量值、預先確定的所述地震波的入射角度和預先確定的縱波反射系數的表達式，得到表征所述地震波在所述巖石模型中的衰減程度的縱波反射系數的值。

在上述實現過程中，考慮到在巖石模型中存在孔隙和裂縫，且孔隙中存在液體時，孔隙之間，以及孔隙與裂縫之間的液體流動均會對地震波的傳播產生影響，因此，在巖石模型中存在孔隙和裂縫，且孔隙中存在液體的情況下，獲取表征巖石模型對地震波傳播影響的模量表達式方程組，該模量表達式方程組考慮了孔隙之間，以及孔隙與裂縫之間的液體流動均會對地震波的傳播的影響；在低頻條件下，流體之間會發生相互流動，然后達到平衡，因此，可以基于預先確定的所述巖石模型的地質參數的值和所述模量表達式方程組，得到所述地震波的頻率趨近于0時的多個第一模量值；在高頻極限下，由于沒有足夠的時間進行壓力平衡，流體沒有時間從孔隙進入裂縫，在這種情況下，可視為流體不進行流動，整個巖石模型可以被看作一個不包含孔隙的彈性層，因此，可以基于所述地質參數的值和所述模量表達式方程組，得到所述地震波的頻率趨近于無窮大時的多個第二模量值；基于所述地震波的真實頻率、所述地質參數的值和所述初始縱波模量表達式，得到第三模量值；最后基于所述多個第一模量值、所述多個第二模量值、所述第三模量值、預先確定的所述地震波的入射角度和預先確定的縱波反射系數的表達式，得到表征所述地震波在所述巖石模型中的衰減程度的縱波反射系數的值，由于上述過程充分考慮了孔隙之間，以及孔隙與裂縫之間的液體流動均會對地震波的傳播的影響，并考慮了高頻極限和低頻極限這兩種情況，因此，利用上述方式得到的縱波反射系數的值，能夠準確地表征巖石模型對地震波傳播的衰減程度的影響。