[發明專利]用于金屬識別定位的方法、裝置及直流供電的金屬探測器在審
| 申請號: | 202011506955.6 | 申請日: | 2020-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN114647008A | 公開(公告)日: | 2022-06-21 |
| 發明(設計)人: | 俞國新;許升;陳慶;袁棟;史明明;孫天奎;劉寶;李小嬌;董瑋利;呂守鵬 | 申請(專利權)人: | 青島海爾智能技術研發有限公司;海爾智家股份有限公司 |
| 主分類號: | G01V3/11 | 分類號: | G01V3/11 |
| 代理公司: | 北京康盛知識產權代理有限公司 11331 | 代理人: | 李曉芳 |
| 地址: | 266101 *** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 金屬 識別 定位 方法 裝置 直流 供電 金屬探測器 | ||
本申請涉及金屬探測技術領域,公開一種用于金屬識別定位的方法、裝置及直流供電的金屬探測器。所述方法包括:獲取待檢測區域內金屬識別信號接收裝置中每組探測線圈探測到的金屬信號探測值;獲取所述待檢區域內磁場強度接收裝置中每組磁場線圈感測的磁場強度信號值,其中,每組所述磁場線圈分別與一組所述探測線圈的位置匹配;根據一一對應的所述金屬信號探測值和所述磁場強度信號值,以及每組探測線圈的排布位置關系,確定所述待檢測區域內的金屬區域。這樣,無論金屬探測器應用場所是否存在磁場,無論磁場是固定的還是變化的,都可進行金屬的檢測和定位,擴大了金屬探測器應用場景。
技術領域
本申請涉及金屬探測技術領域,例如涉及用于金屬識別定位的方法、裝置及直流供電的金屬探測器。
背景技術
安檢、食品加工、紡織品生產等眾多領域需要用到金屬探測器。一般,金屬探測器包括電磁發射器。這樣,在進行金屬探測的過程中,通過電磁發射器產生磁場,從而,接收探測區域反饋的金屬探測識別信號。
可見,這種金屬探測器的精確性和可靠性取決于電磁發射器的穩定性,因此,這種探測器只適用于沒有外界磁場的環境下進行金屬探測,而在已存在磁場的區域,特別是場強變化的磁場環境中,外界磁場將會對金屬探測器中電磁發射器產生的基于磁場的金屬信號探測值產生干擾,影響電磁發射器的穩定性,從影響金屬探測的準確性。
發明內容
為了對披露的實施例的一些方面有基本的理解,下面給出了簡單的概括。所述概括不是泛泛評述,也不是要確定關鍵/重要組成元素或描繪這些實施例的保護范圍,而是作為后面的詳細說明的序言。
本公開實施例提供了一種用于金屬識別定位的方法、裝置及直流供電的金屬探測器,以解決金屬器探測準確率有待提高的技術問題。
在一些實施例中,所述直流供電的金屬探測器包括:金屬識別信號接收裝置、磁場強度接收裝置、以及金屬識別定位裝置,其中,
所述金屬識別信號接收裝置,包括:一組或多組探測線圈,被配置為獲取待檢測區域內每組所述探測線圈探測到的金屬信號探測值,并發送給所述金屬識別定位裝置;
所述磁場強度接收裝置,包括:一組或多組磁場線圈,每組磁場線圈分別與一組探測線圈的位置匹配,被配置為獲取所述待檢區域內每組磁場線圈感測的磁場強度信號值,并發送給所述金屬識別定位裝置;
所述金屬識別定位裝置,被配置為根據一一對應的所述金屬信號探測值和所述磁場強度信號值,以及每組探測線圈的排布位置關系,確定所述待檢測區域內的金屬區域。
在一些實施例中,所述用于金屬識別定位的方法包括:
獲取待檢測區域內金屬識別信號接收裝置中每組探測線圈探測到的金屬信號探測值;
獲取所述待檢區域內磁場強度接收裝置中每組磁場線圈感測的磁場強度信號值,其中,每組所述磁場線圈分別與一組所述探測線圈的位置匹配;
根據一一對應的所述金屬信號探測值和所述磁場強度信號值,以及每組探測線圈的排布位置關系,確定所述待檢測區域內的金屬區域。
在一些實施例中,所述用于金屬識別定位的裝置,包括處理器和存儲有程序指令的存儲器,所述處理器被配置為在執行所述程序指令時,執行上述用于金屬探測器金屬識別定位的方法。
本公開實施例提供的用于金屬識別定位的方法、裝置及直流供電的金屬探測器,可以實現以下技術效果:
可實時獲取待檢測區域內的金屬信號探測值,以及磁場強度信號值,并根據一一對應的金屬信號探測值和磁場強度信號值,確定待檢測區域內的金屬區域,這樣,無論金屬探測器應用場所是否存在磁場,也無論磁場是固定的還是變化的,都可進行金屬的檢測和定位,擴大了金屬探測器應用場景,也提高了金屬探測器的金屬探測準確率和穩定性。
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