[發明專利]用于產生X射線圖像數據集的方法

在審

• 申請號: 202011499438.0
• 申請日: 2020-12-17
• 公開（公告）號: CN113069128A
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發明（設計）人: E·格德雷;M·胡普費爾;B·克萊斯勒;M·彼得希爾卡
• 申請（專利權）人: 西門子醫療有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;G06T11/00;G01T1/161
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 趙林琳

1.一種用于借助光子計數的X射線探測器(1)來產生X射線圖像數據集的方法，所述X射線探測器具有一個轉換元件(3)，所述轉換元件被構造為將X射線輻射轉換為電信號，并且所述X射線探測器具有多個像素元件(50)，所述多個像素元件分別被構造為：基于直接輸入到所述多個像素元件(50)中的一個像素元件(50)中的信號來形成計數信號，并且其中所述多個像素元件(50)中的至少一個子集被構造為形成重合計數信號，所述重合計數信號基于：直接輸入到所述多個像素元件(50)中的所述子集的一個像素元件(50)中的信號、以及所述多個像素元件(50)中的至少一個另外的像素元件(50)的重合出現的信號，所述方法包括以下步驟：

-在所述多個像素元件(50)中的每個像素元件(50)中，根據入射的所述X射線輻射，對至少一個計數信號數量(T)進行第一計數(V1)，

-在所述多個像素元件(50)中的所述子集的每個像素元件(50)中，利用所述多個像素元件(50)中的至少一個另外的像素元件(50)，對至少一個重合計數信號數量(C)進行第二計數(V2)，

-基于在所述多個像素元件(50)中的每個像素元件(50)中被計數的所述至少一個計數信號數量(T)、以及在所述多個像素元件(50)中的所述子集的每個像素元件(50)中被計數的所述至少一個重合計數信號數量(C)，產生(V3)一個X射線圖像數據集。

2.根據權利要求1所述的方法，其中在所述產生(V3)的步驟中，在所述多個像素元件(50)中的所述子集(50)的像素元件中被計數的所述至少一個重合計數信號數量(C)輸入到圖像重建之前的數據預處理中、輸入到所述圖像重建中、或者輸入到所述圖像重建之后的后處理步驟中。

3.根據權利要求1或2中任一項所述的方法，其中至少在所述多個像素元件(50)中的所述子集的每個像素元件(50)中，借助于所述至少一個重合計數信號數量(C)適配所述至少一個計數信號數量(T)。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中基于所述至少一個計數信號數量(T)，在所述多個像素元件(50)中的每個像素元件(50)中產生初步圖像數據集，并且其中基于所述至少一個重合計數信號數量(C)，在像素元件的所述子集中的每個像素元件中產生重合圖像數據集，所述重合圖像數據集在產生所述X射線圖像數據集的步驟中被應用于所述初步圖像數據集。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中所述產生(V3)的步驟包括應用經訓練的函數，其中在所述多個像素元件(50)中的所述子集的至少一個像素元件(50)中的所述至少一個重合計數信號數量(C)作為輸入參數輸入到所述經訓練的函數中。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其中所述多個像素元件(50)中的每個像素元件(50)具有多個比較器(19)，所述多個比較器分別具有一個可設定能量閾(S)，并且其中在所述多個像素元件(50)中的每個像素元件(50)中，基于相應像素元件(50)的所述多個比較器(19)中的至少一個比較器(19)的輸出信號，對所述至少一個計數信號數量(T)進行計數，并且其中在像素元件的所述子集(50)中的每個像素元件(50)中，基于相應像素元件(50)的所述多個比較器(19)中的至少一個比較器(19)的所述輸出信號、并且至少基于所述至少一個另外的像素元件(50)的所述多個比較器(19)中的一個比較器(19)的輸出信號，對所述至少一個重合計數信號數量(C)進行計數。

7.根據權利要求6所述的方法，其中對于所述至少一個重合計數信號數量(C)的所述第二計數(V2)，所述多個像素元件(50)中的所述子集的相應像素元件(50)的所述多個比較器(19)中的所述至少一個比較器(19)的所述可設定能量閾(S)、與所述重合計數信號所基于的所述至少一個另外的像素元件(50)的所述多個比較器(19)中的所述至少一個比較器(19)的所述可設定能量閾(S)具有相同的能量閾值。