[發(fā)明專利]芯片驗(yàn)證方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011495163.3
• 申請(qǐng)日: 2020-12-17
• 公開（公告）號(hào): CN112596966B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊晶晶;譚帆;魏熾頻
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 海光信息技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22;G06F11/25;G06F11/26
• 代理公司: 北京天達(dá)共和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11586
• 代理人: 薛侖

1.一種芯片驗(yàn)證方法，其特征在于，包括：

覆蓋點(diǎn)建立步驟，基于芯片中待驗(yàn)證的功能建立覆蓋組和屬于所述覆蓋組中的兩個(gè)覆蓋點(diǎn)，所述兩個(gè)覆蓋點(diǎn)中的倉(cāng)分別對(duì)應(yīng)于驗(yàn)證環(huán)境配置信息和設(shè)計(jì)行為；

驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)建立步驟，在所述覆蓋組中建立對(duì)應(yīng)于所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與所述設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性的驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)；

非法倉(cāng)建立步驟，在所述驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)中根據(jù)所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與對(duì)應(yīng)設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性建立非法倉(cāng)；

驗(yàn)證步驟，所述覆蓋組采樣收集所述覆蓋點(diǎn)的功能覆蓋率，并通過(guò)所述非法倉(cāng)是否在采樣過(guò)程中被觸發(fā)來(lái)校驗(yàn)對(duì)應(yīng)于所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與所述設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性，以驗(yàn)證所述功能是否完備；

所述驗(yàn)證步驟還包括，

通過(guò)所述非法倉(cāng)校驗(yàn)對(duì)應(yīng)于所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與所述設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性，

若所述相關(guān)性失配，則觸發(fā)所述非法倉(cāng)，并報(bào)告錯(cuò)誤，

若未觸發(fā)所述非法倉(cāng)，則輸出所述功能覆蓋率。

2.如權(quán)利要求1所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于，

所述覆蓋點(diǎn)包括第一覆蓋點(diǎn)和第二覆蓋點(diǎn)，所述第一覆蓋點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息，所述第二覆蓋點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述設(shè)計(jì)行為。

3.如權(quán)利要求2所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于，還包括，

對(duì)應(yīng)關(guān)系確定步驟，確定所述第一覆蓋點(diǎn)中所有倉(cāng)與所述第二覆蓋點(diǎn)中所有倉(cāng)之間的第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系確定所述第一覆蓋點(diǎn)中所有倉(cāng)與所述第二覆蓋點(diǎn)中所有倉(cāng)之間的第二對(duì)應(yīng)關(guān)系。

4.如權(quán)利要求3所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于，

所述驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)根據(jù)所述第一覆蓋點(diǎn)和所述第二覆蓋點(diǎn)建立，

所述非法倉(cāng)建立步驟包括，在所述驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)中根據(jù)所述第二對(duì)應(yīng)關(guān)系建立所述非法倉(cāng)。

5.如權(quán)利要求1所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于，

所述驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)同時(shí)包含所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息和所述設(shè)計(jì)行為。

6.如權(quán)利要求5所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于，

所述驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)建立步驟還包括，

相關(guān)性建立步驟，根據(jù)所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息所對(duì)應(yīng)的所述設(shè)計(jì)行為建立所述驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)中所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息和所述設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性；

所述非法倉(cāng)建立步驟包括，在所述驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)中根據(jù)所述相關(guān)性建立所述非法倉(cāng)。

7.一種芯片驗(yàn)證裝置，其特征在于，包括：

覆蓋點(diǎn)建立模塊，基于芯片中待驗(yàn)證的功能建立覆蓋組和屬于所述覆蓋組中的兩個(gè)覆蓋點(diǎn)，所述兩個(gè)覆蓋點(diǎn)中的倉(cāng)分別對(duì)應(yīng)于驗(yàn)證環(huán)境配置信息和設(shè)計(jì)行為；

驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)建立模塊，在所述覆蓋組中建立對(duì)應(yīng)于所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與所述設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性的驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)；

非法倉(cāng)建立模塊，在所述驗(yàn)證覆蓋點(diǎn)中根據(jù)所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與對(duì)應(yīng)設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性建立非法倉(cāng)；

驗(yàn)證模塊，所述覆蓋組采樣收集所述覆蓋點(diǎn)的功能覆蓋率，并通過(guò)所述非法倉(cāng)是否在采樣過(guò)程中被觸發(fā)來(lái)校驗(yàn)對(duì)應(yīng)于所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與所述設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性，以驗(yàn)證所述功能是否完備；

所述驗(yàn)證模塊還用于，

通過(guò)所述非法倉(cāng)校驗(yàn)對(duì)應(yīng)于所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息與所述設(shè)計(jì)行為之間的相關(guān)性，

若所述相關(guān)性失配，則觸發(fā)所述非法倉(cāng)，并報(bào)告錯(cuò)誤，

若未觸發(fā)所述非法倉(cāng)，則輸出所述功能覆蓋率。

8.如權(quán)利要求7所述的芯片驗(yàn)證裝置，其特征在于，還包括，

所述覆蓋點(diǎn)包括第一覆蓋點(diǎn)和第二覆蓋點(diǎn)，所述第一覆蓋點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述驗(yàn)證環(huán)境配置信息，所述第二覆蓋點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述設(shè)計(jì)行為；

對(duì)應(yīng)關(guān)系確定模塊，確定所述第一覆蓋點(diǎn)中所有倉(cāng)與所述第二覆蓋點(diǎn)中所有倉(cāng)之間的第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系確定所述第一覆蓋點(diǎn)中所有倉(cāng)與所述第二覆蓋點(diǎn)中所有倉(cāng)之間的第二對(duì)應(yīng)關(guān)系。