[發明專利]具有抑制生物物質附著的能力的離子絡合材料及其制造方法在審
| 申請號: | 202011478711.1 | 申請日: | 2014-06-09 |
| 公開(公告)號: | CN112625535A | 公開(公告)日: | 2021-04-09 |
| 發明(設計)人: | 廣井佳臣;大谷彩子;岸岡高廣;西野泰斗;小澤智行 | 申請(專利權)人: | 日產化學工業株式會社 |
| 主分類號: | C09D143/02 | 分類號: | C09D143/02;C09D5/16;C08F230/02;C08F220/34 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 李國卿 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 抑制 生物 物質 附著 能力 離子 絡合 材料 及其 制造 方法 | ||
1.涂覆膜,其是通過包括以下工序的方法得到的:
將涂覆膜形成用組合物涂布于基體的工序,以及
于-200℃~200℃的溫度進行干燥的工序,
所述涂覆膜形成用組合物包含下述共聚物和溶劑,所述共聚物包含:
包含下述式(a)表示的有機基團的重復單元和包含下述式(b)表示的有機基團的重復單元,
式中,
Ua1、Ua2、Ub1、Ub2及Ub3各自獨立地表示氫原子、或碳原子數1~5的直鏈或支鏈烷基,An-表示選自鹵化物離子、無機酸根離子、氫氧化物離子及異硫氰酸根離子中的陰離子。
2.如權利要求1所述的涂覆膜,其中,溶劑包含水或醇。
3.如權利要求1或2所述的涂覆膜,其中,涂覆膜形成用組合物中的共聚物的濃度為0.01質量%~4質量%。
4.如權利要求1~3中任一項所述的涂覆膜,其中,基體選自玻璃、含金屬化合物、含半金屬化合物及樹脂。
5.如權利要求1~4中任一項所述的涂覆膜,其具有抑制生物物質附著的能力。
6.如權利要求1~5中任一項所述的涂覆膜,其中,共聚物包含下述式(a1)及式(b1)的重復單元:
式中,
Ta、Tb、Ua1、Ua2、Ub1、Ub2及Ub3各自獨立地表示氫原子、或碳原子數1~5的直鏈或支鏈烷基,Qa及Qb各自獨立地表示單鍵、酯鍵或酰胺鍵,Ra及Rb各自獨立地表示可被鹵原子取代的碳原子數1~10的直鏈或支鏈亞烷基,An-表示選自鹵化物離子、無機酸根離子、氫氧化物離子及異硫氰酸根離子中的陰離子,m表示0~6的整數。
7.如權利要求1~6中任一項所述的涂覆膜,其中,m為1,Ra及Rb各自獨立地表示亞乙基或亞丙基。
8.如權利要求1~7中任一項所述的涂覆膜,其中,包括預先對涂覆膜形成用組合物進行pH調節的工序。
9.如權利要求1~8中任一項所述的涂覆膜,其中,包括進一步用選自水和含有電解質的水溶液中的至少1種溶劑對在干燥工序后得到的膜進行洗滌的工序。
10.涂覆膜的制造方法,其包括以下工序:
將涂覆膜形成用組合物涂布于基體的工序,以及
于-200℃~200℃的溫度進行干燥的工序,
所述涂覆膜形成用組合物包含下述共聚物和溶劑,所述共聚物包含:
包含下述式(a)表示的有機基團的重復單元和包含下述式(b)表示的有機基團的重復單元,
式中,
Ua1、Ua2、Ub1、Ub2及Ub3各自獨立地表示氫原子、或碳原子數1~5的直鏈或支鏈烷基,An-表示選自鹵化物離子、無機酸根離子、氫氧化物離子及異硫氰酸根離子中的陰離子。
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