[發(fā)明專利]一種結(jié)構(gòu)光成像方法、成像圖及在生化檢測中的應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011474588.6 | 申請日: | 2020-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN112730354B | 公開(公告)日: | 2022-11-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 席鵬;張昊;喬良 | 申請(專利權(quán))人: | 南方科技大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 深圳鼎合誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44281 | 代理人: | 周建軍;彭家恩 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 結(jié)構(gòu) 成像 方法 生化 檢測 中的 應(yīng)用 | ||
一種結(jié)構(gòu)光成像方法、成像圖及在生化檢測中的應(yīng)用,該方法包括:分別采用不同相位的結(jié)構(gòu)光照射生物芯片上的待檢測納米孔,獲得成像圖,結(jié)構(gòu)光在生物芯片上形成間隔的黑色條紋、白色條紋,黑色條紋覆蓋部分納米孔,白色條紋覆蓋另一部分納米孔,不同成像圖上黑色條紋與白色條紋覆蓋的區(qū)域全部或部分互換;白色條紋所覆蓋區(qū)域的待檢測納米孔中待檢物質(zhì)所攜帶的熒光信號被激發(fā),黑色條紋所覆蓋區(qū)域的待檢測納米孔中待檢物質(zhì)所攜帶的熒光信號不會被激發(fā)。本發(fā)明與大部分現(xiàn)有的生化檢測技術(shù)相比有著更高的分辨率,并且從生化檢測成本上考慮,該方法可以降低生化檢測的成本,隨著分辨率的提高,不僅可以提高檢測通量,還可以間接提高生化檢測準(zhǔn)確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及成像技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種結(jié)構(gòu)光成像方法、成像圖及在生化檢測中的應(yīng)用。
背景技術(shù)
由于生化檢測要求激光功率低并且曝光時(shí)間短,因此許多超分辨技術(shù)不適合生化檢測技術(shù),所以目前生化檢測技術(shù)多數(shù)采用寬場照明,通過判斷熒光信號來分析待測生物分子的數(shù)量或基因表達(dá)等信息。由于受分辨率的限制,長時(shí)間以來,生化檢測技術(shù)很難打破檢測通量的受限,從而限制了檢測速度。結(jié)構(gòu)光照明顯微鏡由于有較低的功率和較好的生物兼容性的優(yōu)勢,所以比較適合生化檢測,但是由于常規(guī)的結(jié)構(gòu)光照明顯微鏡技術(shù)需要采集9張?jiān)紙D像,這樣就變相的增加了9倍曝光時(shí)間,大大降低檢生化檢測列的準(zhǔn)確度。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)第一方面,在一些實(shí)施例中,提供一種結(jié)構(gòu)光成像方法,包括:分別采用不同相位的結(jié)構(gòu)光照射生物芯片上的待檢測納米孔,獲得對應(yīng)的成像圖,照射至所述生物芯片上的結(jié)構(gòu)光在所述生物芯片上形成間隔的黑色條紋、白色條紋,所述黑色條紋覆蓋部分納米孔,所述白色條紋覆蓋另一部分納米孔,不同成像圖上黑色條紋與白色條紋覆蓋的區(qū)域全部或部分互換,白色條紋所覆蓋的區(qū)域的待檢測納米孔中待檢物質(zhì)所攜帶的熒光信號被激發(fā),發(fā)出對應(yīng)發(fā)射波長的信號,黑色條紋所覆蓋的區(qū)域的待檢測納米孔中待檢物質(zhì)所攜帶的熒光信號不會被激發(fā)。
根據(jù)第二方面,在一些實(shí)施例中,提供一種結(jié)構(gòu)光成像圖,所述結(jié)構(gòu)光成像圖上具有間隔的黑色條紋、白色條紋,所述黑色條紋覆蓋部分納米孔圖案,所述白色條紋覆蓋另一部分納米孔圖案,白色條紋所覆蓋的區(qū)域的待檢測納米孔中待檢物質(zhì)所攜帶的熒光信號被激發(fā),發(fā)出對應(yīng)發(fā)射波長的信號。
根據(jù)第三方面,在一些實(shí)施例中,提供第二方面所述結(jié)構(gòu)光成像圖在生化檢測中的應(yīng)用。
依據(jù)上述實(shí)施例的一種結(jié)構(gòu)光成像方法、成像圖及在生化檢測中的應(yīng)用,本發(fā)明與大部分現(xiàn)有的生化檢測技術(shù)相比有著更高的分辨率,并且從生化檢測成本上考慮,該方法可以降低生化檢測的成本,隨著分辨率的提高,不僅可以提高檢測通量,還可以間接的提高生化檢測準(zhǔn)確度。
附圖說明
圖1顯示為一實(shí)施例的正方形點(diǎn)陣列生物芯片上的納米孔點(diǎn)陣以及結(jié)構(gòu)光條紋示意圖;
圖2顯示為實(shí)施例1的正方形點(diǎn)陣列生物芯片的結(jié)構(gòu)光條紋成像示意圖;
圖3顯示為實(shí)施例1的正方形點(diǎn)陣列生物芯片成像的分辨率提升效果示意圖;
圖4顯示為實(shí)施例2的正三角形點(diǎn)陣列生物芯片的結(jié)構(gòu)光條紋成像示意圖;
圖5顯示為實(shí)施例2的正三角形點(diǎn)陣列生物芯片成像的分辨率提升效果示意圖。
具體實(shí)施方式
下面通過具體實(shí)施方式結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。其中不同實(shí)施方式中類似元件采用了相關(guān)聯(lián)的類似的元件標(biāo)號。在以下的實(shí)施方式中,很多細(xì)節(jié)描述是為了使得本申請能被更好的理解。然而,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以毫不費(fèi)力的認(rèn)識到,其中部分特征在不同情況下是可以省略的,或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情況下,本申請相關(guān)的一些操作并沒有在說明書中顯示或者描述,這是為了避免本申請的核心部分被過多的描述所淹沒,而對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言,詳細(xì)描述這些相關(guān)操作并不是必要的,他們根據(jù)說明書中的描述以及本領(lǐng)域的一般技術(shù)知識即可完整了解相關(guān)操作。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南方科技大學(xué),未經(jīng)南方科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011474588.6/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





