[發明專利]一種快速內存訓練的方法及系統

在審

• 申請號: 202011470809.2
• 申請日: 2020-12-14
• 公開（公告）號: CN112596963A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 彭星洪
• 申請（專利權）人: 成都海光集成電路設計有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京蘭亭信通知識產權代理有限公司 11667
• 代理人: 趙永剛

本發明提供一種快速內存訓練的方法及系統，所述方法包括：從存儲設備中讀取預設參數信息，所述預設參數信息至少包括內存訓練的預設狀態參數和預設參數區間；當預設狀態參數為預設值時，將預設參數區間作為內存訓練的測試參考，并根據預設參數區間對內存控制器參數進行內存訓練；確定所述內存控制器的訓練值集合。本發明能夠根據內存訓練結果的慣性原理，即外部環境在一定程度上變化時，同一個設備上內存訓練的測試通過參數窗口和上一次訓練的測試通過參數窗口相近的原理，在上一次內存訓練結果的基礎上選擇參數進行測試，找到測試通過參數窗口，減少遍歷參數的個數，提高內存訓練效率。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤其涉及一種快速內存訓練的方法及系統。

背景技術

隨著人工智能、高性能計算的發展，處理器、顯卡等計算單元對內存的容量、帶寬提出了更高的要求。由于內存自身的高工作頻率(GHz級)、并行同步總線(并行數據線、命令地址線，與時鐘、采樣信號同步)、封裝工藝差異或PCB走線差異，以及外部應用環境如溫度、電壓變化的影響，內存信號極容易被干擾導致數據收發錯誤。

內存訓練是通過循環嘗試調整內存控制器中相關時序參數值，如ADDR/CMD信號對CLK，DQ信號對DQS的延時參數，測試出可以保證各個信號在信號采樣前有足夠的建立時間，采樣后有足夠的保持時間，從而信號能被正確采樣的延時參數。從這些可以工作的延時參數中選取最優值，配置到內存控制器中，保證內存設備工作在最穩定的狀態。所以處理器或顯卡在開機過程或生產測試過程中可以進行內存訓練，找到最優參數，配置到內存控制器中，保證內存穩定工作。

由于內存訓練包含大量循環迭代的參數配置和數據收發測試，所以內存訓練需要較長時間，可能達到數分鐘甚至幾十分鐘之久，嚴重影響開機體驗或生產測試效率。

在實現本發明的過程中，發明人發現現有技術中至少存在如下技術問題：

現有技術對一個參數的訓練是從該參數的參數區間最小值開始嘗試，依次增大參數值，直到找到可以通過測試的參數值，然后繼續查找，再找到不能通過測試的參數值，停止查找。從而得到一個測試通過參數窗口，再從該窗口中選擇中間值作為該參數的訓練結果。

可以測試通過參數窗口一般為整個參數區間內靠近中間的一段區間。假設參數區間為[0,19]，共20個參數，其中[5,14]這10個參數可以測試通過，為測試通過窗口，用灰底方框表示，參數區間和測試通過參數窗口具體如下所示。