[發(fā)明專利]一種熔融石英元件的損傷閾值預(yù)測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011470608.2 | 申請日： | 2020-12-14 |
| 公開（公告）號： | CN112683865B | 公開（公告）日： | 2022-05-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張增明;王鶴;代如成;王中平 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號： | G01N21/64 | 分類號： | G01N21/64;G01N21/65;G01N21/958 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 李曉光 |
| 地址： | 230026 安*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 熔融 石英 元件 損傷 閾值 預(yù)測 方法 | ||
1.一種熔融石英元件的損傷閾值預(yù)測方法，其特征在于，所述損傷閾值預(yù)測方法包括：
提供一待測熔融石英元件；
測量所述待測熔融石英元件的熒光信號和拉曼散射信號；
基于所述熒光信號，獲取缺陷熒光峰；
基于所述拉曼散射信號，獲取拉曼散射峰；
基于所述缺陷熒光峰的面積和所述拉曼散射峰的面積進(jìn)行歸一化處理；
基于歸一化處理結(jié)果，預(yù)測所述待測熔融石英元件的損傷閾值；
所述基于所述缺陷熒光峰的面積和所述拉曼散射峰的面積進(jìn)行歸一化處理，包括：獲取所述缺陷熒光峰的面積與所述拉曼散射峰的面積的比值；
所述基于歸一化處理結(jié)果，預(yù)測所述待測熔融石英元件的損傷閾值，包括：
獲取歸一化處理結(jié)果與損傷閾值的對應(yīng)關(guān)系；
基于所述歸一化處理結(jié)果，結(jié)合所述對應(yīng)關(guān)系，預(yù)測所述待測熔融石英元件的損傷閾值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的損傷閾值預(yù)測方法，其特征在于，所述測量所述待測熔融石英元件的熒光信號和拉曼散射信號，包括：
采用顯微共聚焦拉曼光譜儀，同時測量所述待測熔融石英元件的熒光信號和拉曼散射信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的損傷閾值預(yù)測方法，其特征在于，所述顯微共聚焦拉曼光譜儀的空間分辨率為5微米。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的損傷閾值預(yù)測方法，其特征在于，所述拉曼散射峰為硅-氧鍵環(huán)狀結(jié)構(gòu)的拉曼散射峰。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的損傷閾值預(yù)測方法，其特征在于，所述損傷閾值為50％概率發(fā)生損傷的最高激光能量密度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的損傷閾值預(yù)測方法，其特征在于，所述損傷閾值預(yù)測方法還包括：
依據(jù)所述缺陷熒光峰，獲取所述待測熔融石英元件的缺陷密度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)，未經(jīng)中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011470608.2/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：用戶登錄處理方法及系統(tǒng)
- 下一篇：全自動鉚接機(jī)
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
