[發明專利]一種利用電致化學發光方法讀出電位變化檢測的方法及其裝置

有效

• 申請號: 202011457121.0
• 申請日: 2020-12-11
• 公開（公告）號: CN112697778B
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 秦偉;高雪情
• 申請（專利權）人: 中國科學院煙臺海岸帶研究所
• 主分類號: G01N21/76
• 分類號: G01N21/76;G01N27/30;G01N27/333;G01N27/26
• 代理公司: 沈陽科苑專利商標代理有限公司 21002
• 代理人: 李穎

1.一種利用電致化學發光方法讀出電位變化檢測方法，其特征在于：以光敏材料修飾的導電基體作為工作電極，聚合物膜離子選擇性電極作為參比電極，對電極采用鉑絲電極；通過參比電極產生的電位變化控制工作電極的電位，并利用電位變化影響在工作電極表面產生的發光強度，通過光強度變化實現對待測物質濃度的準確測定；

所述工作電極為于導電基體底部通過滴涂或電沉積方法修飾光敏材料；其中，導電基體為玻碳電極、金電極、銀電極、銅電極、鉑電極、絲網印刷電極、ITO電極或紙基電極；光敏材料為吡啶釕、魯米諾、石墨烯材料、類石墨烯材料、稀土材料、納米材料或量子點；

所述工作電極和對電極插入至底部裝有光電倍增管的密閉檢測池內，參比電極插入至含有待檢測溶液的電化學外部測量裝置，檢測池和電化學外部測量裝置通過鹽橋連接；通過參比電極產生的電位變化控制工作電極的電位，并利用電位變化影響在工作電極表面產生的光強度，實現對待測物質靈敏檢測；

所述密閉檢測池側壁插設循環往復注射泵。

2.按權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：所述參比電極產生的電位變化的控制為以開路電位直接測量聚合物膜離子選擇性電極產生的電位響應；或，在恒電位條件下，設置工作電極和參比電極保持恒定電位差，通過不同濃度待測物質加入溶液后引起的電位變化獲得電位相應。

3.按權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：所述聚合物膜離子選擇性電極由電極腔體、內充液、內參比電極和敏感膜組成；所述電極腔體采用聚氯乙烯管，且在管的底部緊貼有聚合物敏感膜，聚合物敏感膜由離子載體、離子交換劑、增塑劑以及敏感膜基體組成；所述內充液為10^-3-10^-1M的含有待檢測離子的溶液；所述內參比電極為Ag/AgCl電極。

4.一種權利要求1所述方法的專用檢測裝置，其特征在于：裝置包括化學發光工作站、檢測池、電化學外部測量裝置和鹽橋；所述檢測池(7)和電化學外部測量裝置(8)通過鹽橋(4)連接；檢測池(7)內插設工作電極(1)和對電極(3)，并于底部設有光電倍增管(5)；電化學外部測量裝置(8)內插設參比電極(2)；電化學工作站通過導線與各個電極相連接。

5.按權利要求4所述裝置，其特征在于：所述工作電極為經光致敏材料修飾的導電基體；所述對電極為鉑絲電極；所述參比電極為離子選擇性電極。

6.按權利要求4所述裝置，其特征在于：所述檢測池為密閉，并于其側壁插設循環往復注射泵。