[發明專利]一種礦粉自動取樣、制樣系統及方法

在審

• 申請號: 202011451793.0
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN112665911A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 蔡偉強;易炳青;吳家輝;王杰章;韓常國
• 申請（專利權）人: 泉州市微柏工業機器人研究院有限公司
• 主分類號: G01N1/10
• 分類號: G01N1/10;G01N1/16;G01N1/28;G01N1/38;G01D21/02
• 代理公司: 泉州君典專利代理事務所(普通合伙) 35239
• 代理人: 陳美麗

1.一種礦粉自動取樣、制樣系統，其特征在于：包括

檢測框架，檢測框架內形成可供礦粉車通過的行車通道；包括縱向桿、光幕檢測機構、測距機構，縱向桿設置在行車通道上方，縱向桿可沿行車通道前后移動；光幕檢測機構安裝在檢測框架上用于檢測礦粉車外輪廓；縱向桿上設有升降機構，升降機構可沿縱向桿長度方向滑動，測距機構安裝在升降機構上，測距機構包括伸縮組件、設置在伸縮組件底部的激光測距儀，伸縮組件帶動激光測距儀延伸至礦粉車車廂內檢測礦粉車內輪廓；

取樣裝置，根據檢測的礦粉車外輪廓與內輪廓確定的采樣位置進行取樣；包括設置在升降機構下方的取樣桿、固定在縱向桿一端的刮料機構，升降機構可帶動取樣桿沿豎向移動至礦粉車內進行取樣工序；刮料機構包括刮板、設置在刮板下方的料罐，取樣桿與刮板對應，取樣桿在縱向桿上朝刮料機構移動，通過刮板將礦粉刮至料罐內；

制樣裝置，設置在檢測框架一側，制樣裝置包括機械手、操作機構，縱向桿帶動刮料機構移動至機械手處，機械手抓取料罐于操作機構處進行制樣工序；

取樣桿清洗裝置，設置在檢測框架上，包括轉移機構，轉移機構下方設有依次排列的存桿臺、清洗機構，取樣桿在縱向桿上朝存桿臺移動，取樣桿放置在存桿臺上，并由轉移機構帶動到清洗機構處進行清洗。

2.根據權利要求1所述的一種礦粉自動取樣、制樣系統，其特征在于：所述光幕檢測機構設置在行車通道兩側，光幕檢測機構朝行車通道內發射平行于地面的光幕，所述光幕檢測機構包括第一發射組、若干第二發射組，第一發射組設置在行車通道前端，第二發射組間隔排列設置在行車通道后端，礦粉車車頭位于第一發射組發射的光幕范圍內，礦粉車車尾位于第二發射組發射的光幕范圍內。

3.根據權利要求1所述的一種礦粉自動取樣、制樣系統，其特征在于：所述激光測距儀包括第一發射位、第二發射位，第一發射位環繞激光測距儀四周分布，第一發射位水平向外發射激光束以測量礦粉車車廂內輪廓，第二發射位設置在激光測距儀底面，第二發射位沿豎向發射激光束以測量激光測距儀與礦粉車內的礦粉之間的距離。

4.根據權利要求1所述的一種礦粉自動取樣、制樣系統，其特征在于：所述檢測框架還包括安全裝置，所述安全裝置包括設置在行車通道上的地磅、設置在行車通道兩側的防撞桿、設置在行車通道后端的道閘組件、設置在地磅前端的減速帶，所述地磅朝設有減速帶的一端向下傾斜，所述礦粉車通過道閘組件識別通行且行駛至位于地磅上，所述減速帶用于定位礦粉車的停止位置。

5.根據權利要求1所述的一種礦粉自動取樣、制樣系統，其特征在于：所述檢測框架還包括第一滑動機構、兩個橫向桿，兩橫向桿平行間隔設置，所述縱向桿可滑動的設置在兩橫向桿之間；所述第一滑動機構包括齒輪導軌、滑動件、傳動件，齒輪導軌設置在兩橫向桿相對的一側，滑動件設置在縱向桿兩端；所述滑動件可滑動的設置在齒輪導軌上，所述傳動件連接縱向桿兩端的滑動件，傳動件驅動兩滑動件帶動縱向桿在齒輪導軌上滑動。

6.根據權利要求5所述的一種礦粉自動取樣、制樣系統，其特征在于：所述滑動件包括安裝板、滑輪、齒輪，滑輪設有兩排，兩排滑輪沿豎向間隔設置在安裝板上，所述齒輪導軌設置在兩排滑輪之間，兩排滑輪可在齒輪導軌上滑動，所述齒輪設置在安裝板上，齒輪導軌中間設有可容納齒輪的傳動槽，傳動槽內設有與齒輪配合的齒條；所述傳動件包括電機、傳動桿，傳動桿連接縱向桿兩端滑動件的齒輪，所述電機驅動齒輪通過傳動桿帶動兩滑動件在齒輪導軌上滑動。

7.根據權利要求1所述的一種礦粉自動取樣、制樣系統，其特征在于：所述縱向桿上設有第二滑動機構，所述升降機構設置在第二滑動機構上，所述第二滑動機構包括齒輪導軌、安裝板、滑輪、齒輪、電機，齒輪導軌設置在縱向桿一側上，所述滑輪設有兩排，兩排滑輪沿豎向間隔設置在安裝板上，所述齒輪導軌設置在兩排滑輪之間，兩排滑輪可在齒輪導軌上滑動，所述齒輪設置在安裝板上，齒輪導軌中間設有可容納齒輪的傳動槽，傳動槽內設有與齒輪配合的齒條；所述電機與齒輪連接，電機驅動齒輪帶動升降機構在縱向桿上移動。