[發明專利]高帶寬存儲器測試系統、測試方法及測試設備有效
| 申請號: | 202011413526.4 | 申請日: | 2020-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN112435709B | 公開(公告)日: | 2021-09-14 |
| 發明(設計)人: | 鄢貴海;盧文巖;孔浩 | 申請(專利權)人: | 中科馭數(北京)科技有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 北京開陽星知識產權代理有限公司 11710 | 代理人: | 安偉 |
| 地址: | 100086 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 帶寬 存儲器 測試 系統 方法 設備 | ||
本公開涉及一種高帶寬存儲器測試系統、測試方法及測試設備,其中測試系統包括:寫單元,與待測試的高帶寬存儲器連接;讀單元,與高帶寬存儲器連接;配置參數設置單元設置高帶寬存儲器的配置參數,將配置參數發送至寫單元和/或讀單元,使寫單元和/或讀單元基于配置參數啟動高帶寬存儲器的測試;測試參數處理單元將配置的測試參數發送至寫單元,以使寫單元將測試參數寫入高帶寬存儲器,讀單元從高帶寬存儲器中讀取測試參數;運行信息處理單元,用于獲取讀單元和寫單元的運行結果,基于運行結果確定測試指標參數,在測試指標參數達到期望指標參數值時,輸出當前的測試指標參數以及對應的配置參數。
技術領域
本公開實施例涉及存儲器測試技術領域,尤其涉及一種高帶寬存儲器測試系統、高帶寬存儲器測試方法及測試設備。
背景技術
高帶寬存儲器(High Bandwidth Memory,簡稱為HBM)是一種基于3D堆棧工藝的高性能動態隨機存取存儲器(Dynamic Random Access Memory,DRAM),其適用于高存儲器帶寬需求的應用場景,例如圖形處理器,網絡交換及轉發設備如路由器、交換器等。
在HBM的使用過程中,需根據應用場景需求配置使HBM處于對應模式下,進而測試得到HBM在對應模式下的運行狀態數據從而獲知一些性能指標參數,以方便反饋了解HBM的特性。但是目前還缺乏有效的針對HBM在使用過程中進行測試的相關技術方案。
發明內容
為了解決上述技術問題或者至少部分地解決上述技術問題,本公開實施例提供了一種高帶寬存儲器測試系統、高帶寬存儲器測試方法及測試設備。
第一方面,本公開實施例提供了一種高帶寬存儲器測試系統,包括:
寫單元,與待測試的高帶寬存儲器連接;
讀單元,與所述高帶寬存儲器連接;
配置參數設置單元,用于設置所述高帶寬存儲器的配置參數,將所述配置參數發送至所述寫單元和/或讀單元,以使所述寫單元和/或讀單元基于所述配置參數啟動所述高帶寬存儲器的測試;
測試參數處理單元,用于將配置的測試參數發送至所述寫單元,以使所述寫單元將所述測試參數寫入所述高帶寬存儲器,所述讀單元從所述高帶寬存儲器中讀取測試參數;
運行信息處理單元,用于獲取所述讀單元和寫單元的運行結果,基于所述運行結果確定測試指標參數,在所述測試指標參數達到期望指標參數值時,輸出當前的測試指標參數以及對應的配置參數。
在本公開的一些實施例中,所述運行信息處理單元,還用于在所述測試指標參數未達到期望指標參數值時,生成新的測試參數并發送至所述測試參數處理單元;
所述測試參數處理單元,還用于將新的測試參數發送至所述寫單元,以使所述寫單元將所述新的測試參數寫入所述高帶寬存儲器,所述讀單元從所述高帶寬存儲器中讀取新的測試參數;
所述運行信息處理單元,還用于獲取所述讀單元和寫單元新的運行結果,基于所述新的運行結果確定新的測試指標參數,在所述新的測試指標參數達到所述期望指標參數值時,輸出當前新的測試指標參數以及對應的配置參數。
在本公開的一些實施例中,所述寫單元包括寫引擎陣列,所述寫引擎陣列通過AXI總線與所述高帶寬存儲器連接;所述讀單元包括讀引擎陣列,所述讀引擎陣列通過AXI總線與所述高帶寬存儲器連接;其中,所述寫引擎陣列中的引擎總數以及所述讀引擎陣列中的引擎總數均與所述高帶寬存儲器的通道數相同。
在本公開的一些實施例中,所述測試參數包括指定數目的突發傳輸數據,突發傳輸的唯一標識ID、突發傳輸的類型、每次突發傳輸的數據寬度、每次突發傳輸的數據量、每次突發傳輸的數據地址、以及相鄰突發傳輸的數據地址間隔。
在本公開的一些實施例中,所述配置參數包括以下任意一項或多項參數:
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