[發明專利]一種復雜電子系統嵌入式診斷方法

在審

• 申請號: 202011408475.6
• 申請日: 2020-12-05
• 公開（公告）號: CN112631238A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 連光耀;閆鵬程;孫江生;張西山;李會杰;張連武;呂艷梅;李萬領;梁冠輝;邱文昊;付久長;鐘華;袁詳波;宋秦松
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍32181部隊
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 河北冀華知識產權代理有限公司 13151
• 代理人: 嚴加亮

本發明公開了一種復雜電子系統嵌入式診斷方法，確定復雜電子系統的結構以及功能；對復雜電子系統進行約定層次劃分，其中，約定層次為結構層次以及故障層次；通過對結構層次以及故障層次進行FMECA分析建立層次化故障診斷模型；通過層次化故障診斷模型進行故障診斷。本發明能對診斷過程做出合理的指導和解釋，并使用層次化故障診斷模型來體現故障模式間的邏輯因果關系，在其中進行相應的具體診斷推理任務。

技術領域

本發明輔助電子系統領域，尤其涉及一種復雜電子系統嵌入式診斷方法。

背景技術

電子系統特別是復雜的電子系統出現故障時往往無法清楚識別問題所在，維修人員在繁復的系統中往往無法找出故障的源頭，因此急需一種診斷方法能對診斷過程做出合理的指導和解釋，并用該模型來體現故障模式間的邏輯因果關系，在其中進行相應的具體診斷推理任務。

發明內容

本發明為了解決以上問題，提供了一種復雜電子系統嵌入式診斷方法。

為實現上述目的，本發明所采用的技術方案如下：

一種復雜電子系統嵌入式診斷方法，包括：

確定復雜電子系統的結構以及功能；

對復雜電子系統進行約定層次劃分，其中，約定層次為結構層次以及故障層次；

通過對結構層次以及故障層次進行FMECA分析建立層次化故障診斷模型；

通過層次化故障診斷模型進行故障診斷。。

可選的，所述結構層次以及故障層次包括元器件級/零件級、電路級/組件級、SRU級、LRU級/LRC級以及系統級。

可選的，所述對結構層次以及故障層次進行FMECA分析包括：故障模式分析、故障原因分析、故障影響分析、故障率分析、故障模式頻數比分析。

可選的，所述故障模式分析包括：

根據復雜電子系統的結構對故障模式進行初步分析；

建立溫度場模型，對受試對象進行熱失效分析，發現其薄弱部位，分析由熱失效導致的故障模式；

計算受試對象部件的靈敏度，補充熱失效分析中缺失的靈敏度較高部分的故障模式。

可選的，所述對故障模式進行初步分析包括：明確分析范圍、明確任務與功能分析、明確故障判斷、故障模式分析、確定故障原因、故障影響分析、得出分析結果。

可選的，所述層次化故障診斷模型包括故障推理機，故障特征庫、算法庫、整機、若干分機組合以及若干分機，其中，所述故障推理機用于對接收輸入的故障特征參量，所述故障特征庫用于存儲故障特征，所述算法庫用于提供故障推理機所需的算法，所述故障推理機將接收到的故障特征參量進行故障定位，所述故障定位包括一次故障定位、二次故障定位已經故障確認，其中一次故障定位至整機，所述整機用于顯示上層父故障，二次故障定位至分機組合，所述分機組合用于顯示下層子故障，故障確認定位至分機，所述分機用于顯示最終的故障原因。

可選的，所述層次化故障診斷模型故障診斷過程包括：

根據獲取的故障特征參量，選取故障模式層次中的系統級進行故障推理診斷，得到初步的系統級診斷結果所對應的節點A；

選取節點A對應的結構層次節點S1，由關聯關系確定與節點S1相互作用的節點；

由在結構層次中選取的節點，結合獲取的故障特征參量和一次故障診斷信息，對故障層次進行有關聯的剪裁，確定對應于結構層次中第二層的節點S1’；

在剪裁后的結構層中選取第二層節點S1’進行故障推理診斷，得到故障層次結果對應的節點B；