[發(fā)明專利]一種攝像頭測(cè)試設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011384078.X | 申請(qǐng)日: | 2020-11-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112532973A | 公開(公告)日: | 2021-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 侯峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)園半導(dǎo)體設(shè)備(珠海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04N17/00 | 分類號(hào): | H04N17/00;G01R31/52;G01R31/54;G01R31/00;G01R31/36 |
| 代理公司: | 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 葛燕婷 |
| 地址: | 519080 廣東省珠海*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 攝像頭 測(cè)試 設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開了一種攝像頭測(cè)試設(shè)備,包括工作臺(tái)、安裝架、轉(zhuǎn)盤、近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)、遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)以及光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu),安裝架固定安裝于工作臺(tái),轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)安裝于工作臺(tái),轉(zhuǎn)盤設(shè)有若干工位,近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)、遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)以及光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)分別安裝于安裝架,近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)、遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)以及光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)位于工位上方,近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)及遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)分別包括若干平行光管,光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)包括遮罩組件及積分球,本發(fā)明攝像頭測(cè)試設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)攝像頭完整檢測(cè)流程并且整個(gè)過程自動(dòng)化程度高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測(cè)試裝置,尤其是涉及一種攝像頭測(cè)試設(shè)備。
背景技術(shù)
攝像頭生產(chǎn)過程中,攝像頭制造完成后需要進(jìn)行開短路測(cè)試、電流測(cè)試、遠(yuǎn)焦及近焦解析力測(cè)試、亮暗場(chǎng)測(cè)試、畸變檢查等功能測(cè)試,以確定攝像頭的質(zhì)量是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)。
現(xiàn)有的攝像頭測(cè)試設(shè)備測(cè)試功能分散,無法滿足完整流程的測(cè)試需求。攝像頭測(cè)試時(shí)需要多個(gè)設(shè)備之間人工上料,自動(dòng)化程度低,實(shí)現(xiàn)完整檢測(cè)流程所需的設(shè)備數(shù)量多,成本高,占地面積大。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的在于提供一種能夠?qū)崿F(xiàn)攝像頭完整檢測(cè)流程并且自動(dòng)化程度高的攝像頭測(cè)試設(shè)備。
本發(fā)明的目的采用以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種攝像頭測(cè)試設(shè)備,包括工作臺(tái)、安裝架、轉(zhuǎn)盤、近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)、遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)以及光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu),所述安裝架固定安裝于所述工作臺(tái),所述轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)安裝于所述工作臺(tái),所述轉(zhuǎn)盤設(shè)有若干工位,所述近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)、所述遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)以及所述光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)分別安裝于所述安裝架,所述近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)、所述遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)以及所述光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)位于所述工位上方,所述近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)及所述遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)分別包括若干平行光管,所述光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)包括遮罩組件及積分球。
進(jìn)一步地,所述近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)還包括籠架,所述籠架包括固定板及若干光管安裝條,若干所述光管安裝條固定于所述固定板,所述固定板滑動(dòng)安裝于所述安裝架。
進(jìn)一步地,所述光管安裝條呈弧形。
進(jìn)一步地,所述平行光管安裝于所述光管安裝條,若干所述平行光管朝向所述工位上的待檢測(cè)攝像頭。
進(jìn)一步地,所述平行光管的焦距能夠調(diào)節(jié)。
進(jìn)一步地,所述光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)包括移動(dòng)驅(qū)動(dòng)件以及升降驅(qū)動(dòng)件,所述移動(dòng)驅(qū)動(dòng)件安裝于所述安裝架,所述升降驅(qū)動(dòng)件固定于所述移動(dòng)驅(qū)動(dòng)件,所述移動(dòng)驅(qū)動(dòng)件帶動(dòng)所述升降驅(qū)動(dòng)件在水平方向移動(dòng),所述遮罩組件及所述積分球固定于所述升降驅(qū)動(dòng)件,所述升降驅(qū)動(dòng)件帶動(dòng)所述遮罩組件及所述積分球在豎直方向移動(dòng)。
進(jìn)一步地,所述遮罩組件包括遮罩及高度調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)件,所述高度調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)件固定于所述升降驅(qū)動(dòng)件,所述遮罩固定于所述高度調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)件,所述高度調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)件帶動(dòng)所述遮罩上下移動(dòng)使所述遮罩蓋住待檢測(cè)攝像頭。
進(jìn)一步地,所述高度調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)件為氣缸。
進(jìn)一步地,所述移動(dòng)驅(qū)動(dòng)件以及所述升降驅(qū)動(dòng)件為氣缸。
進(jìn)一步地,所述攝像頭測(cè)試設(shè)備還包括轉(zhuǎn)接板及采集盒,所述轉(zhuǎn)接板及所述采集盒與所述轉(zhuǎn)盤上的工位電性連接,使待檢測(cè)攝像頭進(jìn)行上電測(cè)試、開短路測(cè)試。
相比現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明攝像頭測(cè)試設(shè)備中轉(zhuǎn)接板及采集盒使待檢測(cè)攝像頭進(jìn)行上電測(cè)試、開短路測(cè)試;近焦測(cè)試結(jié)構(gòu)使待檢測(cè)攝像頭實(shí)現(xiàn)對(duì)近焦工作距離的模擬,進(jìn)行近焦解析力測(cè)試;遠(yuǎn)焦測(cè)試結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)對(duì)遠(yuǎn)焦工作距離的模擬,進(jìn)行遠(yuǎn)焦解析力測(cè)試;光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)進(jìn)行塵點(diǎn)與壞點(diǎn)測(cè)試、產(chǎn)品光學(xué)中心測(cè)試、噪聲測(cè)試;由于產(chǎn)品上電需要線纜連接,因此轉(zhuǎn)盤不能連續(xù)繞一個(gè)方向旋轉(zhuǎn),為實(shí)現(xiàn)各個(gè)測(cè)試工位的循環(huán),先采用順時(shí)針90度轉(zhuǎn)動(dòng)三次實(shí)現(xiàn)工位轉(zhuǎn)換,之后逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)270度下料,整個(gè)過程自動(dòng)化程度高,并且能夠?qū)崿F(xiàn)攝像頭完整檢測(cè)流程,整個(gè)設(shè)備數(shù)量少,成本低,占地面積小。
附圖說明
圖1為本發(fā)明攝像頭測(cè)試設(shè)備的立體圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長(zhǎng)園半導(dǎo)體設(shè)備(珠海)有限公司,未經(jīng)長(zhǎng)園半導(dǎo)體設(shè)備(珠海)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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