[發(fā)明專利]一種楔塊調(diào)幅探針卡及其主體

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011366981.3
• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號(hào): CN112526179B
• 公開（公告）日: 2022-01-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 于海超;周明
• 申請（專利權(quán)）人: 強(qiáng)一半導(dǎo)體（蘇州）有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/073
• 分類號(hào): G01R1/073
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種楔塊調(diào)幅探針卡，其特征在于，包括：探針卡主體（1）、上楔板（2）和下楔板（3），所述探針卡主體（1）的內(nèi)部滑動(dòng)設(shè)置有若干個(gè)上楔板（2）和下楔板（3），若干個(gè)上楔板（2）和下楔板（3）依次間隔交錯(cuò)設(shè)置；

所述探針卡主體（1）包括：主體框架（1-1）、探針槽（1-2）和上楔板槽（1-3），所述主體框架（1-1）內(nèi)部沿長度方向容納有若干個(gè)上楔板（2）和下楔板（3），且主體框架（1-1）的底部沿長度方向設(shè)置有供探針穿過的探針槽（1-2），主體框架（1-1）上還設(shè)置有供所述上楔板（2）部分露出的上楔板槽（1-3）；

所述上楔板（2）包括：上楔板體（2-1）、上楔板楔頭（2-2）、上楔板探針（2-3）和上楔板觸點(diǎn)（2-4），所述上楔板體（2-1）的下端設(shè)置有上楔板楔頭（2-2），上楔板楔頭（2-2）的兩側(cè)分別延伸至所述上楔板體（2-1）的兩側(cè)面，上楔板楔頭（2-2）的下端設(shè)置有上楔板探針（2-3），所述的上楔板觸點(diǎn)（2-4）一端與上楔板探針（2-3）連接，上楔板觸點(diǎn)（2-4）的另一端從所述上楔板體（2-1）的一側(cè)露出；

所述下楔板（3）包括：下楔板體（3-1）、下楔板楔頭（3-2）、下楔板探針（3-3）和下楔板觸點(diǎn)（3-4），所述下楔板體（3-1）的上端設(shè)置有下楔板楔頭（3-2），下楔板楔頭（3-2）的兩側(cè)分別延伸至所述下楔板體（3-1）的兩側(cè)面，下楔板體（3-1）的下端設(shè)置有下楔板探針（3-3），所述的下楔板觸點(diǎn)（3-4）一端與下楔板探針（3-3）連接，下楔板觸點(diǎn)（3-4）的另一端從所述下楔板體（3-1）的一側(cè)露出；

定義待檢測觸點(diǎn)所需的探針間距為標(biāo)準(zhǔn)探針間距，所述上楔板體（2-1）和下楔板體（3-1）的厚度均為標(biāo)準(zhǔn)探針間距，所述探針卡主體（1）與所述上楔板觸點(diǎn)（2-4）和下楔板觸點(diǎn)（3-4）對應(yīng)的一側(cè)間隔設(shè)置有若干個(gè)固定觸點(diǎn)（1-4），若干個(gè)固定觸點(diǎn)（1-4）的一端與檢測電路板（200）連接，固定觸點(diǎn)（1-4）的另一端延伸至主體框架（1-1）的內(nèi)部，相鄰的所述固定觸點(diǎn)（1-4）的間距為標(biāo)準(zhǔn)探針間距。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種楔塊調(diào)幅探針卡，其特征在于，所述探針卡主體（1）還包括：主體固定擋塊（1-5）、主體活動(dòng)擋塊（1-6）和主體活動(dòng)擋塊彈簧（1-7），所述主體框架（1-1）的一側(cè)設(shè)置有主體固定擋塊（1-5），該主體固定擋塊（1-5）的側(cè)面與若干個(gè)依次間隔交錯(cuò)設(shè)置的上楔板（2）和下楔板（3）的一側(cè)接觸，所述主體框架（1-1）的另一側(cè)滑動(dòng)設(shè)置有主體活動(dòng)擋塊（1-6），該主體活動(dòng)擋塊（1-6）的側(cè)面與若干個(gè)依次間隔交錯(cuò)設(shè)置的上楔板（2）和下楔板（3）的另一側(cè)接觸，所述主體活動(dòng)擋塊（1-6）通過主體活動(dòng)擋塊彈簧（1-7）與探針卡主體（1）連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種楔塊調(diào)幅探針卡，其特征在于，所述上楔板（2）還包括上楔板延伸板（2-5），所述上楔板延伸板（2-5）為上楔板體（2-1）的上端向上延伸形成，且該上楔板延伸板（2-5）從所述上楔板槽（1-3）穿過并延伸至探針卡主體（1）的外部。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種楔塊調(diào)幅探針卡，其特征在于，所述上楔板（2）還包括上楔板滑塊（2-6），所述上楔板體（2-1）的兩側(cè)分別設(shè)置有一個(gè)上楔板滑塊（2-6），上楔板滑塊（2-6）與所述探針卡主體（1）的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種楔塊調(diào)幅探針卡，其特征在于，所述下楔板（3）還包括下楔板滑塊（3-5），所述下楔板體（3-1）的兩側(cè)分別設(shè)置有一個(gè)下楔板滑塊（3-5），下楔板滑塊（3-5）與所述探針卡主體（1）的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3、4或5任一項(xiàng)所述的一種楔塊調(diào)幅探針卡，其特征在于，所述探針卡主體（1）的上方還設(shè)置有調(diào)幅結(jié)構(gòu)（4），調(diào)幅結(jié)構(gòu)（4）包括壓塊，所述壓塊設(shè)置在探針卡主體（1）上的上楔板（2）部分露出的上方，壓塊能夠下壓單個(gè)或多個(gè)上楔板（2）露出的部分，使上楔板（2）向下移動(dòng)。

7.一種楔塊調(diào)幅探針卡主體，其特征在于，所述探針卡主體（1）的內(nèi)部滑動(dòng)設(shè)置有若干個(gè)上楔板（2）和下楔板（3），若干個(gè)上楔板（2）和下楔板（3）依次間隔交錯(cuò)設(shè)置；所述探針卡主體（1）包括：主體框架（1-1）、探針槽（1-2）和上楔板槽（1-3），所述主體框架（1-1）內(nèi)部沿長度方向容納有若干個(gè)上楔板（2）和下楔板（3），且主體框架（1-1）的底部沿長度方向設(shè)置有供探針穿過的探針槽（1-2），主體框架（1-1）上還設(shè)置有供所述上楔板（2）部分露出的上楔板槽（1-3）；所述主體框架（1-1）的一側(cè)間隔設(shè)置有若干個(gè)固定觸點(diǎn)（1-4），若干個(gè)固定觸點(diǎn)（1-4）的一端與檢測電路板（200）連接，固定觸點(diǎn)（1-4）的另一端延伸至主體框架（1-1）的內(nèi)部，所述探針卡主體（1）還包括：主體固定擋塊（1-5）、主體活動(dòng)擋塊（1-6）和主體活動(dòng)擋塊彈簧（1-7），所述主體框架（1-1）的一側(cè)設(shè)置有主體固定擋塊（1-5），該主體固定擋塊（1-5）的側(cè)面與若干個(gè)依次間隔交錯(cuò)設(shè)置的上楔板（2）和下楔板（3）的一側(cè)接觸，所述主體框架（1-1）的另一側(cè)滑動(dòng)設(shè)置有主體活動(dòng)擋塊（1-6），該主體活動(dòng)擋塊（1-6）的側(cè)面與若干個(gè)依次間隔交錯(cuò)設(shè)置的上楔板（2）和下楔板（3）的另一側(cè)接觸，所述主體活動(dòng)擋塊（1-6）通過主體活動(dòng)擋塊彈簧（1-7）與探針卡主體（1）連接。