[發明專利]一種同時測量高頻射頻信號場強和調制度的系統在審
| 申請號： | 202011332566.6 | 申請日： | 2020-11-24 |
| 公開（公告）號： | CN112395893A | 公開（公告）日： | 2021-02-23 |
| 發明（設計）人： | 李俊明 | 申請（專利權）人： | 四川長虹電器股份有限公司 |
| 主分類號： | G06K7/00 | 分類號： | G06K7/00;G06K17/00;H04B17/00 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商標專利事務所 51213 | 代理人： | 陳藝文 |
| 地址： | 621000 四*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 同時 測量 高頻 射頻 信號 場強 調制 系統 | ||
1.一種同時測量高頻射頻信號場強和調制度的系統，其特征在于，包括：
信號發生器，用于發出調制前后的高頻射頻信號；
峰值檢波器，用于測量調制前后的高頻射頻信號的電壓峰峰值；
PCB板，包括線圈，MCU和顯示電路；
讀寫器，讀寫器和PCB板中的線圈組成應答器，用于讀取峰值檢波器中的調制前后的高頻射頻信號，并將調制前后的高頻射頻信號發送給MCU；以及
MCU和顯示電路，MCU用于接收所述應答器發來的調制前后的高頻射頻信號，并與峰值檢波器連接獲取測量調制前后的高頻射頻信號的電壓峰峰值；再計算調制度，若調制度在第一預設范圍內則再計算場強，若場強在第二預設范圍內，則在顯示電路上顯示調制度和場強的數值。
2.根據權利要求1所述的同時測量高頻射頻信號場強和調制度的系統，其特征在于，調制度的計算公式為：P＝Uc÷Ua*100％。
其中，調制之前的電壓峰峰值為Uc，調制之后的電壓峰峰值為Ua。
3.根據權利要求1所述的同時測量高頻射頻信號場強和調制度的系統，其特征在于，線圈的長寬分別為a，b，這個線圈離被測點的距離為x，線圈在距離x的位置時磁場強度用下式計算：
N是指天線線圈的匝數，I是流經天線線圈中的電流，a乘b是天線線圈的截面積。
4.如權利要求1所述的同時測量高頻射頻信號場強和調制度的系統，其特征在于，讀寫器，通過SPI接口模式與MCU進行通信。
5.如權利要求1所述的同時測量高頻射頻信號場強和調制度的系統，其特征在于，所述讀寫器采用MF RC522讀寫器。
6.如權利要求1所述的同時測量高頻射頻信號場強和調制度的系統，其特征在于，所述第一預設范圍、第二預設范圍根據需要自行設置。
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