[發明專利]一種非接觸式檢測CT轉子變形量的方法及系統

有效

• 申請號: 202011331436.0
• 申請日: 2020-11-24
• 公開（公告）號: CN112504155B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 張宇;金堅誠;馬興江
• 申請（專利權）人: 明峰醫療系統股份有限公司
• 主分類號: G01B11/16
• 分類號: G01B11/16
• 代理公司: 浙江千克知識產權代理有限公司 33246
• 代理人: 周希良

1.一種非接觸式檢測CT轉子變形量的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、CT轉子上安裝一平行于轉子軸向的配重塊，并在配重塊上安裝一反射塊，對應于反射塊設有一激光測距傳感器，激光測距傳感器用于檢測其自身與反射塊沿平行于轉子徑向的距離；

S2、采集第一轉子轉速下激光測距傳感器的N₁個距離值，并得出平均值L₁；其中，所述第一轉子轉速下CT轉子不產生形變；其中，N₁為大于2的正整數；

S3、采集第二轉子轉速下激光測距傳感器的N₂個距離值，并得出平均值L₂；其中，所述第二轉子轉速為待檢測形變量的轉速；其中，N₂為大于2的正整數；

S4、將L₂與L₁相減得出反射塊徑向位移ΔL＝|L₁-L₂|；

S5、設配重塊與反射塊沿轉子軸向的尺寸和為A，計算得出轉子的變形角度α＝arctan(ΔL/A)。

2.如權利要求1所述的一種非接觸式檢測CT轉子變形量的方法，其特征在于，所述第一轉子轉速為1RPM。

3.如權利要求1所述的一種非接觸式檢測CT轉子變形量的方法，其特征在于，設激光測距傳感器的采樣頻率為VHz，反射塊在第一轉速下完整通過激光測距傳感器一次的時間為T₁，在第二轉速下完整通過激光測距傳感器一次的時間為T₂，則N₁＝V/T₁，N₂＝V/T₂。

4.如權利要求1所述的一種非接觸式檢測CT轉子變形量的方法，其特征在于，步驟S1中還包括：

S11、根據轉子上應安裝的轉子設備確定配重塊的尺寸與質量，使配重塊在轉子高速旋轉時的形變量與轉子設備形變量相同。

5.如權利要求1所述的一種非接觸式檢測CT轉子變形量的方法，其特征在于，步驟S1中安裝多于一個配重塊、各配重塊上的反射塊及反射塊對應的激光測距傳感器，在轉子軸向上處于同一位置的多個反射塊共同對應一個激光測距傳感器。

6.如權利要求1所述的一種非接觸式檢測CT轉子變形量的方法，其特征在于，步驟S5后還包括步驟：

S6、返回S3并修改第二轉子轉速為另一待檢測轉速，直到檢測完所有待檢測轉速下轉子形變的數據。

7.一種非接觸式檢測CT轉子變形量的系統，應用如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述系統包括配重塊、反射塊、激光測距傳感器、控制器；所述配重塊安裝于CT轉子上；配重塊上安裝有反射塊，對應于反射塊設有一激光測距傳感器，激光測距傳感器用于檢測其自身與反射塊沿平行于轉子徑向的距離；所述控制器與所述激光測距傳感器通信連接，且與CT轉子通信連接。

8.如權利要求7所述的一種非接觸式檢測CT轉子變形量的系統，其特征在于，所述配重塊尺寸與質量使其在轉子高速旋轉時的形變量與轉子設備形變量相同。

9.如權利要求7所述的一種非接觸式檢測CT轉子變形量的系統，其特征在于，所述配重塊在轉子末端側壁安裝多于一個，在各配重塊塊末端安裝反射塊，并安裝各反射塊對應的激光測距傳感器，在轉子軸向上處于同一位置的多個反射塊共同對應一個激光測距傳感器。

10.如權利要求7所述的一種非接觸式檢測CT轉子變形量的系統，所述控制器用于控制轉子轉速變化。