[發明專利]一種LVDS串行控制鏈路的測試系統及其測試方法

有效

• 申請號: 202011330773.8
• 申請日: 2020-11-24
• 公開（公告）號: CN112532479B
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發明（設計）人: 馬軒;梁儒林;王芳
• 申請（專利權）人: 揚州航盛科技有限公司
• 主分類號: H04L43/50
• 分類號: H04L43/50;H04L43/0852;H04L43/045
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 陳棟智

1.一種LVDS串行控制鏈路的測試方法，其特征在于，使用的測試系統包括：

上位機，用以實現收發并顯示串口UART幀、能設定多幀數據發送的延時、能打印顯示屏進入各個網絡管理狀態的時間戳以測試網絡管理時序、能禁止/允許主機與顯示屏之間正常交互，通過主機的調試串口可以控制主機MCU發送控制信號給顯示屏，并且將收發的報文打印出來；

主機，內置有主機MCU、串行器，主機MCU與串行器之間通過雙向的串行控制通道、單向的并行數據通道相連，用以與上位機、顯示屏進行雙向通信，將并行的數據信號以及串行的控制信號發送給串行器，串行器將數據信號與控制信號轉換為串行信號發送給顯示屏端的解串器，解串器將收到的串行信號還原為并行數據信號與串行控制信號，其中并行數據信號發送給屏驅動屏顯示，串行控制信號則發給屏端MCU；

顯示屏，內置有LCD屏、顯示屏MCU以及解串器，顯示屏MCU通過雙向的串行控制通道與解串器相連，LCD屏通過單向的并行數據通道與解串器相連，解串器與串行器進行雙向通信，用以顯示主機發送過來的數據信號，同時將LCD屏采集到的控制信號發送給主機；

所述主機上外接有第一邏輯分析儀，第一邏輯分析儀的信號采集端接主機的串行控制通道上，所述邏輯分析儀外接有第二邏輯分析儀，第二邏輯分析儀的信號采集端接顯示屏的串行控制通道上；所述測試方法包括以下步驟：

步驟1）上位機未發送指令時，主機與顯示屏之間的控制鏈路一直存在交互，主機周期性向顯示屏寫入背光亮度，顯示屏則周期性將觸屏信息發送給主機，采集任意一段時間控制鏈路的波形可以測試主機與屏正常工作時調度表周期是否符合要求，分析收發的單幀波形可以測試串口控制信號收發格式是否符合要求；

步驟2）觸摸顯示屏改變顯示屏亮度時，采集這段時間的波形，觸摸時屏端MCU發給解串器以及主機端串行器發給MCU的波形包含觸屏信息，通過分析波形可以測試觸屏信息的發送與接收是否正常；主機MCU收到觸屏信息后發送給串行器以及屏端解串器發給MCU的波形包含改變后的亮度信息，通過分析波形可以測試顯示屏背光改變信息的發送和接收是否正常；

步驟3）上位機發送單幀報文的指令，采集這段時間的波形，通過分析單幀報文出現的時序可以測試單幀報文的發送是否符合調度表的要求；

步驟4）上位機發送網絡管理狀態改變的指令可以控制顯示屏進入相應的網絡管理狀態，采集這邊時間的波形可以測試網絡管理的時間參數是否符合要求；

步驟5）上位機發送禁止周期報文指令可以停止主機與顯示屏之間的正常交互，此時觸屏功能會失效，采集不到波形；

步驟6）上位機發送診斷指令，采集這段時間的波形，可以測試診斷功能是否正常；

步驟7）上位機改變診斷指令診斷請求幀與響應請求幀之間的時間，采集這段時間的波形，可以測試診斷功能的時間參數是否符合要求。