[發明專利]一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統

在審

• 申請號: 202011301556.6
• 申請日: 2020-11-19
• 公開（公告）號: CN112485643A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 李曉紅
• 申請（專利權）人: 邵陽學院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/30
• 代理公司: 北京清控智云知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11919
• 代理人: 馬肅

1.一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，所述檢測系統包括檢測裝置、反饋裝置、散熱裝置、預警裝置和處理器，所述檢測裝置被構造為對芯片的外圍接口數據鏈路進行檢測；所述反饋裝置被構造為基于所述檢測裝置采集的數據的撥動反饋性能數據；所述檢測裝置被構造為對芯片的外圍接口數據鏈路進行檢測；所述反饋裝置被構造為基于所述檢測裝置采集的數據的撥動反饋性能數據；所述散熱裝置被構造為基于所述芯片的處理能力超過設定閥值，觸發散熱模式。

2.如權利要求1所述的一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，檢測裝置包括通信接口、軟件傳感器和檢測代理單元，所述通信接口被構造為對所述芯片的數據進行處理能力的檢測，所述軟件傳感器被構造為對所述通信接口的數據進行檢測；所述檢測代理單元被構造為通過通信接口命令代理在所述芯片上執行發現操作，其中，所述檢測代理單元響應發現命令，自動識別多個與在所述芯片上運行的至少一個應用程序相關聯的元素；確定多個軟件傳感器以監視多個操作應用程序中的相應一個；并向所述芯片發送對多個軟件傳感器的請求；響應于來自所述檢測代理單元的對多個傳感器的請求，通過通信接口將多個軟件傳感器發送給所述檢測代理單元。

3.如前述權利要求之一所述的一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，所述反饋裝置被構造為識別所述芯片的至少一個接口的數據、以及識別所述芯片的相關活動的數據；其中，對于多個相關活動中被所述數據標識時間戳進行標識，所述時間戳被構造為指示多個相關活動的活動何時在至少一個接口上發生，以計算等待時間性能度量。

4.如前述權利要求之一所述的一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，所述散熱裝置包括感應單元和散熱機構，所述感應單元被構造為對所述芯片的發熱量進行感測，并基于所述芯片的溫度超過設定的閥值觸發降溫模式；所述散熱機構被構造為基于所述降溫模式的響應對所述芯片的降溫操作；所述散熱機構包括降溫管、降溫物質、控制單元和流量構件，所述降溫物質被構造為設置在所述降溫管中；所述流量構件被構造為對所述降溫物質的通行流量進行控制，所述控制單元被構造為對所述降溫物質的溫度進行調整。

5.如前述權利要求之一所述的一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，所述預警裝置包括主感應單元和副感應單元，所述主感應單元被構造為響應于在副感應單元處從主感應單元接收到第一同步脈沖，副感應單元改變發送到主感應單元的第二同步脈沖的周期，以向主感應單元指示：所述副感應單元被構造為同步到主感應單元，并且響應于在主感應單元處從副感應單元接收到第二同步脈沖，主感應單元將第一同步脈沖的周期改變到副感應單元以向副感應單元指示。

6.如前述權利要求之一所述的一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，所述檢測裝置還包括增益檢測器、調整單元和計數單元，所述增益檢測器被構造為將每個數據與芯片處理上閾值和下閾值進行比較；所述計算單元被構造為對每個計數窗口期間對具有大于上閾值的幅度的數據的高計數數量進行計數，并且在計數窗口期間對具有小于下閾值的幅度的數據的低計數數量進行計數；所述調整單元被構造為基于所述高計數數量和所述低計數數量，將調整模擬前端的芯片增益。

7.如前述權利要求之一所述的一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，所述增益檢測器還被構造為將數據的高計數數量與所述高計數閾值的中計數閾值進行比較；將所述高計數閾值與所述高計數閾值的低計數閾值進行比較；其中，當高計數數量超過高計數閾值時，所述增益控制器將增益減小第一增益調整量；其中，當高計數數量超過中計數閾值時，增益控制器將增益減小第二增益調整量。

8.如前述權利要求之一所述的一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，所述模擬前端包括混頻器和模數轉換器，所述混頻器將所接收的模擬信號分離為同相信號和正交相位信號；所述模數轉換器被構造為將同相信號轉換為同相數字采樣，并將正交相位信號轉換為正交相位數字采樣。

9.如前述權利要求之一所述的一種檢測計算機芯片穩定性的檢測系統，其特征在于，所述計算單元被構造為在多個連續的計數窗口的每一個之間插入延遲，其中，所述延遲的長度基于順序計數窗口之間的增益時間建立。