[發明專利]鏡頭測試系統及鏡頭測試方法

在審

• 申請號: 202011298219.6
• 申請日: 2020-11-18
• 公開（公告）號: CN112362314A
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 李小明;宋青松
• 申請（專利權）人: 昆山丘鈦光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/04
• 分類號: G01M11/04
• 代理公司: 上海波拓知識產權代理有限公司 31264
• 代理人: 邊曉紅

1.一種鏡頭測試系統，其特征在于，包括：

可變物距光學系統，包括光源和光電感應器；

測試平臺，包括加熱器、移動平臺和反光鏡，所述加熱器用于承載并加熱待測鏡頭，所述反光鏡位于所述移動平臺上，所述反光鏡位于所述加熱器的下方；

準直透鏡，所述準直透鏡設置于所述可變物距光學系統與所述測試平臺之間，所述光源發出的光經過所述準直透鏡、所述待測鏡頭和所述反光鏡，經所述反光鏡反射后經過所述待測鏡頭、所述準直透鏡，所述光電感應器可接收所述反光鏡反射的光；

所述可變物距光學系統和所述移動平臺均可沿所述準直透鏡的光軸方向上下移動。

2.如權利要求1所述的鏡頭測試系統，其特征在于，所述可變物距光學系統還包括十字分劃板，所述光源與所述十字分劃板沿所述準直透鏡的光軸上下相對設置。

3.如權利要求2所述的鏡頭測試系統，其特征在于，所述可變物距光學系統還包括分光棱鏡，所述光源與所述分光棱鏡沿所述準直透鏡的光軸上下相對設置，所述光電感應器設置于所述分光棱鏡的一側，經過所述反光鏡反射的光線由所述分光棱鏡反射后入射至所述光電感應器。

4.如權利要求3所述的鏡頭測試系統，其特征在于，所述可變物距光學系統還包括安裝架，所述光源、所述十字分劃板、所述分光棱鏡以及所述光電感應器安裝在所述安裝架上。

5.如權利要求4所述的鏡頭測試系統，其特征在于，所述可變物距光學系統還包括第一位移驅動器，所述安裝架與所述第一位移驅動器連接，所述第一位移驅動器用于驅使所述安裝架沿所述準直透鏡的光軸上下移動。

6.如權利要求1或5所述的鏡頭測試系統，其特征在于，所述測試平臺還包括第二位移驅動器，所述第二位移驅動器用于驅使所述測試平臺沿所述準直透鏡的光軸上下移動。

7.如權利要求1或6所述的鏡頭測試系統，其特征在于，所述移動平臺還包括第三位移驅動器，所述第三位移驅動器用于驅使所述反光鏡沿所述準直透鏡的光軸上下移動。

8.如權利要求1或2所述的鏡頭測試系統，其特征在于，所述加熱器包括用于承載所述待測鏡頭的承載臺，所述承載臺與所述準直透鏡的光軸垂直設置。

9.如權利要求1或2所述的鏡頭測試系統，其特征在于，所述反光鏡、所述移動平臺與所述準直透鏡的光軸垂直設置。

10.一種鏡頭測試方法，其特征在于，所述方法利用權利要求2至9任意一項所述的鏡頭測試系統，所述方法包括：

溫度為T1時，測試所述待測鏡頭的焦距F1，測試步驟包括：首先，調節所述可變物距光學系統的位置，使所述可變物距光學系統產生一平行光；之后，調節所述反光鏡的位置，使所述光電感應器中顯示出清晰的十字，并記錄所述移動平臺的刻度Y1；接著，調節所述可變物距光學系統的位置，使所述待測鏡頭產生第一物距X1，再次調節所述反光鏡的位置，使所述光電感應器中顯示出清晰的十字，并記錄所述移動平臺的刻度Y2；所述待測鏡頭的焦距F1＝(X1·(Y2-Y1))^1/2；

在加熱時測試所述待測鏡頭的焦距F2，測試步驟包括：首先，利用所述加熱器對所述待測鏡頭從溫度T1加熱至溫度T2后，調節所述可變物距光學系統的位置，使所述可變物距光學系統產生一平行光；之后，調節所述反光鏡的位置，使所述光電感應器中顯示出清晰的十字，并記錄所述移動平臺的刻度Y3；接著，調節所述可變物距光學系統的位置，使所述待測鏡頭產生第二物距X2，再次調節所述反光鏡的位置，使所述光電感應器中顯示出清晰的十字，并記錄所述移動平臺的刻度Y4；所述待測鏡頭的焦距F2＝(X2·(Y4-Y3))^1/2。

11.如權利要求10所述的鏡頭測試方法，其特征在于，所述待測鏡頭在溫度T1變化到溫度T2后，所述待測鏡頭的前焦距變化為F2-F1；所述待測鏡頭在溫度T1變化到溫度T2后，所述待測鏡頭的后焦距變化為Y3-F1；所述待測鏡頭在溫度T1變化到溫度T2后，所述待測鏡頭的像方主面的移動量為(Y3-F2)-(Y1-F1)。