[發(fā)明專利]電荷型SAR ADC的校準(zhǔn)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011287801.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112311395B | 公開(公告)日: | 2022-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙東艷;李德建;楊小坤;唐曉柯;楊立新;胡毅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京智芯微電子科技有限公司;國網(wǎng)信息通信產(chǎn)業(yè)集團(tuán)有限公司;國網(wǎng)上海市電力公司;國家電網(wǎng)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H03M1/10 | 分類號(hào): | H03M1/10 |
| 代理公司: | 北京潤平知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰濱;王曉曉 |
| 地址: | 100192 北京市海淀區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電荷 sar adc 校準(zhǔn) 方法 | ||
1.一種電荷型SAR ADC的校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述電荷型SAR ADC包括:分段的DAC陣列、以及比較器,其中所述分段的DAC陣列包括MSB電容陣列和LSB電容陣列,所述MSB電容陣列和所述LSB電容陣列之間通過比例電容連接,所述方法包括:
觸發(fā)所述比較器執(zhí)行一次信號(hào)采樣和一次狀態(tài)轉(zhuǎn)換后,獲取所述比較器的輸出;以及
根據(jù)所述比較器的輸出來調(diào)整校準(zhǔn)電容的大小以執(zhí)行校準(zhǔn),從而使得所述比較器執(zhí)行所述一次信號(hào)采樣和所述一次狀態(tài)轉(zhuǎn)換后,所述比較器的輸入端電壓有1個(gè)LSB的變化,其中所述校準(zhǔn)電容與所述比例電容并列、或者所述校準(zhǔn)電容并聯(lián)于所述LSB電容陣列中,
其中執(zhí)行所述一次信號(hào)采樣時(shí):在所述比較器的負(fù)端,將所述MSB電容陣列的最低位電容接到正基準(zhǔn)電壓上,將所述LSB電容陣列的所有電容都接到負(fù)基準(zhǔn)電壓上;以及將所述比較器輸入端的電壓接入共模電壓,
執(zhí)行所述一次狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí):在所述比較器的負(fù)端,將所述MSB電容陣列的最低位電容接到負(fù)基準(zhǔn)電壓上,將所述LSB電容陣列的所有電容都接到正基準(zhǔn)電壓上;以及將所述比較器輸入端與所述共模電壓斷開。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述校準(zhǔn)電容與所述比例電容并列的情況下,根據(jù)所述比較器的輸出值來調(diào)整校準(zhǔn)電容的大小以執(zhí)行校準(zhǔn),包括:
判斷所述比較器的輸出是低電平還是高電平;
在所述比較器的輸出為低電平的情況下,控制所述校準(zhǔn)電容減少第一預(yù)設(shè)電容值;
再次觸發(fā)所述比較器執(zhí)行一次信號(hào)采樣和一次狀態(tài)轉(zhuǎn)換后,獲取所述比較器的輸出;
判斷所述比較器的輸出是否變?yōu)楦唠娖健⒉⑴袛嗨鲂?zhǔn)電容是否減小至最小值;
在所述比較器的輸出未變?yōu)樗龈唠娖健⑶宜鲂?zhǔn)電容未減小至所述最小值的情況下,返回從控制所述校準(zhǔn)電容減少第一預(yù)設(shè)電容值的步驟開始重復(fù)執(zhí)行上述步驟,直到所述比較器的輸出變?yōu)樗龈唠娖角宜鲂?zhǔn)電容未減小至所述最小值、或者直到所述比較器的輸出未變?yōu)樗龈唠娖蕉鲂?zhǔn)電容減小至所述最小值;以及
在所述比較器的輸出變?yōu)樗龈唠娖角宜鲂?zhǔn)電容未減小至所述最小值的情況下,控制所述校準(zhǔn)電容增加第一預(yù)設(shè)偏移量,以完成校準(zhǔn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述校準(zhǔn)電容與所述比例電容并列的情況下,根據(jù)所述比較器的輸出值來調(diào)整校準(zhǔn)電容的大小以執(zhí)行校準(zhǔn),包括:
判斷所述比較器的輸出是低電平還是高電平;
在所述比較器的輸出為高電平的情況下,控制所述校準(zhǔn)電容增加預(yù)設(shè)電容值;
再次觸發(fā)所述比較器執(zhí)行一次信號(hào)采樣和一次狀態(tài)轉(zhuǎn)換后,獲取所述比較器的輸出;
判斷所述比較器的輸出是否變?yōu)榈碗娖健⒉⑴袛嗨鲂?zhǔn)電容是否增加至最大值;
在所述比較器的輸出未變?yōu)樗龅碗娖健⑶宜鲂?zhǔn)電容未增加至所述最大值的情況下,返回從控制所述校準(zhǔn)電容增加第二預(yù)設(shè)電容值的步驟開始重復(fù)執(zhí)行上述步驟,直到所述比較器的輸出變?yōu)樗龅碗娖角宜鲂?zhǔn)電容未增加至所述最大值、或者直到所述比較器的輸出未變?yōu)樗龅碗娖蕉鲂?zhǔn)電容增加至所述最大值;以及
在所述比較器的輸出變?yōu)樗龅碗娖角宜鲂?zhǔn)電容未增加至所述最大值的情況下,控制所述校準(zhǔn)電容增加第二預(yù)設(shè)偏移量,以完成校準(zhǔn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的方法,其特征在于,根據(jù)所述比較器的輸出值來調(diào)整校準(zhǔn)電容的大小以執(zhí)行校準(zhǔn),還包括:
判斷所述比較器的輸出是低電平還是高電平;
在所述比較器的輸出未變?yōu)樗龈唠娖蕉鲂?zhǔn)電容減小至最小值的情況下,輸出關(guān)于校準(zhǔn)失敗的提示;或者
在所述比較器的輸出未變?yōu)樗龅碗娖蕉鲂?zhǔn)電容增加至最大值的情況下,輸出關(guān)于校準(zhǔn)失敗的提示。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京智芯微電子科技有限公司;國網(wǎng)信息通信產(chǎn)業(yè)集團(tuán)有限公司;國網(wǎng)上海市電力公司;國家電網(wǎng)有限公司,未經(jīng)北京智芯微電子科技有限公司;國網(wǎng)信息通信產(chǎn)業(yè)集團(tuán)有限公司;國網(wǎng)上海市電力公司;國家電網(wǎng)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011287801.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 移動(dòng)臺(tái)以及被使用于無線通信系統(tǒng)的方法
- 一種SAR圖像配準(zhǔn)方法及裝置
- 一種合成孔徑雷達(dá)圖像融合拼接方法及裝置
- 基于輻射穩(wěn)定特性挖掘的SAR輻射定標(biāo)方法
- 基于遞歸OTSU算法的SAR圖像水域自動(dòng)檢測方法
- 一種基于高程校正的SAR圖像幾何配準(zhǔn)方法
- 一種SAR圖像數(shù)據(jù)增強(qiáng)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種像素級(jí)統(tǒng)計(jì)描述學(xué)習(xí)的SAR圖像分類方法
- 一種高軌SAR對(duì)低軌SAR成像的射頻干擾影響評(píng)估方法
- 一種基于深度學(xué)習(xí)的多頻SAR圖像解模糊方法





