[發明專利]一種自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝及測試方法

在審

• 申請號: 202011281911.8
• 申請日: 2020-11-17
• 公開（公告）號: CN112433098A
• 公開（公告）日: 2021-03-02
• 發明（設計）人: 李凱;郝健男;高陽
• 申請（專利權）人: 沈陽興華航空電器有限責任公司
• 主分類號: G01R27/28
• 分類號: G01R27/28;G01R31/28
• 代理公司: 沈陽易通專利事務所 21116
• 代理人: 于艷梅

1.一種自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于：包括一塊PCB板(100)、毛紐扣連接器(200)、第一同軸射頻連接器頭(300)和第二同軸射頻連接器頭(400)，所述PCB板(100)主體包括頂層、若干中間層和底層，所述PCB板(100)上包括第一信號走線(110)、兩個信號過孔(120)、兩組地過孔組和四個定位孔，所述信號過孔(120)從頂層貫穿至底層，信號過孔(120)用于連接所述第一同軸射頻連接器頭(300)的內插芯和第二同軸射頻連接器頭(400)的內插芯，所述地過孔組呈C型排布，兩組地過孔組的開口處正對，每組所述地過孔組包括至少7個地過孔(130)，所述地過孔(130)從頂層貫穿至底層并與PCB板(100)中的參考地電性連接，所述信號過孔(120)位于地過孔組的中心處，所述第一信號走線(110)兩端頭分別與兩個信號過孔(120)電性連接，第一信號走線(110)部分位于地過孔組開口中部，所述第一同軸射頻連接器頭(300)、毛紐扣連接器(200)、第二同軸射頻連接器頭(400)分別具有與測試PCB板(100)相匹配的定位孔，所述第二同軸射頻連接器頭(400)固定在PCB板(100)上，所述毛紐扣連接器(200)可拆卸的安裝在第一同軸射頻連接器頭(300)和PCB板(100)之間，所述毛紐扣連接器(200)包括殼體(210)和絕緣體(220)，所述絕緣體(220)固定在所述殼體(210)的中部，絕緣體(220)中央具有用于放置毛紐扣接觸體的圓形開口(221)。

2.根據權利要求1所述的自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于：所述第一同軸射頻連接器頭(300)、第二同軸射頻連接器頭(400)、殼體(210)通過螺絲與PCB板(100)固定連接。

3.根據權利要求1所述的自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于：每組所述地過孔組包括7個地過孔(130)。

4.根據權利要求1所述的自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于：所述第一信號線為直線型排布。

5.根據權利要求1所述的自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于:所述第一信號走線(110)外緣與其相鄰地過孔(130)中心的垂直間距D₁小于1.5毫米，相鄰兩個地過孔(130)中心的間距D₂小于1.5毫米。

6.根據權利要求1所述的自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于:所述信號過孔(120)的半徑D₃與第一同軸射頻連接器頭(300)內插芯、第二同軸射頻連接器頭(300)內插芯的半徑相匹配。

7.根據權利要求6所述的自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于:所述信號過孔(120)的半徑D₃為0.2毫米。

8.根據權利要求6所述的自校型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于:所述地過孔(130)中心與信號過孔(120)中心的間距D₅的數值介于至之間，所述地過孔(130)邊緣與信號過孔(120)中心的最小間距D₄的數值介于至之間，其中ε為PCB板(100)的相對介電常數，e為自然常數。

9.一種射頻毛紐扣自身插入損耗的測試方法，使用如權利要求1所述的自校準型射頻毛紐扣高頻性能測試工裝，其特征在于：包括以下步驟：

A.在PCB板(100)上取下毛紐扣連接器(200)，將待測毛紐扣接觸體安裝在毛紐扣連接器(200)上，然后將毛紐扣連接器(200)固定在第一同軸射頻連接器頭(300)和PCB板(100)之間；

B.將第一同軸射頻連接器頭(300)、第二同軸射頻連接器頭(400)與網絡分析儀連接，并通過網絡分析儀測得待測毛紐扣接觸體的測試插入損耗結果絕對值Sa12；

C.取出毛紐扣連接器(200)，將第一同軸射頻連接器頭(300)直接固定到PCB板(100)上；

D.將第一同軸射頻連接器頭(300)、第二同軸射頻連接器頭(400)與網絡分析儀連接，并通過網絡分析儀測得測試插入損耗結果絕對值Sb12；

E.計算待測毛紐扣接觸體的插入損耗值SDUT12，即SDUT12＝Sa12-Sb12；

F.測試完成。