[發(fā)明專利]一種動(dòng)力電池剩余壽命預(yù)測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011281565.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112379274A | 公開(公告)日: | 2021-02-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高建平;梁丹陽 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 河南科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/367 | 分類號(hào): | G01R31/367;G01R31/392;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 鄭州睿信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 41119 | 代理人: | 吳敏 |
| 地址: | 471023 河南*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 動(dòng)力電池 剩余 壽命 預(yù)測(cè) 方法 | ||
1.一種動(dòng)力電池剩余壽命預(yù)測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)獲取待預(yù)測(cè)動(dòng)力電池的當(dāng)前容量序列,當(dāng)前容量序列包括待預(yù)測(cè)動(dòng)力電池的當(dāng)前充放電循環(huán)序列號(hào)以及對(duì)應(yīng)的動(dòng)力電池容量;
2)將所述當(dāng)前容量序列中的動(dòng)力電池容量進(jìn)行小波分解,得到若干個(gè)小波系數(shù)及對(duì)應(yīng)的分量;
3)判斷若干個(gè)小波系數(shù)的大小,若某個(gè)小波系數(shù)大于等于設(shè)定閾值,則保留該小波系數(shù)對(duì)應(yīng)的分量并修正小波系數(shù);若某個(gè)小波系數(shù)小于設(shè)定閾值,則剔除該小波系數(shù)對(duì)應(yīng)的分量;
4)將保留的分量根據(jù)修正后的小波系數(shù)進(jìn)行重構(gòu),得到優(yōu)化后的當(dāng)前容量序列;
5)將優(yōu)化后的當(dāng)前容量序列輸入訓(xùn)練好的長短期記憶循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測(cè)模型進(jìn)行迭代預(yù)測(cè),得到待預(yù)測(cè)動(dòng)力電池的剩余壽命;所述長短期記憶循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測(cè)模型根據(jù)與待預(yù)測(cè)動(dòng)力電池型號(hào)相同的若干動(dòng)力電池的歷史容量序列訓(xùn)練得到。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動(dòng)力電池剩余壽命預(yù)測(cè)方法,其特征在于,根據(jù)閾值函數(shù)進(jìn)行分量的保留、剔除、以及小波系數(shù)的修正,所述閾值函數(shù)為:
其中,ωψ′為修正后的小波系數(shù);ωψ為修正前的小波系數(shù);λ為設(shè)定閾值;sgn()為符號(hào)函數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的動(dòng)力電池剩余壽命預(yù)測(cè)方法,其特征在于,所述步驟5)中還包括對(duì)優(yōu)化后的當(dāng)前容量序列中的動(dòng)力電池容量進(jìn)行歸一化的步驟,將優(yōu)化后的歸一化當(dāng)前容量序列輸入訓(xùn)練好的長短期記憶循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測(cè)模型。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的動(dòng)力電池剩余壽命預(yù)測(cè)方法,其特征在于,所述設(shè)定閾值根據(jù)啟發(fā)式的閾值設(shè)定準(zhǔn)則進(jìn)行確定,啟發(fā)式的閾值設(shè)定準(zhǔn)則為:
其中,w為N個(gè)小波系數(shù)的平方和;N為小波分解后得到的各層的小波系數(shù)的個(gè)數(shù)總和;f1為目標(biāo)函數(shù);f2為比較函數(shù);λ為設(shè)定閾值;λ1為由固定形式閾值準(zhǔn)則確定的第一閾值;λ2為由自適應(yīng)閾值準(zhǔn)則確定的第二閾值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動(dòng)力電池剩余壽命預(yù)測(cè)方法,其特征在于,訓(xùn)練長短期記憶循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測(cè)模型時(shí)的歷史容量序列為經(jīng)過小波分解和重構(gòu),優(yōu)化后的歷史容量序列。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
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