[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011274769.4 | 申請日: | 2020-11-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112951823A | 公開(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尹承燦;韓東煥 | 申請(專利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L27/06 | 分類號(hào): | H01L27/06;H01L21/8232;H01L21/8252 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 楊?yuàn)?/td> |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件,包括:
第一結(jié)構(gòu),包括:
第一半導(dǎo)體圖案,在垂直于襯底的上表面的豎直方向上從所述襯底突出,所述第一半導(dǎo)體圖案是溝道;
第一導(dǎo)電圖案,圍繞所述第一半導(dǎo)體圖案的上側(cè)壁并且不覆蓋所述第一半導(dǎo)體圖案的上表面,所述第一導(dǎo)電圖案是柵電極;
第一下雜質(zhì)區(qū),在所述第一半導(dǎo)體圖案下方位于所述襯底的上部,所述第一下雜質(zhì)區(qū)接觸所述第一半導(dǎo)體圖案的下表面,所述第一下雜質(zhì)區(qū)為源極區(qū)或漏極區(qū);以及
第一上雜質(zhì)區(qū),接觸所述第一半導(dǎo)體圖案的上表面,所述第一上雜質(zhì)區(qū)是所述源極區(qū)或所述漏極區(qū)中的另一個(gè);以及
第二結(jié)構(gòu),包括:
第二半導(dǎo)體圖案,在與所述襯底的上表面平行的水平方向上彼此間隔開,所述第二半導(dǎo)體圖案中的每一個(gè)在所述豎直方向上從所述襯底突出;
第二導(dǎo)電圖案,分別圍繞所述第二半導(dǎo)體圖案的上側(cè)壁,并且不覆蓋所述第二半導(dǎo)體圖案的上表面;以及
第一接觸插塞,電連接到所述第二導(dǎo)電圖案,
其中,所述第一結(jié)構(gòu)是豎直場效應(yīng)晶體管vfet,所述第二結(jié)構(gòu)包括電阻器或電容器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,所述第一半導(dǎo)體圖案和所述第二半導(dǎo)體圖案包括基本相同的半導(dǎo)體材料,所述第一導(dǎo)電圖案和所述第二導(dǎo)電圖案包括基本相同的金屬,并且所述第一下雜質(zhì)區(qū)和所述第一上雜質(zhì)區(qū)包括具有相同導(dǎo)電類型的雜質(zhì)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,所述第一半導(dǎo)體圖案和所述第二半導(dǎo)體圖案的上表面基本上彼此共面,并且所述第一導(dǎo)電圖案和所述第二導(dǎo)電圖案具有基本相同的厚度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,所述第一半導(dǎo)體圖案和所述第二半導(dǎo)體圖案的上表面分別與所述第一導(dǎo)電圖案和所述第二導(dǎo)電圖案的上表面基本共面。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,還包括所述襯底上的間隔物,所述間隔物覆蓋所述第一半導(dǎo)體圖案和所述第二半導(dǎo)體圖案的下側(cè)壁,
其中,所述第一導(dǎo)電圖案和所述第二導(dǎo)電圖案形成在所述間隔物上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,還包括:
第二接觸插塞,電連接到所述第一導(dǎo)電圖案;
第三接觸插塞,接觸所述第一上雜質(zhì)區(qū);以及
第四接觸插塞,接觸所述第一下雜質(zhì)區(qū)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體器件,還包括所述襯底上的第三導(dǎo)電圖案,所述第三導(dǎo)電圖案連接到所述第一導(dǎo)電圖案,
其中,所述第二接觸插塞接觸所述第三導(dǎo)電圖案的上表面。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,所述第二結(jié)構(gòu)的第二導(dǎo)電圖案是所述電阻器。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體器件,還包括所述襯底上的連接圖案,所述連接圖案將所述第二導(dǎo)電圖案彼此連接并且包括與所述第二導(dǎo)電圖案基本相同的材料。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體器件,還包括所述襯底上的焊盤,所述焊盤包括與所述第二導(dǎo)電圖案基本相同的材料,并且所述焊盤中的每一個(gè)焊盤在所述第二導(dǎo)電圖案中的一個(gè)第二導(dǎo)電圖案的一側(cè),
其中,所述第一接觸插塞分別接觸所述焊盤的上表面。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體器件,還包括:
第二下雜質(zhì)區(qū),在所述第二半導(dǎo)體圖案下方位于所述襯底的上部,所述第二下雜質(zhì)區(qū)接觸所述第二半導(dǎo)體圖案的下表面;以及
第二上雜質(zhì)區(qū),接觸所述第二半導(dǎo)體圖案的上表面,
其中,沒有電信號(hào)被施加到所述第二下雜質(zhì)區(qū)或所述第二上雜質(zhì)區(qū)。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,還包括所述第二導(dǎo)電圖案之間的層間絕緣層,
其中,所述第二結(jié)構(gòu)的第二導(dǎo)電圖案和所述層間絕緣層是所述電容器。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





