[發明專利]檢測電路、鎖相環系統、集成電路芯片及電子設備有效
| 申請號: | 202011233508.8 | 申請日: | 2020-11-06 |
| 公開(公告)號: | CN112311388B | 公開(公告)日: | 2022-09-27 |
| 發明(設計)人: | 姚舜;王文根 | 申請(專利權)人: | 海光信息技術股份有限公司 |
| 主分類號: | H03L7/085 | 分類號: | H03L7/085;H03L7/099;H03L7/18 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 鐘揚飛 |
| 地址: | 300450 天津市濱海新區華苑產*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 電路 鎖相環 系統 集成電路 芯片 電子設備 | ||
本申請涉及一種檢測電路、鎖相環系統、集成電路芯片及電子設備。本申請實施例提供的檢測電路包括參考時鐘采樣模塊、反饋時鐘采樣模塊和結果輸出模塊。參考時鐘采樣模塊用于以參考時鐘作為工作頻率,對鑒頻鑒相器輸出的第一鑒別信號進行采樣,獲得第一上升沿采樣結果和第一下降沿采樣結果。反饋時鐘采樣模塊用于以反饋時鐘作為工作頻率,對鑒頻鑒相器輸出的第二鑒別信號進行采樣,獲得第二上升沿采樣結果和第二下降沿采樣結果。結果輸出模塊用于根據第一上升沿采樣結果、第一下降沿采樣結果、第二上升沿采樣結果和第二下降沿采樣結果,獲得狀態檢測結果。本申請實施例提供的檢測電路能夠獲取實時的狀態檢測結果,其能夠保證狀態檢測結果的準確性。
技術領域
本申請涉及計算機集成電路設計與制造技術領域,具體而言,涉及一種檢測電路、鎖相環系統、集成電路芯片及電子設備。
背景技術
鎖相環系統是一種負反饋控制系統,其主要功能為:利用頻率相位差產生的電壓,去調諧壓控振蕩器以保證鎖相環系統產生的反饋時鐘與參考時鐘具有相同頻率及相位,使得鎖相環系統的輸出頻率最終穩定在目標頻率。基于此,在鎖相環系統中,通常需要搭建檢測電路,以檢測鎖相環系統產生的輸出時鐘是否穩定在目標頻率。
現有技術中,檢測電路通常包括計數器,計數器分別對參考時鐘、振蕩器或反饋時鐘進行計數,獲得目標計數周期內參考時鐘的第一計數結果和目標計數周期內振蕩器或反饋時鐘的第二計數結果,若第一計數結果和第二計數結果位于預設差值范圍內,則判定鎖相環系統處于鎖定狀態,也即,判定鎖相環系統產生的輸出時鐘是否穩定在目標頻率,若第一計數結果和第二計數結果超出預設差值范圍,則認為鎖相環系統處于不穩定或失鎖狀態,也即,判定鎖相環系統產生的輸出時鐘不穩定。顯然,該種方式由于受到目標計數周期和差值范圍等取值設定的影響,不僅無法實現實時檢測,還無法準確的判斷鎖相環系統是否處于鎖定狀態。
發明內容
本申請的目的在于,提供一種檢測電路、鎖相環系統、集成電路芯片及電子設備,以解決上述問題。
第一方面,本申請實施例提供的檢測電路,包括參考時鐘采樣模塊、反饋時鐘采樣模塊和結果輸出模塊;
參考時鐘采樣模塊用于以參考時鐘作為工作頻率,對鑒頻鑒相器在輸入參考時鐘之后,輸出的第一鑒別信號進行采樣,獲得第一上升沿采樣結果和第一下降沿采樣結果;
反饋時鐘采樣模塊用于以反饋時鐘作為工作頻率,對鑒頻鑒相器在輸入反饋時鐘之后,輸出的第二鑒別信號進行采樣,獲得第二上升沿采樣結果和第二下降沿采樣結果;
結果輸出模塊用于根據第一上升沿采樣結果、第一下降沿采樣結果、第二上升沿采樣結果和第二下降沿采樣結果,獲得狀態檢測結果,狀態檢測結果用于表征包括鑒頻鑒相器的鎖相環系統是否處于鎖定狀態。
結合第一方面,本申請實施例還提供了第一方面的第一種可選的實施方式,參考時鐘采樣模塊包括第一觸發器和第二觸發器;
第一觸發器的時鐘控制端口通過第一延時模塊接入參考時鐘,第一觸發器的輸入端口接入第一鑒別信號,第一觸發器的輸出端口用于輸出第一上升沿采樣結果,或用于輸出第一下降沿采樣結果;
第二觸發器的時鐘控制端口通過第一延時模塊接入參考時鐘,第二觸發器的輸入端口接入第一鑒別信號,第二觸發器的輸出端口用于在第一觸發器的輸出端口輸出第一下降沿采樣結果時,輸出第一上升沿采樣結果,以及用于在第一觸發器的輸出端口輸出第一上升沿采樣結果時,輸出第一下降沿采樣結果。
結合第一方面的第一種可選的實施方式,本申請實施例還提供了第一方面的第二種可選的實施方式,反饋時鐘采樣模塊包括第三觸發器和第四觸發器;
第三觸發器的時鐘控制端口通過第二延時模塊接入反饋時鐘,第三觸發器的輸入端口接入第二鑒別信號,第三觸發器的輸出端口用于輸出第二上升沿采樣結果,或用于輸出第二下降沿采樣結果;
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