[發明專利]位置檢測裝置

有效

• 申請號: 202011229778.1
• 申請日: 2020-11-06
• 公開（公告）號: CN112781476B
• 公開（公告）日: 2023-02-24
• 發明（設計）人: 石川原俊夫;守屋貴裕;大山俊彥
• 申請（專利權）人: TDK株式會社
• 主分類號: G01B7/00
• 分類號: G01B7/00
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 楊琦

1.一種位置檢測裝置，其包括產生外部磁場的磁尺、檢測作為所述外部磁場的一部分的對象磁場和對象磁場以外的噪聲磁場的磁傳感器，所述位置檢測裝置的特征在于：

所述磁尺包含相對于所述磁傳感器的相對位置能夠沿第1基準方向變化，并且沿所述第1基準方向配置的多個磁體，

所述多個磁體各自具有作為所述第1基準方向的尺寸的規定的寬度，

所述多個磁體中的、位于作為與所述第1基準方向平行的一個方向的第1方向的最靠前側的磁體，具有位于該磁體的所述第1方向的前側的第1端部，

所述多個磁體中的、位于與所述第1方向相反的第2方向的最靠前側的磁體，具有位于該磁體的所述第2方向的前側的第2端部，

所述磁傳感器包含各自在遠離所述磁尺的位置檢測所述對象磁場與所述噪聲磁場的合成磁場的多個檢測器，

所述多個檢測器各自配置成，在設所述多個磁體的個數為n，從所述第1端部至所述第2端部的距離為M，所述多個磁體各自的所述寬度為W，并且所述W為比0大且M/n以下，與所述第1基準方向正交的第2基準方向上的所述多個磁體各自與其檢測器的間隔為AG，且N為0.4以上且2以下的數時，

滿足AG＝N(M-W)/(n-1)。

2.如權利要求1所述的位置檢測裝置，其特征在于：

N為0.5以上且2以下的數。

3.如權利要求1所述的位置檢測裝置，其特征在于：

所述磁尺還包含將所述多個磁體磁連接的由磁性材料構成的磁軛。

4.如權利要求1所述的位置檢測裝置，其特征在于：

所述多個檢測器配置成沿所述第1基準方向排列。

5.如權利要求1所述的位置檢測裝置，其特征在于：

所述多個檢測器各自包含檢測所述合成磁場的第3方向的成分的至少一個第1磁檢測元件、檢測所述合成磁場的與所述第3方向不同的第4方向的成分的至少一個第2磁檢測元件的、任一者或兩者。

6.如權利要求5所述的位置檢測裝置，其特征在于：

所述多個檢測器各自包括包含所述至少一個第1磁檢測元件且生成表示所述合成磁場的所述第3方向的成分的強度的第1檢測信號的第1檢測電路、和包含所述至少一個第2磁檢測元件且生成表示所述合成磁場的所述第4方向的成分的強度的第2檢測信號的第2檢測電路的、任一者或兩者，

所述磁傳感器還包含處理器，

所述處理器，

通過求取由所述多個檢測器的所述第1檢測電路生成的多個所述第1檢測信號中的至少兩個之差、和由所述多個檢測器的所述第2檢測電路生成的多個所述第2檢測信號中的至少兩個之差的、任一者或兩者的運算處理，生成一個或兩個處理后信號，

使用所述一個或兩個處理后信號生成與所述相對位置具有對應關系的檢測值。

7.如權利要求5所述的位置檢測裝置，其特征在于：

所述多個檢測器各自包含所述至少一個第1磁檢測元件和所述至少一個第2磁檢測元件，并且包括包含所述至少一個第1磁檢測元件且生成表示所述合成磁場的所述第3方向的成分的強度的第1檢測信號的第1檢測電路、和包含所述至少一個第2磁檢測元件且生成表示所述合成磁場的所述第4方向的成分的強度的第2檢測信號的第2檢測電路，

所述磁傳感器還包含處理器，

所述處理器，

通過包含求取由所述多個檢測器的所述第1檢測電路生成的多個所述第1檢測信號中的至少兩個之差的運算處理，生成第1處理后信號，

通過包含求取由所述多個檢測器的所述第2檢測電路生成的多個所述第2檢測信號中的至少兩個之差的運算處理，生成第2處理后信號，

使用所述第1處理后信號和所述第2處理后信號，生成與所述相對位置具有對應關系的檢測值。

8.如權利要求5所述的位置檢測裝置，其特征在于：

所述至少一個第1磁檢測元件為至少一個第1磁阻效應元件，

所述至少一個第2磁檢測元件為至少一個第2磁阻效應元件。