[發(fā)明專利]一種O型圈缺陷自動檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011226491.3 | 申請日: | 2020-11-04 |
| 公開(公告)號: | CN112362260B | 公開(公告)日: | 2021-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 許永升 | 申請(專利權(quán))人: | 鹽城喬勝機動車配件有限公司 |
| 主分類號: | G01M3/26 | 分類號: | G01M3/26;G01M3/06;G01M13/005 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 224041 江蘇省鹽*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 缺陷 自動檢測 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種O型圈缺陷自動檢測裝置,包括集氣瓶,所述集氣瓶的上表面固定連接有接口,所述集氣瓶的前表面固定連接有壓力表,所述集氣瓶的一側(cè)固定連接有進(jìn)氣口,所述接口的一側(cè)活動連接有開關(guān),所述接口的外表面固定連接有測試槽,所述接口的上表面活動連接有密封蓋,所述密封蓋的內(nèi)表面活動連接有密封墊,所述接口的內(nèi)部設(shè)置有出氣口;通過設(shè)計的進(jìn)氣口、壓力表、開關(guān)、測試槽和密封蓋,解決了O型密封圈在使用時,一般用于對氣體或者油液的密封,以防止其在使用的過程中發(fā)生泄漏,為了避免密封圈在使用的過程中由于質(zhì)量或者密封圈本身的問題導(dǎo)致所需密封物質(zhì)泄漏的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于O型密封圈技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種O型圈缺陷自動檢測裝置。
背景技術(shù)
O型密封圈是一種截面為圓形的橡膠密封圈,因其截面為O型,故稱其為O型橡膠密封圈,也叫O型圈,開始出現(xiàn)在19世紀(jì)中葉,當(dāng)時用它作蒸汽機汽缸的密封元件。
現(xiàn)有的O型密封圈在使用時,一般用于對氣體或者油液的密封,以防止其在使用的過程中發(fā)生泄漏,為了避免密封圈在使用的過程中由于質(zhì)量或者密封圈本身的問題導(dǎo)致所需密封物質(zhì)泄漏的問題,為此我們提出一種O型圈缺陷自動檢測裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種O型圈缺陷自動檢測裝置,以解決上述背景技術(shù)中提出的O型密封圈在使用時,一般用于對氣體或者油液的密封,以防止其在使用的過程中發(fā)生泄漏,為了避免密封圈在使用的過程中由于質(zhì)量或者密封圈本身的問題導(dǎo)致所需密封物質(zhì)泄漏的問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種O型圈缺陷自動檢測裝置,包括集氣瓶,所述集氣瓶的上表面固定連接有接口,所述集氣瓶的前表面固定連接有壓力表,所述集氣瓶的一側(cè)固定連接有進(jìn)氣口,所述接口的一側(cè)活動連接有開關(guān),所述接口的外表面固定連接有測試槽,所述接口的上表面活動連接有密封蓋,所述密封蓋的內(nèi)表面活動連接有密封墊,所述接口的內(nèi)部設(shè)置有出氣口。
優(yōu)選的,所述接口的外壁開設(shè)有滑槽,所述密封蓋內(nèi)表面的底端固定連接有限位塊,所述限位塊的上表面固定連接有卡塊,所述卡塊的外表面活動連接有卡槽,所述接口外壁的外部固定連接有壓縮彈簧,所述壓縮彈簧的一端固定連接有連接塊,所述連接塊的上表面固定連接有壓塊。
優(yōu)選的,所述測試槽的內(nèi)部填充有透明液體,且液位高度和密封蓋的高度相等。
優(yōu)選的,所述滑槽的寬度和限位塊的寬度相等,所述卡塊的直徑和卡槽的直徑相等。
優(yōu)選的,所述壓縮彈簧和壓塊通過連接塊固定連接,所述限位塊和壓塊的上表面相互貼合。
優(yōu)選的,所述密封墊位于接口和密封蓋之間,且接口和密封蓋均與密封墊相互貼合。
優(yōu)選的,所述滑槽的底端開設(shè)有活動槽,且連接塊、壓縮彈簧和壓塊均位于槽內(nèi)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:
1、通過設(shè)計的進(jìn)氣口、壓力表、開關(guān)、測試槽和密封蓋,解決了O型密封圈在使用時,一般用于對氣體或者油液的密封,以防止其在使用的過程中發(fā)生泄漏,為了避免密封圈在使用的過程中由于質(zhì)量或者密封圈本身的問題導(dǎo)致所需密封物質(zhì)泄漏的問題。
2、通過設(shè)計的限位塊、連接塊、壓縮彈簧、壓塊和卡塊,解決了O型圈缺陷自動檢測裝置在使用過程中需要將密封蓋和接口之間進(jìn)行連接,為了避免連接的過程中不夠簡便,延長測試前準(zhǔn)備所需的時間,降低裝置工作效率的問題。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明的測試槽俯視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本發(fā)明的密封蓋橫剖結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為本發(fā)明的接口側(cè)面剖視結(jié)構(gòu)示意圖。
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