[發(fā)明專利]雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量系統(tǒng)、方法及相關(guān)設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011222872.4 | 申請日: | 2020-11-05 |
| 公開(公告)號: | CN112461126B | 公開(公告)日: | 2023-01-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王晗;黎家耀 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 蘇云輝 |
| 地址: | 510060 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 讀數(shù) 絕對 光柵尺 測量 系統(tǒng) 方法 相關(guān) 設(shè)備 | ||
1.一種雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量系統(tǒng),其特征在于,包括:第一讀數(shù)頭模塊、第二讀數(shù)頭模塊,待測光柵尺、基準(zhǔn)尺,測量運(yùn)算模塊和上位機(jī);
所述第一讀數(shù)頭模塊用于接收第一讀數(shù)頭的測量值;
所述第二讀數(shù)頭模塊用于接收第二讀數(shù)頭的測量值;
所述測量運(yùn)算模塊用于根據(jù)測量值計算基準(zhǔn)尺的第一位置信息和待測光柵尺的第二位置信息并發(fā)送至所述上位機(jī);
所述上位機(jī)用于接收所述第一位置信息和第二位置信息以及基準(zhǔn)尺的標(biāo)準(zhǔn)位置信息,對所述第一位置信息和所述標(biāo)準(zhǔn)位置信息進(jìn)行擬合;根據(jù)擬合結(jié)果得到所述第一位置信息和所述標(biāo)準(zhǔn)位置信息之間的函數(shù)關(guān)系;根據(jù)所述函數(shù)關(guān)系對第二位置信息進(jìn)行校準(zhǔn),得到待測光柵尺的實際位置信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量系統(tǒng),其特征在于,還包括:控制模塊,用于響應(yīng)于所述上位機(jī)的模式切換指令,發(fā)送更換基準(zhǔn)尺或待測光柵尺的更換信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量系統(tǒng),其特征在于,還包括:傳輸模塊,用于實現(xiàn)上位機(jī)和模塊之間的數(shù)據(jù)傳輸。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量系統(tǒng),其特征在于,所述傳輸模塊具體為USB傳輸模塊。
5.一種雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量方法,其特征在于,應(yīng)用于權(quán)利要求1至4任一項所述的雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量系統(tǒng),由上位機(jī)執(zhí)行,包括校準(zhǔn)步驟和測量步驟:
所述校準(zhǔn)步驟包括:
接收第一位置信息和基準(zhǔn)尺的標(biāo)準(zhǔn)位置信息;
對所述第一位置信息和所述標(biāo)準(zhǔn)位置信息進(jìn)行擬合;
根據(jù)擬合結(jié)果得到所述第一位置信息和所述標(biāo)準(zhǔn)位置信息之間的函數(shù)關(guān)系;
所述測量步驟包括:
接收第二位置信息;
根據(jù)所述函數(shù)關(guān)系對第二位置信息進(jìn)行校準(zhǔn),得到待測光柵尺的實際位置信息。
6.一種雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備包括處理器以及存儲器:
所述存儲器用于存儲程序代碼,并將所述程序代碼傳輸給所述處理器;
所述處理器用于根據(jù)所述程序代碼中的指令執(zhí)行權(quán)利要求5所述的雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量方法。
7.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),其特征在于,所述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)用于存儲程序代碼,所述程序代碼用于執(zhí)行權(quán)利要求5所述的雙讀數(shù)頭絕對式光柵尺的測量方法。
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