[發明專利]一體式生長的馬賽克式圖像傳感器結構和制備方法在審
| 申請號: | 202011206090.1 | 申請日: | 2020-11-02 |
| 公開(公告)號: | CN112331682A | 公開(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發明(設計)人: | 張晨;劉舒揚;王天鶴;趙安娜;張云昊;潘建選 | 申請(專利權)人: | 天津津航技術物理研究所 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 中國兵器工業集團公司專利中心 11011 | 代理人: | 王雪芬 |
| 地址: | 300308 天津*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 體式 生長 馬賽克 圖像傳感器 結構 制備 方法 | ||
1.一體式生長的馬賽克式圖像傳感器結構,其特征在于,該結構為2*2馬賽克式的圖像傳感器結構,其中四個像素中的三個RGB像素結構上增加了干涉截止膜以濾除紅外補光燈的影響,另外一個像素上為全透區域,可接收紅外補光燈的光線,作為對比濾波的基準。
2.如權利要求1所述的圖像傳感器結構,其特征在于,所述干涉截止膜的膜系透過要求為在380~700nm范圍內平均透過率95%,在800~900nm范圍內平均透過率1%。
3.如權利要求2所述的圖像傳感器結構,其特征在于,所述干涉截止膜需要濾除的波長為中心波長在850nm的紅外補光燈的光線。
4.如權利要求3所述的圖像傳感器結構,其特征在于,所述干涉截止膜的材料為Si3N4和SiO2,光譜范圍為380nm-900nm。
5.如權利要求4所述的圖像傳感器結構,其特征在于,所述干涉截止膜這種膜系結構的參數如表1:
表1膜系結構參數表
6.一種如權利要求1至5中任一項圖像傳感器結構的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
在圖像傳感器晶圓生長完后,在上面鍍一層干涉截止膜,該干涉截止膜采用高低折射率交叉堆疊的方式生長;然后旋涂一層光刻膠,再曝光出一個像素的全透區域,并刻蝕掉曝光區域的干涉截止膜,然后去除光刻膠,在具備干涉截止膜的像素結構上再添加一層RGB的顏色濾波器,完成圖像傳感器結構的制備。
7.一種如權利要求1至5中任一項圖像傳感器結構的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:在圖像傳感器晶圓生長完后,先旋涂一層較厚的光刻膠,然后將需要生長干涉截止膜的三個像素區域進行曝光顯影去除,然后在這三個像素區域生長一層干涉截止膜,該干涉截止膜采用高低折射率材料交叉堆疊的方式生長;隨后剝離全透區域的光刻膠,并將上層的干涉截止膜一并去除。最后在具備干涉截止膜的那個像素結構上再添加一層RGB的顏色濾波器,完成圖像傳感器結構的制備。
8.一種如權利要求1至5中任一項圖像傳感器結構在安防監控領域中的應用。
9.一種如權利要求1至5中任一項圖像傳感器結構在半導體技術領域中的應用。
10.一種如權利要求6或7所述的方法在半導體技術領域中的應用。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





