[發明專利]芯片掃描測試方法、裝置、處理器芯片及服務器

在審

• 申請號: 202011199893.9
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112363045A
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 林耀坤
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市廣友專利事務所有限責任公司 11237
• 代理人: 張仲波

1.一種芯片掃描測試方法，其特征在于，包括：

獲取目標芯片的掃描測試向量；

檢測所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序是否滿足預設的最優向量順序；

響應于所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序滿足所述最優向量順序，基于所述掃描測試向量對所述目標芯片進行自動測試設備ATE上機測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在獲取目標芯片的掃描測試向量之前，通過初始掃描測試向量對所述目標芯片進行ATE上機測試，得到測試結果；

根據所述測試結果對所述初始掃描測試向量中預設部分向量的向量順序進行調整，通過調整后的掃描測試向量對所述目標芯片再次進行ATE上機測試，直到測試結果滿足預設條件，得到所述最優向量順序；

根據所述最優向量順序生成最優向量順序檢測算法。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，檢測所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序是否滿足預設的最優向量順序，包括：

調用所述最優向量順序檢測算法檢測所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序是否滿足所述最優向量順序。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在檢測所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序是否滿足預設的最優向量順序之后，響應于所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序不滿足所述最優向量順序，發出重新生成掃描測試向量的提示消息。

5.根據權利要求1至4任一項所述的方法，其特征在于，所述預設部分向量為所述掃描測試向量中未通過電子設計自動化EDA算法生成的向量。

6.一種芯片掃描測試裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，被配置為獲取目標芯片的掃描測試向量；

檢測模塊，被配置為檢測所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序是否滿足預設的最優向量順序；

第一測試模塊，被配置為響應于所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序滿足所述最優向量順序，基于所述掃描測試向量對所述目標芯片進行自動測試設備ATE上機測試。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

第二測試模塊，被配置為在獲取目標芯片的掃描測試向量之前，通過初始掃描測試向量對所述目標芯片進行ATE上機測試，得到測試結果；

第三測試模塊，被配置為根據所述測試結果對所述初始掃描測試向量中預設部分向量的向量順序進行調整，通過調整后的掃描測試向量對所述目標芯片再次進行ATE上機測試，直到測試結果滿足預設條件，得到所述最優向量順序；

生成模塊，被配置為根據所述最優向量順序生成最優向量順序檢測算法。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述檢測模塊被配置為：

調用所述最優向量順序檢測算法檢測所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序是否滿足所述最優向量順序。

9.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

提示模塊，被配置為在檢測所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序是否滿足預設的最優向量順序之后，響應于所述掃描測試向量中的預設部分向量的順序不滿足所述最優向量順序，發出重新生成掃描測試向量的提示消息。

10.根據權利要求6至9任一項所述的裝置，其特征在于，所述預設部分向量為所述掃描測試向量中未通過電子設計自動化EDA算法生成的向量。

11.一種處理器芯片，其特征在于，包括：至少一個處理器核心、緩存；

所述處理器核心，用于執行前述權利要求1-5任一項所述的芯片掃描測試方法。

12.一種服務器，其特征在于，包括：殼體、處理器、存儲器、電路板和電源電路，其中，電路板安置在殼體圍成的空間內部，處理器和存儲器設置在電路板上；電源電路，用于為上述電子設備的各個電路或器件供電；存儲器用于存儲可執行程序代碼；所述處理器通過讀取存儲器中存儲的可執行程序代碼來運行與可執行程序代碼對應的程序，用于執行前述權利要求1-5中任一項所述的芯片掃描測試方法。