[發(fā)明專利]一種陣列基板及其制備方法、顯示裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011184929.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112310196B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-02-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳發(fā)祥;白青;孫丹丹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥維信諾科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/423;H01L27/12;H01L29/786;H01L21/34;H01L21/84;G09F9/33 |
| 代理公司: | 北京三聚陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250 | 代理人: | 薛異榮 |
| 地址: | 230037 安徽省合*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 陣列 及其 制備 方法 顯示裝置 | ||
一種陣列基板及其制備方法、顯示裝置,陣列基板包括:含氫層;氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管;吸氫層,所述吸氫層位于所述含氫層和所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管之間,所述吸氫層的材料包括氧化物半導(dǎo)體材料。所述陣列基板能夠降低氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管的閾值電壓的負(fù)向偏移程度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種陣列基板及其制備方法、顯示裝置。
背景技術(shù)
隨著信息社會(huì)的進(jìn)步,顯示裝置得到廣泛的應(yīng)用。顯示裝置包括液晶顯示器裝置、等離子體顯示面板裝置、有機(jī)發(fā)光二極管顯示裝置等。
其中,液晶顯示器裝置和有機(jī)發(fā)光二極管顯示裝置包括用于電學(xué)連接像素區(qū)域的薄膜晶體管。薄膜晶體管用于驅(qū)動(dòng)像素區(qū)域以顯示圖像。所述薄膜晶體管包括有源層、源極、漏極、柵介質(zhì)層和柵極,其中,所述有源層的材料包括非晶硅、多晶硅、氧化物半導(dǎo)體材料中的一種。當(dāng)有源層的材料為氧化物半導(dǎo)體材料時(shí)的導(dǎo)電性優(yōu)于有源層的材料為非晶硅時(shí)的導(dǎo)電性。其次,有源層的材料為氧化物半導(dǎo)體材料時(shí)的制造工藝也較為簡(jiǎn)單。
然而,對(duì)于顯示裝置中,有源層的材料為氧化物半導(dǎo)體材料的薄膜晶體管,薄膜晶體管的閾值電壓容易發(fā)生嚴(yán)重的負(fù)向偏移。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于克服現(xiàn)有技術(shù)中如何有效的降低氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管的閾值電壓發(fā)生負(fù)向偏移的問(wèn)題。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供一種陣列基板,包括:含氫層;氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管;吸氫層,所述吸氫層位于所述含氫層和所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管之間,所述吸氫層的材料包括氧化物半導(dǎo)體材料。
可選的,所述吸氫層的材料為氧化銦鎵鋅。
可選的,還包括:基板;所述含氫層包括第一含氫絕緣層,第一含氫絕緣層位于所述基板上;所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管位于部分所述第一含氫絕緣層背向所述基板的一側(cè);所述吸氫層包括第一吸氫層,所述第一吸氫層位于所述第一含氫絕緣層和所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管之間。
可選的,所述第一含氫絕緣層的材料為氮化硅。
可選的,所述第一吸氫層具有導(dǎo)電性,所述第一吸氫層的導(dǎo)電性適于在第一吸氫層經(jīng)過(guò)吸氫后提高;所述第一吸氫層位于部分的第一含氫絕緣層和所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管之間。
可選的,所述第一吸氫層中載子濃度大于或等于1E16/cm3。
可選的,所述第一吸氫層的厚度的取值范圍大于或等于500埃。
可選的,所述第一吸氫層的厚度的取值范圍大于或等于500埃,且小于或等于1500埃。
可選的,所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管包括氧化物半導(dǎo)體有源層、以及位于所述氧化物半導(dǎo)體有源層背向所述基底一側(cè)的第一柵極;所述第一吸氫層作為所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管的第二柵極。
可選的,第一吸氫層在基板上的投影面積大于氧化物半導(dǎo)體有源層在基板上的投影面積,且第一吸氫層在基板上的投影面積與氧化物半導(dǎo)體有源層在基板上的投影面積之差小于或等于1um2。
可選的,陣列基板還包括:位于第一含氫絕緣層背向基板一側(cè)且覆蓋第一吸氫層的第二絕緣層;所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管位于部分所述第二絕緣層背向所述基板的一側(cè)。
可選的,所述第二絕緣層的材料為氧化硅。
可選的,所述第一吸氫層呈絕緣性。
可選的,所述第一吸氫層整面覆蓋所述第一含氫絕緣層。
可選的,所述第一吸氫層的厚度的取值范圍小于或等于500埃。
可選的,第一吸氫層的厚度大于或等于100埃,且小于或等于500埃。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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