[發(fā)明專利]電子設(shè)備和電子設(shè)備的操作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011184581.0 | 申請日: | 2020-10-29 |
| 公開(公告)號: | CN113078887A | 公開(公告)日: | 2021-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 田弼在 | 申請(專利權(quán))人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | H03K3/02 | 分類號: | H03K3/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子設(shè)備 操作方法 | ||
公開了一種電子設(shè)備,包括:單位間隔檢測器,包括多個延遲單元,并且接收第一信號、第二信號和第三信號,并從第一信號、第二信號和第三信號中檢測指示單位間隔的代碼;時鐘恢復(fù)電路,響應(yīng)于代碼,從第一信號、第二信號和第三信號產(chǎn)生時鐘信號;以及數(shù)據(jù)恢復(fù)電路,響應(yīng)于代碼和時鐘信號,從第一信號、第二信號和第三信號產(chǎn)生第一接收信號、第二接收信號和第三接收信號。延遲單元的總延遲量小于單位間隔的長度,并且單位間隔檢測器通過使用延遲單元來執(zhí)行包括粗略檢測和精細(xì)檢測在內(nèi)的多級檢測操作。
相關(guān)申請的交叉引用
本申請要求于2020年1月6日在韓國知識產(chǎn)權(quán)局遞交的韓國專利申請No.10-2020-0001641的優(yōu)先權(quán),其公開內(nèi)容通過整體引用并入本文中。
技術(shù)領(lǐng)域
本文描述的發(fā)明構(gòu)思的實施例涉及一種存儲設(shè)備,更具體地,涉及一種包括嵌入式時鐘的從數(shù)據(jù)中恢復(fù)時鐘信號的電子設(shè)備。
背景技術(shù)
正在使用和開發(fā)各種協(xié)議以在不同設(shè)備之間數(shù)據(jù)通信。如今,C-PHY協(xié)議正在被開發(fā)為協(xié)議之一。C-PHY的特征在于,單獨的時鐘信號在不同的設(shè)備之間不進(jìn)行交換。
C-PHY發(fā)射器可以將數(shù)據(jù)信號和嵌入式時鐘組合,并且可以發(fā)送所組合的信號。C-PHY接收器被配置為從接收到的信號中恢復(fù)時鐘信號,并通過使用時鐘信號從接收到的信號中恢復(fù)數(shù)據(jù)。
多個延遲元件可以用于從接收到的信號中恢復(fù)時鐘信號。隨著C-PHY允許的頻率范圍的增加,C-PHY的接收器所需的延遲元件的數(shù)量增加。延遲元件數(shù)量的增加可能導(dǎo)致C-PHY接收器的尺寸增加以及相關(guān)的成本增加。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明構(gòu)思的實施例提供了一種通過使用減少數(shù)量的延遲元件來恢復(fù)時鐘信號的電子設(shè)備以及該電子設(shè)備的操作方法。
根據(jù)示例性實施例,一種電子設(shè)備包括:單位間隔檢測器,包括多個延遲單元,并且接收第一信號、第二信號和第三信號,并從所述第一信號、所述第二信號和所述第三信號中檢測指示單位間隔的代碼;時鐘恢復(fù)電路,響應(yīng)于所述代碼,從所述第一信號、所述第二信號和所述第三信號產(chǎn)生時鐘信號;以及數(shù)據(jù)恢復(fù)電路,響應(yīng)于所述代碼和所述時鐘信號,從所述第一信號、所述第二信號和所述第三信號產(chǎn)生第一接收信號、第二接收信號和第三接收信號。多個延遲單元的總延遲量小于單位間隔的長度,并且單位間隔檢測器通過使用多個延遲單元來執(zhí)行包括粗略檢測和精細(xì)檢測在內(nèi)的多級檢測操作。
根據(jù)示例性實施例,一種電子設(shè)備包括:第一延遲單元,包括順序連接的第一延遲元件和至少一個第二延遲元件,接收在高電平和低電平之間切換的第一信號并延遲所述第一信號以作為第二信號進(jìn)行輸出;第二延遲單元,包括順序連接的至少兩個第三延遲元件,從所述第一延遲單元接收所述第二信號并延遲所述第二信號以作為第三信號進(jìn)行輸出;計數(shù)器,與所述第三信號同步地執(zhí)行計數(shù)操作并輸出第一代碼作為所述計數(shù)操作的結(jié)果;第一判定塊,連接到所述第一延遲單元,與所述第一信號的下降沿同步地檢測來自所述第一延遲單元的第一內(nèi)部信號的上升沿或下降沿,并輸出第一比特作為所述第一內(nèi)部信號的上升沿或下降沿的檢測結(jié)果;第二判定塊,連接到所述第二延遲單元,與所述第一信號的下降沿同步地檢測來自所述第二延遲單元的第二內(nèi)部信號的上升沿或下降沿,并輸出第二比特作為所述第二內(nèi)部信號的上升沿或下降沿的檢測結(jié)果;以及編碼器,從所述第一比特和所述第二比特產(chǎn)生第二代碼。所述第二信號通過反相器反饋給所述第一延遲元件。
根據(jù)示例性實施例,一種電子設(shè)備的操作方法包括:接收在高電平與低電平之間切換的第一信號;響應(yīng)于所述第一信號,產(chǎn)生在所述高電平和所述低電平之間切換的第二信號,所述第二信號的周期小于所述第一信號的周期;對當(dāng)所述第一信號處于高電平時所述第二信號通過包括第一延遲單元和第二延遲單元在內(nèi)的延遲回路的次數(shù)進(jìn)行計數(shù),并產(chǎn)生第一代碼作為所述計數(shù)的結(jié)果;與所述第一信號的下降沿同步地檢測所述延遲回路上所述第二信號的上升沿或下降沿存在的位置,并產(chǎn)生第二代碼作為所述檢測的結(jié)果;以及組合所述第一代碼和所述第二代碼,并產(chǎn)生第三代碼作為所述組合的結(jié)果。
附圖說明
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于三星電子株式會社,未經(jīng)三星電子株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011184581.0/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





