[發(fā)明專利]一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011180850.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112327134A | 公開(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李生好;雷國平;吳媛媛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶工程職業(yè)技術(shù)學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 濟(jì)南鼎信專利商標(biāo)代理事務(wù)所(普通合伙) 37245 | 代理人: | 陳良 |
| 地址: | 402260 重*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 擴(kuò)展 量子 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,包括底座(4)、上安裝板(2)、下安裝板(5)和控制板(1);
底座(4)設(shè)置在地面上,下安裝板(5)設(shè)置在底座(4)的頂部;下安裝板(5)上設(shè)置有“L”型的第二安裝架(6),第二安裝架(6)上設(shè)置有第二傳送裝置(61);上安裝板(2)設(shè)置在下安裝板(5)的正上方,上安裝板(2)上設(shè)置有“L”型的第一安裝架(3);第一安裝架(3)上安裝有第一傳送裝置(31);第一傳送裝置(31)上設(shè)置有多個(gè)安裝槽(34),每個(gè)安裝槽(34)上均設(shè)置有一個(gè)檢測(cè)塊(33);第二傳送裝置(61)與第一傳送裝置(31)結(jié)構(gòu)相同,檢測(cè)塊(33)上設(shè)置有檢測(cè)孔(32);
控制板(1)設(shè)置在上安裝板(2)上,控制板(1)上設(shè)置有兩組驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(12),驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(12)的底部均設(shè)置有導(dǎo)向桿(14);導(dǎo)向桿(14)上設(shè)置有檢測(cè)探頭(7);導(dǎo)向桿(14)上穿插設(shè)置有導(dǎo)管(15),導(dǎo)管(15)的底部設(shè)置有套桿(16),套桿(16)的頂部與上安裝架的底部相接觸,套桿(16)的底部設(shè)置有檢測(cè)探頭(7);
檢測(cè)探頭(7)包括套管(73)、橫板(72)、限位板(76)和探針(77);橫板(72)固定安裝在套管(73)的外殼上,橫板(72)上設(shè)置有信號(hào)發(fā)射端(71);橫板(72)的底部豎直設(shè)置有第一導(dǎo)電片(74);探針(77)安裝在套管(73)上,探針(77)的一側(cè)設(shè)置有限位板(76),限位板(76)上設(shè)置有豎直的第二導(dǎo)電片(75);探針(77)的外周上設(shè)置有彈性件(78);彈性件(78)的頂部與套管(73)的底部固定安裝,彈性件(78)的底部與限位板的底部固定安裝;彈性件(78)沿著豎直方向上下伸縮;第二導(dǎo)電片(75)位于第一導(dǎo)電片(74)的正下方;第一導(dǎo)電片(74)與第二導(dǎo)電片(75)接觸傳遞電信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,上安裝板(2)與下安裝板(5)之間設(shè)置有多個(gè)用于支撐的支架(8)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,控制板(1)上設(shè)置有顯示數(shù)據(jù)的顯示模塊(11)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,第一傳送裝置(31)上設(shè)置有多個(gè)安裝槽(34),安裝槽(34)與進(jìn)行測(cè)試的量子芯片相適配。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,安裝槽(34)上設(shè)置有與量子芯片相接觸的觸點(diǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,安裝槽(34)的兩側(cè)均設(shè)置有凹陷部。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,第一傳送裝置(31)上設(shè)置有基座(36),基座(36)上設(shè)置有連接塊(37),連接塊(37)上設(shè)置有多個(gè)定位槽。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,檢測(cè)塊(33)的底部設(shè)置有多個(gè)接線柱(38),接線柱(38)配合插入連接塊(37)上的定位槽內(nèi)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,連接塊(37)上設(shè)置有傳遞數(shù)據(jù)的信號(hào)線(35)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可擴(kuò)展量子測(cè)試裝置,其特征在于,控制板(1)上設(shè)置有基板(13);導(dǎo)向桿(14)從基板(13)上穿過。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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